組合式多功能X射線衍射儀和高分辨率X射線衍射儀廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。分析的材料包括：金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料。可以分析的材料狀態(tài)包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品。廣泛應用于粘土礦物、水泥建材、環(huán)境粉塵、化工制品、藥品、石棉、巖礦、聚合物等研究領域。

　　高分辨X射線衍射儀為精準研究材料結構而設計,能對樣品衍射角度進行精確測量，為得到準確的、可信賴的相分析及結構解析結果奠定堅實的基礎。

　　高分辨X射線衍射儀配置高穩(wěn)定性X射線源、高性能半導體陣列計數(shù)器，可以在相對短的時間內獲取準確的衍射譜圖。
　　樣品衍射角度由絕-對增量式2²⁴位線光柵直接獲取，能避免測角儀其它部件對衍射角度的影響，確保儀器在使用壽命內始終獲得準確的峰位置。

　　國際標準樣品（Si、Al2O3）全譜范圍內所有峰的角度偏差不超過±0.01度。
　　X射線衍射譜圖提供有關樣品不同晶相的晶體結構等重要信息。這些信息包括點陣常數(shù)、點陣類型、原子替位、晶粒大小和非均勻應力，晶體結構能夠逐步通過樣品衍射譜圖解析。