HCDH-III 介質(zhì)材料耐電弧測(cè)量?jī)x
- 公司名稱 北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
- 品牌 HUACE/北京華測(cè)
- 型號(hào) HCDH-III
- 產(chǎn)地 北京市海淀區(qū)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/1/2 13:09:15
- 訪問(wèn)次數(shù) 3481
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功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。
| 電動(dòng)機(jī)功率 | /kW | 外形尺寸 | /mm |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 農(nóng)林牧漁,能源,電子/電池,電氣,綜合 | 重量 | /kg |
介質(zhì)材料耐電弧測(cè)量?jī)x
儀器是根據(jù)GB 1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗(yàn)方法》、IEC 61621及ASTM D495設(shè)計(jì)、制造的，并符合JEC 149、UL 746A等試驗(yàn)方法。本儀器是在相距6.35mm的兩鎢棒電極上，由間隙到連續(xù)施加12500Ｖ電壓和10～40mA工頻的電弧電流，使試樣表面經(jīng)受逐漸 燃弧條件，從而較細(xì)地分辨出材料的耐電弧性，以從電弧產(chǎn)生至材料破壞所經(jīng)過(guò)的全部時(shí)間作為評(píng)定結(jié)果。
介質(zhì)材料耐電弧測(cè)量?jī)x符合標(biāo)準(zhǔn)：
●《GB/T 1411-2002 干固體絕緣材料 耐高電壓、小電流電弧放電的試驗(yàn)》
●ASTM D495-1999(2004) Standard Test Method for High-Voltage,Low-Current,Dry Arc Resistance of Solid E lectrical Insulation》
● IEC 61621-1997 Dry,Solid Insulating Materials. Resistance Test to High-Voltage,Low-Current Arc
Discharges Materiaux Isolants Solides Secs. Essai De Resistance Aux Decharges A L′Arc Haute
Tension,Faible Courant First Edition》
●IPC-TM-650、JEC149、UL746A等試驗(yàn)方法
優(yōu)勢(shì):
采用PLC系統(tǒng)，光電隔離、穩(wěn)定；
瞬間抑制浪涌對(duì)控制系統(tǒng)的沖擊
多級(jí)循環(huán)電壓采集技術(shù)、保證試驗(yàn)測(cè)試精度；
●多級(jí)循環(huán)采集技術(shù)：
華測(cè)自主開發(fā)的多級(jí)循環(huán)電壓采集方式，大大提高目前電弧試驗(yàn)普遍采用手動(dòng)及干擾狀態(tài)下電壓及電流采集方式。
●低通濾波監(jiān)測(cè)技術(shù):
材料耐電弧試驗(yàn)在10-40mA電流下進(jìn)行，電磁干擾不僅影響試驗(yàn)精度，同時(shí)也造成通訊中斷等一系列問(wèn)題。
為好解決這一難題，華測(cè)將低通濾波技術(shù)在電弧試驗(yàn)儀器運(yùn)用。
●遠(yuǎn)程技術(shù)：
將遠(yuǎn)程技術(shù)在電弧試驗(yàn)儀上應(yīng)用，試驗(yàn)人員可遠(yuǎn)距離控制，同時(shí)可通過(guò)互聯(lián)網(wǎng)進(jìn)行在線診斷、升壓、維護(hù)等一系列問(wèn)題。
軟件功能：
●操作系統(tǒng)：支持XP，win7,win8系統(tǒng)，操作人性化；
●數(shù)據(jù)導(dǎo)出：試驗(yàn)結(jié)果方便導(dǎo)出。
●實(shí)驗(yàn)報(bào)告：自定義報(bào)告名稱，并對(duì)實(shí)驗(yàn)報(bào)告進(jìn)行打?。?/p>
●試驗(yàn)方式：手動(dòng)試驗(yàn)、自動(dòng)試驗(yàn)；
●試驗(yàn)方法：IEC ASTM多種選擇；
●參數(shù)設(shè)置：可以根據(jù)不同的試驗(yàn)方式及試驗(yàn)方法靈活設(shè)置所需的不同參數(shù)值
●功能：可針對(duì)設(shè)備進(jìn)行設(shè)置；
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