JEA系列紫外碳化硅SiC光電探測器（190nm-400nm）

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產(chǎn)品標(biāo)簽

IFW 紫外探測器碳化硅 SiC

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公司介紹 主營產(chǎn)品

西安立鼎光電科技有限公司是一家專業(yè)從事短波紅外成像系統(tǒng)及光電測試裝備的研發(fā)生產(chǎn)、系統(tǒng)集成、銷售服務(wù)為一體的高新技術(shù)企業(yè)。公司專注于為客戶提供從元件、組件、部件到全套光電系統(tǒng)產(chǎn)品的完整解決方案。

近年來，公司研制的短波紅外成像系統(tǒng)在激光光斑檢測、半導(dǎo)體檢測、激光通信、光譜成像、激光切割、生物醫(yī)療、天文觀測、安防、星敏感器、激光制導(dǎo)、反偵聽、激光測振等領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。

多年來，根據(jù)用戶需求定制的多款光電測試裝備，為用戶產(chǎn)品的性能指標(biāo)保證發(fā)揮了重要作用，得到了客戶的高度認可。

展開

全波段光電探測器（0.2-26um），短波紅外相機(0.9-1.7um)，紅外熱像儀，微光夜視儀，成像機芯(0.9-1.7um/3-5um/8-14um)，EMCCD/SCMOS相機，光功率計/能量計，光譜分析儀，光纖滑環(huán)，激光器，激光測距機

紫外碳化硅SiC光電探測器（190nm-400nm）

一、JEA系列單獨封裝探測器：

1、JEA系列SiC探測（可選擇耐高溫至150℃）

注：以上探測器的工作溫度是-45℃至100儲存溫度是-40℃至100℃，焊接溫度是260℃。

紫外碳化硅SiC光電探測器（190nm-400nm）

二、JEA系列帶濾光片的SiC探測器：

Detector Model Number	Active area (mm2)	Spectral range (nm)	Reverse voltage (V)	Peak wavelength (nm)	Spectral responsivity (A/W) Typ	Dark current (fA)	Capacita-nce (pF)	Height of package H （mm）	Fieldof view (FOV) degree
JEA0.1C (TO5)	0,365x0,365	225-280	10	265	0.18	10	30	4.5	+/-45
JEA0,1BC (TO5)		228-322		275	0.19			4.5	+/-45
JEA 0.1B (TO5)		265-322		300	0.12			6.8	+/-45
JEA 0.1C-S (TO18)	0,365x0,365	220-280		265	0.18	10	30	5.2	+/-25
JEA0,1BC-S(TO18)		228-322		275	0.19				+/-25
JEA 0.1B-S (TO18)		265-322		300	0.12				+/-25
JEA1C (TO)	1*1	225-280		265	0.18	10	30	4.5	+/-45
JEA1BC (TO)		228-322		275	0.19			4.5	+/-45
JEA1B (TO)		265-322		300	0.12			6.8	+/-45
JEA2C (TO)	1.415*1.415	225-280		265	0.18	200	400	4.5	+/-45
JEA2BC (TO)		228-322		275	0.19			4.5	+/-45
JEA2B (TO)		265-322		300	0.12			6.8	+/-45