CETR-Apex Bruker微納壓痕測(cè)試儀CETR-Apex
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱(chēng) 北京亞科晨旭科技有限公司
- 品牌 微納顆粒
- 型號(hào) CETR-Apex
- 產(chǎn)地 美國(guó)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/9/25 11:42:24
- 訪問(wèn)次數(shù) 1205
產(chǎn)品標(biāo)簽
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布魯克的摩擦測(cè)試設(shè)備，居于世界ling dao者地位，成為摩擦學(xué)和機(jī)械性能測(cè)試的標(biāo)桿，能在各種環(huán)境條件下執(zhí)行多重檢測(cè)，獲取納米級(jí)、微米級(jí)以及宏觀尺度上材料的摩擦和機(jī)械性能數(shù)據(jù)。目前，全球有上千臺(tái)設(shè)備成功安裝并投入使用，進(jìn)行材料基本性能的測(cè)試，尤其在薄膜研究以及工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量監(jiān)控方面。
應(yīng)用：
微納壓痕劃痕測(cè)試儀CETR-Apex，是一款多功能微米、納米機(jī)械性能測(cè)試平臺(tái)。性能，操作簡(jiǎn)易。納米壓頭用來(lái)測(cè)量超薄涂層尤其是納米級(jí)涂層以及塊體材料的厚度、硬度、楊氏模量等。微米壓頭用于較厚涂層和塊體材料的硬度、楊氏模量等機(jī)械性能測(cè)量。納米、微米級(jí)摩擦學(xué)壓頭用于薄膜、涂層以及塊體材料的摩擦磨損測(cè)量、靜態(tài)/動(dòng)態(tài)摩擦學(xué)測(cè)量、耐用度、附著力，粘滑性等機(jī)械性能測(cè)量。微納壓痕測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域：
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特征：
- CETR-Apex三個(gè)測(cè)量探頭
- 左側(cè)：機(jī)械性能測(cè)試，可以簡(jiǎn)便更換納米、微米壓頭；
- 中部：顯微鏡，多達(dá)4個(gè)不同放大倍數(shù)的物鏡，隨意切換；
- 右側(cè)：掃描成像，AFM和三維光學(xué)輪廓儀隨意切換。
- 六種機(jī)械壓頭
- 納米壓痕壓頭
- 納米劃痕壓頭
- 微米壓痕壓頭
- 微米劃痕壓頭
- 毫米劃痕壓頭
- 納米、微米級(jí)摩擦學(xué)壓頭
- 可供選擇的模塊與軟件
- 原位成像模塊
- 摩擦學(xué)測(cè)試&機(jī)械性能測(cè)試分析軟件
- ASTM/DIN/ISO的標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證---Apex適用于 多重認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)：
- ASTM E2546 納米壓痕檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 14577 儀器壓痕硬度檢測(cè)
- ASTM C1624 陶瓷涂層的附著力和機(jī)械性能實(shí)效檢測(cè)
- ASTM G171 材料化劃痕硬度檢測(cè)
- ASTM E384 材料微米尺度的壓痕硬度檢測(cè)
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