Genesis XM系列X射線能譜儀
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 EDAX Inc.美國伊達克斯有限公司-J
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質 經(jīng)銷商
- 更新時間 2019/4/2 16:07:59
- 訪問次數(shù) 1520
產(chǎn)品標簽
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1.GENESIS X射線能譜儀(EDS, EDX)2.電子背散射衍射分析系統(tǒng) EBSP/OIM (EBSD)3.LEXS/TEXS新型高精度自動聚焦波譜儀 (WDS, WDX)4.TEM 自動晶體學分析系統(tǒng) ACT/TOCA
5.EAGLE III X射線微探針熒光能譜儀 (XRF)
| 價格區(qū)間 | 面議 | 探測器類 | 硅漂移探測器（SDD） |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 進口 |
Genesis XM系列X射線能譜儀技術參數(shù)：
1.探頭分辨率優(yōu)于129eV，峰背比優(yōu)于20000:1
2.檢測元素范圍Be4 - Es99
3.大計數(shù)率500,000cps
4.大圖象采集分辨率8192x6400象素（矩形）；8192x8192像素（方形）
5.大面分布圖采集分辨率2048x1600象素（矩形）；2048x2048（方形）
Genesis XM系列X射線能譜儀主要特點：
1.探頭指標高，性能好，壽命長。
2.全新32位軟硬件系統(tǒng)，工作可靠，效率高。
3.具有操作引導的集成式界面，使用直觀方便。
4.具有多種專有技術軟件，分析精度高。
5.軟件種類及功能豐富，且具有報告生成系統(tǒng)。
采購中心
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