納米粒度與Zeta電位分析儀

NanoPlus是*的利用光子相關(guān)光譜法和電泳光散射技術(shù)測量粒度、Zeta電位和分子量的儀器。該儀器結(jié)構(gòu)緊湊、易于使用、分析范圍廣、帶有交互式軟件和多個樣品池，滿足不同用戶的應用。

高濃度Zeta電位測試

       按常規(guī)方法，由于多重散射（A）現(xiàn)象和透光性問題，我們不能正確測量濃懸浮液的散射光。FST是通過透明電極改變散射光方向從而檢測散射光的一種新方法。其檢測光路徑很短，減少了多重散射的影響。因此，NanoPlus可以測定0.00001%到40%高濃懸

浮液的Zeta電位。

真實電泳遷移率的測定

       當測量電泳時，樣品池壁上的電荷會導致電滲。當樣品池壁帶負電荷時，帶正電荷的離子和粒子被吸引，聚集在池壁周圍。池壁周圍的液體將向負極方向運動，樣品池中心的液體向相反的方向（正極）運動。

在電泳過程中產(chǎn)生的電滲會干擾電泳遷移率的正確測量。 NanoPlus檢測樣品池中多個點的電泳遷移率以獲得在不受電滲影響的靜止層處的電泳遷移率。即使是在樣品吸附或者沉淀造成的不對稱電滲的條件下，也能獲得高精度的電泳遷移率。

寬粒度測試范圍

       測量懸浮液樣品粒度范圍：0.1nm-12.3μm，濃度范圍0.00001%-40%，分子量zui小到250道爾頓，雙相關(guān)器，提供高靈敏度多種樣品的測試。

多種樣品池
      提供多種樣品池用于納米粒度與Zeta電位的測試，包含固體平表面樣品池用于涂層、薄膜和處理過的玻璃。

服務(wù)方式支持：通過或傳真形式，將安排專業(yè)技術(shù)人員在規(guī)定時間內(nèi)對設(shè)備故障定位，并拿出解決方案，zui終排除故障； 現(xiàn)場支持：通過不能診斷的故障，將安排工程師赴現(xiàn)場分析原因，制定方案，排除故障。服務(wù)承諾 服務(wù)響應及時 解決問題有效 服務(wù)過程規(guī)范 服務(wù)內(nèi)容全面