使用Keysight材料測量解決方案進行介電性能測量
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使用Keysight材料測量解決方案進行介電性能測量
測量方法
測量材料的介電性能有多種方法。用戶需要選擇適合MUT的測量方法。是德科技解
決方案支持所有的測量方法。
同軸探頭法
同軸探頭法適合液體和半固體 (粉末) 材料。它具有簡單、方便、非破壞性的特點。
典型測量系統(tǒng)由網(wǎng)絡(luò)分析儀或阻抗分析儀、同軸探頭和軟件構(gòu)成。軟件和探頭均包含
在Keysight 85070E介電探頭套件中。根據(jù)所用的分析儀和探頭，該系統(tǒng)的支持頻率范
圍可從10MHz50GHz。
高溫探頭能夠承受-40+200 °C的溫度范圍。較大直徑的法蘭使得高溫探頭可以支持
平面固體材料、液體和半固體材料測量。細(xì)長探頭能夠很輕松地放入發(fā)酵罐、化學(xué)反應(yīng)
室或其它小孔徑設(shè)備中。高性能探頭的超薄設(shè)計使它具有出色的堅固性，耐高溫性以及
很寬的頻率范圍。探頭經(jīng)過了熱壓處理，非常適合滅菌要求很高的食品、醫(yī)藥和化工行
業(yè)應(yīng)用。
傳輸線法
傳輸線法是一種寬帶測量方法，適用于可加工固體。它需要把 MUT 放入了閉合傳輸
線中。
自由空間法
自由空間法通過天線來把微波能量聚焦 ( 或穿過 ) 在一大塊材料中。該方法具有非接觸
特性，適合高溫，尤其適用于毫米波頻率。
諧振腔體法
諧振腔體具有較高的 Q 值，可在特定頻率上發(fā)生諧振。放入材料樣品后會改變諧振腔
體的中心頻率和 Q 因數(shù)。通過測量放置材料和不放置材料時的諧振參數(shù)，可以計算得
到介電常數(shù)的值。是德科技提供85072A10GHz分裂圓柱腔體諧振器和分離介質(zhì)諧振器
(SPDR)。
平行板電容法
平行板電容法在兩個電極之間夾入一個薄板材料，來形成一個電容器。該方法適合對
薄膜或液體進行精que的低頻測量。應(yīng)用該方法的典型測量系統(tǒng)由 LCR 表或阻抗分析儀
構(gòu)成。根據(jù)材料類型和頻率范圍(高達(dá)1GHz)要求，是德科技可以提供多種測試夾具，
例如16451B、16452A和 16543A。（佳捷倫出售出租WX~Cgilent2018/雷S）
電感測量法
該方法通過測量材料(環(huán)形磁芯)的電感來推導(dǎo)出磁導(dǎo)率。具體操作: 在MUT上纏繞若干
條導(dǎo)線，并測量導(dǎo)線兩端的電感。Keysight 16454A磁性材料測試夾具可為單匝電感器
提供理想結(jié)構(gòu)，在插入環(huán)形磁芯時不會出現(xiàn)磁漏。

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