SIG系列
小光源近場光線分布測量系統(tǒng)

SIG-300
光源效率的精準模擬是需要經(jīng)過研制計算的，光學設計、裝置的設計選項、裝置的篩選和質(zhì)量控管以及亮度的設置，這些都需要經(jīng)過直接且的測量實際上的光源效率。SIG-300 是光源影像式角度機，其可采集并匯集光源周圍多角度面向的亮度及顏色測量，這些光信號會匯整至Radiant Source Model(RSM) 進一步分析出光源的效率，這些分析數(shù)據(jù)可用來提供光學設計上使用。
    SIG-300 透過堅固的機械設計、精準的光學配置及軟件控制來達到工業(yè)等級般的精準測量。SIG-300 可適用于一般大多數(shù)的光源，從LED 光源到中尺寸的光源測量，垂直方向或是水平方向的光源測
量皆適用，并且有微小影像分析、標準影像分析及微小視覺范圍可做選配。
    RSM 是光源近場效率刻劃顯示的工業(yè)標準模型，它有著豐富的信息，可提供亮度值及色坐標數(shù)值，還可保存所有測量的影像，并且能夠使用ProSource® 的功能使其更精準，產(chǎn)生更完整的射線組合用來提供光學設計用的原型，減少光學設計時不必要的時間。
    Radiant Imaging 提供完整全系列的光源影像式角度機，適用來量測LED 光源用的SIG-400 系列到大面積光源的SIG-310 系列機型。

特點 :
• 支持垂直光源及水平光源設置測量
• 提供亮度及顏色的近場測量模型
• 視覺范圍及分析的多光學結(jié)構(gòu)配置
• 用集成影像數(shù)據(jù)來產(chǎn)生RSM的模型
• 穩(wěn)定性高的LED光源及弧光光源精準測量模式
應用 :
• 測量待測光源所有角度近場光強度分布與色度
• 提供的射線組合提供光學設計套件軟件使用
• 提供光學設計與原型測試的近場模型

SIG-310
    光源近場亮度的精準測量和大面積光源的顏色分布需要精準的光學、機械和軟件設計的組合，架構(gòu)于Radiant Imaging 工業(yè)等級的SIG-300 及SIG-400 系統(tǒng)的設計上，SIG-310 系列實現(xiàn)高階的色度計，堅固的機械結(jié)構(gòu)配置讓此系統(tǒng)能夠更更穩(wěn)定的量測，搭配容易使用的控制軟件，SIG-310 可以廣泛的適用于各種測量應用，不論是垂直光源的配置或是水平光源的配置皆可適用。
    SIG-310 利用多視角來采集大面積光源亮度及色度的影像空間結(jié)構(gòu)來產(chǎn)生高準確的近場模型。記錄在工業(yè)標準的Radiant Source Model(RSM) 格式內(nèi)，這些數(shù)據(jù)使用ProSource® 軟件功能，可提供詳細的數(shù)據(jù)分析及數(shù)據(jù)輸出給大多數(shù)主要的光學設計套件，更的近場模型量測能產(chǎn)生更
精準的射線配置而得到更好的光源系統(tǒng)設計。
    SIG-310適用于一般光源的測量，可用于研發(fā)或產(chǎn)品特性的測量。

• 大面積光源優(yōu)化測量
• 支援垂直光源及水平光源設置的測量
• 提供亮度及色度的近場模型
• 多樣光學結(jié)構(gòu)配置強化視野范圍及分辨率
• 采用集成影像數(shù)據(jù)產(chǎn)生RSM模型
應用 :
• 測量大面積待測光源所有角度近場光強度分布
• 測量大面積光源近場色度分布等特性
• 提供的射線組合提供光學設計套件軟件使用

SIG-400
    因應LED 組件及光源應用的迅速成長，對于LED 組件及光源的發(fā)展研制、估算及光學設計來說，準確的LED 模型效能是必須的，這可透過低成本的方式來選擇組件設計、質(zhì)量控制以及發(fā)光效率的設計等應用。
    SIG-400 是光源影像式角度機，可采集和整理LED 光源或相似的小面積光源的多角度亮度及色度值，精準的刻劃出實際的光效率。匯總?cè)隦adiant Source Model(RSM) 的數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)可進一步做光效率的分析和光學設計中射線的配置。
    SIG-400 是對LED 光源的優(yōu)化測量系統(tǒng)，可減少系統(tǒng)的體積及降低成本，并簡化測量的工序；此外，也提供了多樣化的選配，如像素的分辨率、微觀視野、標準視野、巨觀視野的范圍選擇。
    SIG-400 透過堅固的機械結(jié)構(gòu)設計、精準的光學配置以及軟件控制，使其成為業(yè)界等級的準確量測系統(tǒng)，SIG-400 在測量整個待測件的時后能夠精準的定位到待測件的中心點，經(jīng)測試后不超過15 微米，當量測LED 裸片時可讓測量錯誤降到zui小。

特點 :
• LED芯片、顆粒及組件的優(yōu)化測量系統(tǒng)
• 多樣光學結(jié)構(gòu)配置強化視野范圍及分辨率
• 提供亮度及色度的近場模型
• 用集成影像數(shù)據(jù)來產(chǎn)生RSM模型
應用 :
• 測量LED或是小面積光源所有角度近場光強度分布
• 測量LED或是小面積光源近場色度分布
• 提供光學設計與原型測試的近場模型