代理牛津CMI500孔銅測厚儀、CMI165面銅測厚儀，CMI700孔面銅測厚儀，牛津ETP孔銅探頭，美國博曼X射線鍍層測厚儀，牛津鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)片，牛津膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片，國產(chǎn)線路板阻抗測試儀，milum MM610孔銅測試儀，Milum孔銅測厚儀探頭等產(chǎn)品。
美國博曼膜厚儀BA-100
博曼膜厚儀可應(yīng)于含無鉛焊錫在內(nèi)的合金電鍍或多層電鍍的測量，應(yīng)用范圍廣泛。
利用Microsoft的Office操作系統(tǒng)可將檢測報告工作之便簡單快速地打印出來。
只需輕輕按一下激光對焦按鈕，就可自動進(jìn)行對焦。對于測量有高低差的樣品時，配置了為防止樣品和儀器沖撞的自動停止功能。
博曼膜厚儀主要基于核心控制軟件的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。采用全新數(shù)學(xué)計算方法,采用FP（Fundamental Parameter）、DCM （Distenco ControlledMeasurement）及強(qiáng)大的電腦功能來進(jìn)行鍍層厚度的計算，在加強(qiáng)的軟件功能之下，簡化了測量比較復(fù)雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標(biāo)準(zhǔn)片之下，一樣精準(zhǔn)測量。
產(chǎn)品描述：
美國博曼膜厚儀（Bowman）Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供準(zhǔn)確、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。
Bowman BA-100 Optics 機(jī)型采用*的的多孔毛細(xì)管光學(xué)聚焦裝置，有效縮小測量點斑點的同時，可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強(qiáng)度。
Bowman BA-100 Optics 機(jī)型配備大面積的SDD（硅漂移探測器），有效拓展元素分析范圍，適應(yīng)嚴(yán)格的微區(qū)、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。
優(yōu)秀的測試性能、突出的微區(qū)測量能力，Bowman BA-100 Optics機(jī)型是研究開發(fā)、質(zhì)量管控的XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。
穩(wěn)定的X射線管
● 微聚焦50瓦Mo靶射線管（其它靶材可選）; 小于100um的測量斑點
● 射線出射點預(yù)置于射線管Be窗正*
● 長壽命的射線管燈絲
● *的預(yù)熱和ISO溫度適應(yīng)程序
多毛細(xì)管聚焦光學(xué)結(jié)構(gòu)
● 顯著提高X射線信號強(qiáng)度
● 獲得較準(zhǔn)直器機(jī)型數(shù)倍乃至數(shù)十倍的信號強(qiáng)度
● 小于100um直徑的測量斑點
● 經(jīng)過驗證，接近*的測量精度
博曼膜厚儀分析：
元素范圍：鋁13到鈾92。
x射線激發(fā)能量：50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管
探測器：硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率
測量的分析層和元素：5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達(dá)25元素
過濾器/準(zhǔn)直器：4個初級濾波器,4個電動準(zhǔn)直器（0.1 0.2 0.3 1.5mm）
聚焦:多固定聚焦與激光系統(tǒng)
數(shù)字脈沖處理:4096 多通道數(shù)字分析器與自動信號處理，包括X射線時間修正和防X射線積累
電腦:英特爾酷睿i5 3470處理器(3.2 ghz),8 gb DDR3內(nèi)存,微軟Windows 7專業(yè)64位等效
鏡頭:1/4 " cmos - 1280 x720 VGA分辨率
電源:150 w、100 ~ 240伏,頻率范圍47赫茲到63赫茲
工作環(huán)境:50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98% RH,無冷凝水
重量:32公斤
內(nèi)部尺寸:高:140毫米(5.5“),寬:310毫米(12),深:210毫米(8.3”) 140*310mm
外形尺寸:高:450毫米(18英寸),寬:450毫米(18),深:600毫米(24) 450*450mm
博曼膜厚儀主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細(xì)表面積或超薄鍍層的測量。博曼膜厚儀采用真正的基本參數(shù)原理（FP）來測量厚度。
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