（半導體激光）塵埃粒子計數(shù)器型號：CLJ-E

（半導體激光）塵埃粒子計數(shù)器

該系列儀器的技術指標均滿足國家計量總局頒布的 JJF1190-2008檢定規(guī)程的要求，整機功能采用美國微電腦控制處理技術及**的SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵，可直接打印檢測結果。具有功能多、測量精度高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點。儀器一次采樣可同時測得多種粒徑的塵埃粒子數(shù)，并能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數(shù)目及其變化情況，對于研究、檢測和評價各種潔凈環(huán)境都十分方便。該系列儀器性能設計**、質(zhì)量穩(wěn)定可靠 
　　該系列產(chǎn)品已被廣泛應用于潔凈室檢測；過濾器現(xiàn)場檢測、撿漏；可監(jiān)測超凈工作臺、生物安全柜，HVAC系統(tǒng)，計算機室、飲料包裝環(huán)境，醫(yī)療器械生產(chǎn)環(huán)境，醫(yī)院潔凈手術室，汽車噴涂環(huán)境微電子、制藥、生化制品、食品衛(wèi)生、精細化工、精密機械和航空航天等生產(chǎn)和科研部門

主要技術參數(shù)及性能： 

1.光源: 全半導體 激光光源，進口二**管激光器 

2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min) 

3.檢測范圍: 100級～30萬級 

4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L 

5.粒徑通道: 0.3  0.5  1.0  3.0   5.0  10.0（μm）六檔 
6.顯示或打印可將2.83升/分內(nèi)所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數(shù)。 

7.采樣周期: 1～10 (min) 

8.自凈時間: ≤15 (min) 

9.校準：可追溯美國國家標準技術協(xié)會（NIST），我公司已通過國家計量建標考核，可追溯至上海計量測量技術研究院可自行進行校準或第三方國家計量機構進行校準 

10.工作環(huán)境: 溫度:10～35℃    相對溫度: 20～75%RH 

11.**大功耗: 25W 

12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購） 

（1）         溫度：0～50℃±1℃ 

（2）         濕度：0～100%RH±5% 

13.采樣點數(shù)   2～7點設定 

14.每點采樣次數(shù)   2～9次設定 

15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準 

16.工作時間：8 小時 

17.電源： AC220V±10%    50±2Hz 

18.重量:4.8kg 

19.外形尺寸: 260×130×340 

20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數(shù)字顯示或自選粒徑顯示。 

21.備注: 內(nèi)置打印機、自動判斷凈化等級、等動力采樣頭、采樣架