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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>無損檢測>其它無損檢測儀器/設(shè)備>MB4S B4S B5S B1S-O B2S-O ?美國GE保護(hù)膜探頭

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MB4S B4S B5S B1S-O B2S-O ?美國GE保護(hù)膜探頭

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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京海興樂科技(北京)有限公司

公司主要提供UT(超聲)MT(磁粉)PT(滲透)RT(射線)等設(shè)備及周邊耗材

主要經(jīng)營品牌:美國奧林巴斯OLYMPUS(原泛美)、美國GE(原德國KK)、美國磁通Magnaflux

超聲電子、SIUI、瑞典蘭寶、美國SP公司、美國達(dá)高特、德國MR、英國易高、新美達(dá)、船牌、等等

提供的無損檢測儀器設(shè)備主要有超聲波探傷儀、相控陣探傷儀、超聲波測厚儀、TOFD探傷儀、超聲波探頭、相控陣探頭、渦流探傷儀、渦流探頭、渦流陣列探傷儀、磁粉探傷儀、磁粉、紫外線燈、照度計、工業(yè)掃查器、航空航天檢測系統(tǒng)、著色滲透劑、熒光滲透線、工業(yè)內(nèi)窺鏡、工業(yè)顯微鏡、光譜(合金)分析儀、工業(yè)X光機、工業(yè)CT、CR、DR、工業(yè)洗片機、管材的無損檢測解決方案、復(fù)合材料超聲波自動化檢測、超聲波板材/管材檢測系統(tǒng)、大型壓力容器超聲波檢測系統(tǒng)、汽車點焊超聲波檢測設(shè)備,以及其它各類型分析檢測儀器。

長期以來,依托高素質(zhì)的技術(shù)人員和銷售隊伍,本著誠信守法,客戶*的經(jīng)營原則,以良好的信譽、豐富的經(jīng)驗、周到的服務(wù),為客戶提供了*的檢測設(shè)備及技術(shù)解決方案,贏得了國內(nèi)外廣大用戶的信賴和好評。我們提供的設(shè)備、系統(tǒng)及方案應(yīng)用于中國的各種*工業(yè)領(lǐng)域,

用戶行業(yè)包括航空航天,核能電力,船舶制造,海洋石油,石油化工,機械制造,鐵路交通,進(jìn)口商檢,技術(shù)監(jiān)督,高校及研究機構(gòu)等。依托高素質(zhì)的技術(shù)人員和銷售隊伍,本著守法,誠信,客戶*的經(jīng)營原則,公司以良好的信譽,周到的售前和售后服務(wù),贏得了廣大用戶的信賴和好評。

超聲波探傷儀,磁粉探傷儀,黑光燈,探傷劑,膠片,硬度計,測厚儀,輻射儀,照度計等等

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價格區(qū)間 面議

MB4S B4S B5S B1S-O B2S-O美國GE保護(hù)膜探頭

歐規(guī)接觸法直探頭

MB4S B4S B5S B1S-O B2S-O美國GE保護(hù)膜探頭京海興樂科技(北京)有限公司公司主要提供UT(超聲)MT(磁粉)PT(滲透)RT(射線)等設(shè)備及周邊耗材
主要經(jīng)營品牌:美國奧林巴斯OLYMPUS(原泛美)、美國GE(原德國KK)、美國磁通Magnaflux
汕超(汕頭超聲)、瑞典蘭寶、美國SP公司、美國達(dá)高特、英國易高、新美達(dá)、德國MR、船牌、等等

歐規(guī)接觸法直探頭

應(yīng)用

用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷

鍛件、鑄件

金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、機器零件、殼體

特點

縱波單晶探頭

適合DGS缺陷評判

性能參數(shù)誤差小,適合高精度檢測

可更換保護(hù)膜,保護(hù)探頭不被磨損

柔性保護(hù)膜,即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合

合金壓鑄殼體,堅固耐用

用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊(定制產(chǎn)品)

接觸法直探頭,帶保護(hù)膜

直探頭要用于手動檢測。應(yīng)用接觸法探傷時,需要在測量區(qū)域或多個測量區(qū)域涂上薄薄的一層耦合劑,然后直接將探頭放置在被測物體表面進(jìn)行檢測。接觸法探傷將探頭分別放置在各檢測點逐點檢測,或者在被測物體表面連續(xù)移動探頭來完成的。

接觸法直探頭帶保護(hù)膜探頭

應(yīng)用

•   一般檢測目的, 簡單形狀的大零件

•   鍛件, 鑄件

•   板材, 棒材, 方型材

•   容器, 機器零件, 殼體

•   高溫檢測時帶延遲塊

性能特征

•   歐款有可更換膜:

- 在不平整和曲面上增進(jìn)耦合

- 延長探頭壽命

- 適于DGS缺陷評定

- 可連接高溫延遲塊

- Lemo 1(B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接端口, 標(biāo)準(zhǔn)為側(cè)裝, 頂裝可選

•   美款有三種類型的保護(hù):

- 膜可以在不平整和曲面上增進(jìn)耦合.

- 耐磨帽定期更換可*延長探頭壽命

- 高溫延遲塊可以實現(xiàn)  00°F (  00°C)表面檢測.

- BNC 連接端口, 頂裝或側(cè)裝

帶保護(hù)膜探頭歐洲規(guī)格

9.png

B..S 和 MB..S 型

0,5μS/Div 0-4MHz典型波形和頻譜

外殼類型

A

B

C

mm

in

mm

in

mm

in

類型2

30

1.18

59

2.32

45

1.69

類型3

20

0.79

43

1.77

25

0.98

 

類型

訂購號碼

D

f

N

備注

mm

in

(MHz)

mm

in

B1S

57744

24

0.94

1

23

0.9

 

B1S-EN

500035

24

0.94

1

23

0.9

符合 DIN EN 12668-2

B1S-O

57755

24

0.94

1

23

0.9

頂端接口

B2S

57745

24

0.94

2

45

1.8

 

B2S-EN

500036

24

0.94

2

45

1.8

符合 DIN EN 12668-2

B2S-O

57756

24

0.94

2

45

1.8

頂端接口

B2S-O-EN

500267

24

0.94

2

45

1.8

符合 DIN EN 12668-2

頂端接口

B4S

57746

24

0.94

4

88

3.5

 

B4S-EN

500037

24

0.94

4

88

3.5

符合 DIN EN 12668-2

B4S-O

57757

24

0.94

4

88

3.5

頂端接口

B4S-O-EN

500268

24

0.94

4

88

3.5

符合 DIN EN 12668-2

頂端接口

B5S

57747

24

0.94

5

110

4.3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

MB2S

57748

10

0.39

2

8

0.3

 

MB2S-EN

500038

10

0.39

2

8

0.3

符合 DIN EN 12668-2

MB2S-O

57975

10

0.39

2

8

0.3

頂端接口

MB4S

57749

10

0.39

4

16

0.6

 

MB4S-EN

500039

10

0.39

4

16

0.6

符合 DIN EN 12668-2

MB4S-O

57976

10

0.39

4

16

0.6

頂端接口

MB5S

57750

10

0.39

5

20

0.8

 

MB5S-O

57977

10

0.39

5

20

0.8

頂端接口

可定制特殊規(guī)格

附件

描述

類型

備注

保護(hù)膜

(1套=10片)

ES45(53756)

ES24(53769)

用于B..S;

用于MS..S

延遲塊或斜塊

特殊訂單

如用于高溫檢測

電纜線

PKLL2(50326)

MPKL2(50486)

用于B..S;

用于MS..S

帶保護(hù)膜探頭—北美規(guī)格

10.png

晶片尺寸

A

B

C

mm

in

mm

in

mm

in

mm

in

13

0.5

19.1

0.75

30.5

1.2

23.9

0.94

19

0.75

25.4

1

30.5

1.2

30.2

1.19

25

1

31.8

1.25

30.5

1.2

36.6

1.44

帶保護(hù)膜探頭—PFCR (側(cè)裝BNC), PFCS (頂裝BNC)

頻率

晶片尺寸Ø

訂購號碼

頻率

晶片尺寸Ø

訂購號碼

(MHz)

mm

in

Gamma 系列PFCR

Gamma 系列PFCR

(MHz)

mm

in

Gamma 系列PFCR

Gamma 系列PFCR

1

13

0.5

241-240

241-260

3.5

13

0.5

243-240

243-260

19

0.75

251-240

251-260

19

0.75

253-240

253-260

25

1

261-240

261-260

25

1

263-240

263-260

2.25

13

0.5

242-240

242-260

5

13

0.5

244-240

244-260

19

0.75

252-240

252-260

19

0.75

254-240

254-260

25

1

262-240

262-260

25

1

264-240

264-260

注意: 備用保護(hù)膜套裝另售. 可訂制特殊規(guī)格

備用保護(hù)膜套裝—PFCR/PFCS

套裝類型

訂購號碼

探頭晶片尺寸Ø

.5in

.75in

1.00in

(13mm)

(19mm)

(25mm)

PM

118-450-120

118-450-140

118-450-160

PWC

118-450-220

118-450-240

118-450-260

PHTD-1.0in(25.4mm)延遲塊

118-450-320

118-450-340

118-450-260

PHTD-1.5in(38.1mm)延遲塊

118-450-420

118-450-440

118-450-460

PM型工具包包括一個滾花環(huán)、壓緊螺母、扳手、12片薄膜和一瓶2盎司的耦合劑(不包括探頭) 。

PWC型工具包包括一個滾花環(huán)、三個防磨帽和一瓶2盎司的 耦合劑(不包括探頭) 。如果對近表面分辨率要求很高,則不能采用該選項。

PHTD型工具包包括一個滾花環(huán)、一個1英寸或1.5英寸長的高溫延遲塊和一瓶2盎司的耦合劑 (不包括探頭) 。

 

訂購號碼

探頭晶片尺寸Ø

.5in

.75in

1.00in

(13mm)

(19mm)

(25mm)

保護(hù)膜 每包12片

118-220-020

118-220-021

118-220-022

耐磨帽 每包12個

118-240-123

118-240-122

118-240-121

高溫延遲塊*長1.0in(25.4mm)

118-440-027

118-440-031

118-440-035

高溫延遲塊*長1.5in(38.1mm)

118-440-029

118-440-033

118-440-037

BNC 電纜線

118-140-016

保護(hù)膜,耐磨帽 以及延遲塊 耦合劑

118-300-740

*高溫(PHTD)延遲塊:zui高溫度400F,zui大接觸時間為10秒;重新使用前冷卻到環(huán)境溫度。

探頭選擇準(zhǔn)則與性能

直探頭---單晶

1.png

•   被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面

•   接觸面或平或曲

•   缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測

•   適于穿透厚部件

•   延遲塊用以提高近場分辨率

•   需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊

•   通常用于手動檢測

直探頭---雙晶

2.png

•   接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開

•   缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測

•   近表面分辨率好,用于較薄部件

•   需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊

•   通常用于手動檢測

斜探頭

3.png

•   晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上

•   利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播

•   大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過模式轉(zhuǎn)換

•   適于傾斜缺陷的檢測,如焊縫

•   有單晶探頭和雙晶探頭

•   需要耦合層,一般為凝膠,油類

•   有時用于機械化或自動化檢測

水浸探頭

•   在水中匹配好,效率高

•   適于具有不規(guī)則表面的被檢測件

•   通常用于機械化或者自動化檢測

•   耦合*性好,檢測重復(fù)性高

•   大型零件可以采用探頭架, 溢流法或者水射流法

•   探頭聚焦可以增進(jìn)效果

聚焦的優(yōu)點

4.png

•   球面聚焦形成點狀

•   柱面聚焦形成線狀

聚焦優(yōu)勢

5.png

探頭選擇準(zhǔn)則歐洲規(guī)格

按照歐洲標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)的探頭, 本目錄提供的技術(shù)性能信息依照下表定義。

絕大多數(shù)的探傷儀探頭都免費提供全面的性能數(shù)據(jù)表。

性能參數(shù)

解釋

晶片尺寸 D 或 a×b

探頭晶片的直徑D或長度×寬度a×b。它的尺寸大小對聲波的傳輸有極大的影響。輕微的偏差,如形狀的偏差,或粘接不良造成的位置偏差而產(chǎn)生的聲能衰減,即使是利用參考缺陷進(jìn)行標(biāo)定,都將產(chǎn)生嚴(yán)重的評估誤差。

標(biāo)稱頻率f

所有相同類型探頭的均值頻率,頻率對反射體的評定有極大的影響。對斜反射體,頻率甚至影響聲場波形和反射特性。隨著頻率的增加,非垂直反射體對聲束的反射回波減小。這就是為什么每一個探頭都要由我們的質(zhì)量控制部門根據(jù)鑒定標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行嚴(yán)格檢測,以確定其頻率是否與標(biāo)稱頻率相*,保證在一定的誤差范圍內(nèi)。這個數(shù)據(jù)輸入到探頭的數(shù)據(jù)參數(shù)表。

帶寬B

脈沖回波的幅值比zui高幅值下降   dB之間的頻率范圍。B=fo-fu/fx 100%   fo=幅值下降  dB的上限頻率,fu=幅值下降   dB的下限頻率,f為標(biāo)稱頻率。例如,當(dāng)B=100%,一個4MHz的探頭的fo為6MHz,而fu為2MHz。大的帶寬意味著更短的脈沖回波,也就意味著高的分辨率和更好的穿透能力,因為低頻脈沖比標(biāo)稱頻率脈沖的衰減小。在高衰減情形下,與標(biāo)稱頻率相比,隨著距離的增加,反射信號的頻率減小。這一點在進(jìn)行缺陷評估時必須要加以考慮。因此每一個探頭的帶寬都要進(jìn)行檢查,并且與所有探頭的平均值相*,保證在一定的誤差范圍內(nèi)。

焦距F

F:小缺陷產(chǎn)生zui大回波時探頭到小缺陷的距離。探頭要進(jìn)行聚焦以便探測小缺陷并得到zui大的回波
幅值,只有在探頭的近場才可能聚焦。

近場長度N

近場長度N是非聚焦探頭的焦距長度,它是聲軸線上能得到聲壓極大值的zui遠(yuǎn)距離。N的大小由D、c和f來決定。由于D>>λ,所以:N=Deff/4λ=Deffxf/4c其中λ為波長,c為聲速,Deff是單元有效直徑焦點處和近場長度處聲能zui為集中,反射體zui易識別。因此重要測試場合一般預(yù)期缺陷在焦距或近場長度處。表中的數(shù)據(jù)對鋼材而言,而水浸探頭為水。

焦點直徑FD

在焦距或近場長度附近,聲壓值比主聲軸下降  dB處到主聲軸的距離

脈沖形狀

來自于平面反射面的信號表述。

頻譜

回波脈沖中所有頻率的顯示,頻率幅值在頻率上顯示。

聲束角度β

主聲束與檢測面法線之間的夾角

探頭選擇準(zhǔn)則北美規(guī)格

根據(jù)北美標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn), 通用電氣檢測科技提供三種系列的探頭: Alpha, Benchmark, 和Gamma系列。根據(jù)ASTME-0,對所有探傷儀所用探頭免費提供波形和頻率證書。

Alpha 系列特性

6.png

•   推薦用于分辨率是首要考慮目標(biāo)的場合.

•   適于測厚和近表面缺陷測量.

•   脈沖短—機械衰減大到目前技術(shù)極限.

•   增益通常低于Benchmark和Gamma系列.

•   寬帶—6dB 帶寬范圍從50% 到100%.

•   依據(jù)頻率,尺寸和其他參數(shù),典型的Alpha 系列波形(右)有一到兩個周期振蕩。

Benchmark 系列特性

7.png

•   產(chǎn)品BENCHMARK COMPOSITE®(壓電復(fù)合材料)晶片

•   在衰減材料中的穿透力遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)探頭。

•   在粗晶,纖維增強復(fù)合等材料中信噪比高。

•   脈沖短—分辨率通常高于Gamma系列。

•   增益通常高于Gamma和Alpha系列。

•   超寬帶—6dB 帶寬范圍從60% 到120%.

•   低聲阻抗晶片提高了斜探頭、延遲式探頭和水浸探頭的性能—與塑料和水可以*地匹配。

Gamma 系列特性

8.png

•   通用型探頭,推薦用于大多數(shù)應(yīng)用。

•   中等脈沖寬度, 中等阻尼—增益和分辨率的*結(jié)合.

•   匹配電路在常用場合確保了zui大增益和理想的波形.

•   中等帶寬—典型的6dB帶寬從30% 到50%.

•   依據(jù)頻率,尺寸和其他參數(shù),典型的Gamma系列波形有三到四個周期振蕩。



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