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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>無損檢測>其它無損檢測儀器/設備>B1S-EN B1S B2S B2.25SE 美國GE保護膜探頭

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B1S-EN B1S B2S B2.25SE 美國GE保護膜探頭

具體成交價以合同協議為準

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京海興樂科技(北京)有限公司

公司主要提供UT(超聲)MT(磁粉)PT(滲透)RT(射線)等設備及周邊耗材

主要經營品牌:美國奧林巴斯OLYMPUS(原泛美)、美國GE(原德國KK)、美國磁通Magnaflux

超聲電子、SIUI、瑞典蘭寶、美國SP公司、美國達高特、德國MR、英國易高、新美達、船牌、等等

提供的無損檢測儀器設備主要有超聲波探傷儀、相控陣探傷儀、超聲波測厚儀、TOFD探傷儀、超聲波探頭、相控陣探頭、渦流探傷儀、渦流探頭、渦流陣列探傷儀、磁粉探傷儀、磁粉、紫外線燈、照度計、工業(yè)掃查器、航空航天檢測系統(tǒng)、著色滲透劑、熒光滲透線、工業(yè)內窺鏡、工業(yè)顯微鏡、光譜(合金)分析儀、工業(yè)X光機、工業(yè)CT、CR、DR、工業(yè)洗片機、管材的無損檢測解決方案、復合材料超聲波自動化檢測、超聲波板材/管材檢測系統(tǒng)、大型壓力容器超聲波檢測系統(tǒng)、汽車點焊超聲波檢測設備,以及其它各類型分析檢測儀器。

長期以來,依托高素質的技術人員和銷售隊伍,本著誠信守法,客戶*的經營原則,以良好的信譽、豐富的經驗、周到的服務,為客戶提供了*的檢測設備及技術解決方案,贏得了國內外廣大用戶的信賴和好評。我們提供的設備、系統(tǒng)及方案應用于中國的各種*工業(yè)領域,

用戶行業(yè)包括航空航天,核能電力,船舶制造,海洋石油,石油化工,機械制造,鐵路交通,進口商檢,技術監(jiān)督,高校及研究機構等。依托高素質的技術人員和銷售隊伍,本著守法,誠信,客戶*的經營原則,公司以良好的信譽,周到的售前和售后服務,贏得了廣大用戶的信賴和好評。

超聲波探傷儀,磁粉探傷儀,黑光燈,探傷劑,膠片,硬度計,測厚儀,輻射儀,照度計等等

產地類別 進口 價格區(qū)間 面議

B1S-EN B1S B2S B2.25SE美國GE保護膜探頭

歐規(guī)接觸法直探頭

B1S-EN B1S B2S B2.25SE美國GE保護膜探頭京海興樂科技(北京)有限公司公司主要提供UT(超聲)MT(磁粉)PT(滲透)RT(射線)等設備及周邊耗材
主要經營品牌:美國奧林巴斯OLYMPUS(原泛美)、美國GE(原德國KK)、美國磁通Magnaflux
汕超(汕頭超聲)、瑞典蘭寶、美國SP公司、美國達高特、英國易高、新美達、德國MR、船牌、等等

歐規(guī)接觸法直探頭

應用

用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷

鍛件、鑄件

金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、機器零件、殼體

特點

縱波單晶探頭

適合DGS缺陷評判

性能參數誤差小,適合高精度檢測

可更換保護膜,保護探頭不被磨損

柔性保護膜,即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合

合金壓鑄殼體,堅固耐用

用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊(定制產品)

接觸法直探頭,帶保護膜

直探頭要用于手動檢測。應用接觸法探傷時,需要在測量區(qū)域或多個測量區(qū)域涂上薄薄的一層耦合劑,然后直接將探頭放置在被測物體表面進行檢測。接觸法探傷將探頭分別放置在各檢測點逐點檢測,或者在被測物體表面連續(xù)移動探頭來完成的。

接觸法直探頭帶保護膜探頭

應用

•   一般檢測目的, 簡單形狀的大零件

•   鍛件, 鑄件

•   板材, 棒材, 方型材

•   容器, 機器零件, 殼體

•   高溫檢測時帶延遲塊

性能特征

•   歐款有可更換膜:

- 在不平整和曲面上增進耦合

- 延長探頭壽命

- 適于DGS缺陷評定

- 可連接高溫延遲塊

- Lemo 1(B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接端口, 標準為側裝, 頂裝可選

•   美款有三種類型的保護:

- 膜可以在不平整和曲面上增進耦合.

- 耐磨帽定期更換可*延長探頭壽命

- 高溫延遲塊可以實現  00°F (  00°C)表面檢測.

- BNC 連接端口, 頂裝或側裝

帶保護膜探頭歐洲規(guī)格

9.png

B..S 和 MB..S 型

0,5μS/Div 0-4MHz典型波形和頻譜

外殼類型

A

B

C

mm

in

mm

in

mm

in

類型2

30

1.18

59

2.32

45

1.69

類型3

20

0.79

43

1.77

25

0.98

 

類型

訂購號碼

D

f

N

備注

mm

in

(MHz)

mm

in

B1S

57744

24

0.94

1

23

0.9

 

B1S-EN

500035

24

0.94

1

23

0.9

符合 DIN EN 12668-2

B1S-O

57755

24

0.94

1

23

0.9

頂端接口

B2S

57745

24

0.94

2

45

1.8

 

B2S-EN

500036

24

0.94

2

45

1.8

符合 DIN EN 12668-2

B2S-O

57756

24

0.94

2

45

1.8

頂端接口

B2S-O-EN

500267

24

0.94

2

45

1.8

符合 DIN EN 12668-2

頂端接口

B4S

57746

24

0.94

4

88

3.5

 

B4S-EN

500037

24

0.94

4

88

3.5

符合 DIN EN 12668-2

B4S-O

57757

24

0.94

4

88

3.5

頂端接口

B4S-O-EN

500268

24

0.94

4

88

3.5

符合 DIN EN 12668-2

頂端接口

B5S

57747

24

0.94

5

110

4.3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

MB2S

57748

10

0.39

2

8

0.3

 

MB2S-EN

500038

10

0.39

2

8

0.3

符合 DIN EN 12668-2

MB2S-O

57975

10

0.39

2

8

0.3

頂端接口

MB4S

57749

10

0.39

4

16

0.6

 

MB4S-EN

500039

10

0.39

4

16

0.6

符合 DIN EN 12668-2

MB4S-O

57976

10

0.39

4

16

0.6

頂端接口

MB5S

57750

10

0.39

5

20

0.8

 

MB5S-O

57977

10

0.39

5

20

0.8

頂端接口

可定制特殊規(guī)格

附件

描述

類型

備注

保護膜

(1套=10片)

ES45(53756)

ES24(53769)

用于B..S;

用于MS..S

延遲塊或斜塊

特殊訂單

如用于高溫檢測

電纜線

PKLL2(50326)

MPKL2(50486)

用于B..S;

用于MS..S

帶保護膜探頭—北美規(guī)格

10.png

晶片尺寸

A

B

C

mm

in

mm

in

mm

in

mm

in

13

0.5

19.1

0.75

30.5

1.2

23.9

0.94

19

0.75

25.4

1

30.5

1.2

30.2

1.19

25

1

31.8

1.25

30.5

1.2

36.6

1.44

帶保護膜探頭—PFCR (側裝BNC), PFCS (頂裝BNC)

頻率

晶片尺寸Ø

訂購號碼

頻率

晶片尺寸Ø

訂購號碼

(MHz)

mm

in

Gamma 系列PFCR

Gamma 系列PFCR

(MHz)

mm

in

Gamma 系列PFCR

Gamma 系列PFCR

1

13

0.5

241-240

241-260

3.5

13

0.5

243-240

243-260

19

0.75

251-240

251-260

19

0.75

253-240

253-260

25

1

261-240

261-260

25

1

263-240

263-260

2.25

13

0.5

242-240

242-260

5

13

0.5

244-240

244-260

19

0.75

252-240

252-260

19

0.75

254-240

254-260

25

1

262-240

262-260

25

1

264-240

264-260

注意: 備用保護膜套裝另售. 可訂制特殊規(guī)格

備用保護膜套裝—PFCR/PFCS

套裝類型

訂購號碼

探頭晶片尺寸Ø

.5in

.75in

1.00in

(13mm)

(19mm)

(25mm)

PM

118-450-120

118-450-140

118-450-160

PWC

118-450-220

118-450-240

118-450-260

PHTD-1.0in(25.4mm)延遲塊

118-450-320

118-450-340

118-450-260

PHTD-1.5in(38.1mm)延遲塊

118-450-420

118-450-440

118-450-460

PM型工具包包括一個滾花環(huán)、壓緊螺母、扳手、12片薄膜和一瓶2盎司的耦合劑(不包括探頭) 。

PWC型工具包包括一個滾花環(huán)、三個防磨帽和一瓶2盎司的 耦合劑(不包括探頭) 。如果對近表面分辨率要求很高,則不能采用該選項。

PHTD型工具包包括一個滾花環(huán)、一個1英寸或1.5英寸長的高溫延遲塊和一瓶2盎司的耦合劑 (不包括探頭) 。

 

訂購號碼

探頭晶片尺寸Ø

.5in

.75in

1.00in

(13mm)

(19mm)

(25mm)

保護膜 每包12片

118-220-020

118-220-021

118-220-022

耐磨帽 每包12個

118-240-123

118-240-122

118-240-121

高溫延遲塊*長1.0in(25.4mm)

118-440-027

118-440-031

118-440-035

高溫延遲塊*長1.5in(38.1mm)

118-440-029

118-440-033

118-440-037

BNC 電纜線

118-140-016

保護膜,耐磨帽 以及延遲塊 耦合劑

118-300-740

*高溫(PHTD)延遲塊:zui高溫度400F,zui大接觸時間為10秒;重新使用前冷卻到環(huán)境溫度。

探頭選擇準則與性能

直探頭---單晶

1.png

•   被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面

•   接觸面或平或曲

•   缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測

•   適于穿透厚部件

•   延遲塊用以提高近場分辨率

•   需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊

•   通常用于手動檢測

直探頭---雙晶

2.png

•   接受發(fā)射單元用串擾擋板分開

•   缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測

•   近表面分辨率好,用于較薄部件

•   需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊

•   通常用于手動檢測

斜探頭

3.png

•   晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上

•   利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播

•   大多數標準探頭通過模式轉換

•   適于傾斜缺陷的檢測,如焊縫

•   有單晶探頭和雙晶探頭

•   需要耦合層,一般為凝膠,油類

•   有時用于機械化或自動化檢測

水浸探頭

•   在水中匹配好,效率高

•   適于具有不規(guī)則表面的被檢測件

•   通常用于機械化或者自動化檢測

•   耦合*性好,檢測重復性高

•   大型零件可以采用探頭架, 溢流法或者水射流法

•   探頭聚焦可以增進效果

聚焦的優(yōu)點

4.png

•   球面聚焦形成點狀

•   柱面聚焦形成線狀

聚焦優(yōu)勢

5.png

探頭選擇準則歐洲規(guī)格

按照歐洲標準生產的探頭, 本目錄提供的技術性能信息依照下表定義。

絕大多數的探傷儀探頭都免費提供全面的性能數據表。

性能參數

解釋

晶片尺寸 D 或 a×b

探頭晶片的直徑D或長度×寬度a×b。它的尺寸大小對聲波的傳輸有極大的影響。輕微的偏差,如形狀的偏差,或粘接不良造成的位置偏差而產生的聲能衰減,即使是利用參考缺陷進行標定,都將產生嚴重的評估誤差。

標稱頻率f

所有相同類型探頭的均值頻率,頻率對反射體的評定有極大的影響。對斜反射體,頻率甚至影響聲場波形和反射特性。隨著頻率的增加,非垂直反射體對聲束的反射回波減小。這就是為什么每一個探頭都要由我們的質量控制部門根據鑒定標準進行嚴格檢測,以確定其頻率是否與標稱頻率相*,保證在一定的誤差范圍內。這個數據輸入到探頭的數據參數表。

帶寬B

脈沖回波的幅值比zui高幅值下降   dB之間的頻率范圍。B=fo-fu/fx 100%   fo=幅值下降  dB的上限頻率,fu=幅值下降   dB的下限頻率,f為標稱頻率。例如,當B=100%,一個4MHz的探頭的fo為6MHz,而fu為2MHz。大的帶寬意味著更短的脈沖回波,也就意味著高的分辨率和更好的穿透能力,因為低頻脈沖比標稱頻率脈沖的衰減小。在高衰減情形下,與標稱頻率相比,隨著距離的增加,反射信號的頻率減小。這一點在進行缺陷評估時必須要加以考慮。因此每一個探頭的帶寬都要進行檢查,并且與所有探頭的平均值相*,保證在一定的誤差范圍內。

焦距F

F:小缺陷產生zui大回波時探頭到小缺陷的距離。探頭要進行聚焦以便探測小缺陷并得到zui大的回波
幅值,只有在探頭的近場才可能聚焦。

近場長度N

近場長度N是非聚焦探頭的焦距長度,它是聲軸線上能得到聲壓極大值的zui遠距離。N的大小由D、c和f來決定。由于D>>λ,所以:N=Deff/4λ=Deffxf/4c其中λ為波長,c為聲速,Deff是單元有效直徑焦點處和近場長度處聲能zui為集中,反射體zui易識別。因此重要測試場合一般預期缺陷在焦距或近場長度處。表中的數據對鋼材而言,而水浸探頭為水。

焦點直徑FD

在焦距或近場長度附近,聲壓值比主聲軸下降  dB處到主聲軸的距離

脈沖形狀

來自于平面反射面的信號表述。

頻譜

回波脈沖中所有頻率的顯示,頻率幅值在頻率上顯示。

聲束角度β

主聲束與檢測面法線之間的夾角

探頭選擇準則北美規(guī)格

根據北美標準生產, 通用電氣檢測科技提供三種系列的探頭: Alpha, Benchmark, 和Gamma系列。根據ASTME-0,對所有探傷儀所用探頭免費提供波形和頻率證書。

Alpha 系列特性

6.png

•   推薦用于分辨率是首要考慮目標的場合.

•   適于測厚和近表面缺陷測量.

•   脈沖短—機械衰減大到目前技術極限.

•   增益通常低于Benchmark和Gamma系列.

•   寬帶—6dB 帶寬范圍從50% 到100%.

•   依據頻率,尺寸和其他參數,典型的Alpha 系列波形(右)有一到兩個周期振蕩。

Benchmark 系列特性

7.png

•   產品BENCHMARK COMPOSITE®(壓電復合材料)晶片

•   在衰減材料中的穿透力遠高于傳統(tǒng)探頭。

•   在粗晶,纖維增強復合等材料中信噪比高。

•   脈沖短—分辨率通常高于Gamma系列。

•   增益通常高于Gamma和Alpha系列。

•   超寬帶—6dB 帶寬范圍從60% 到120%.

•   低聲阻抗晶片提高了斜探頭、延遲式探頭和水浸探頭的性能—與塑料和水可以*地匹配。

Gamma 系列特性

8.png

•   通用型探頭,推薦用于大多數應用。

•   中等脈沖寬度, 中等阻尼—增益和分辨率的*結合.

•   匹配電路在常用場合確保了zui大增益和理想的波形.

•   中等帶寬—典型的6dB帶寬從30% 到50%.

•   依據頻率,尺寸和其他參數,典型的Gamma系列波形有三到四個周期振蕩。



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