FT110A 500強(qiáng)企業(yè)研發(fā)的一款鍍層測(cè)厚儀
參考價(jià) | ¥ 300000 |
訂貨量 | ≥1臺(tái) |
- 公司名稱 深圳市譜賽斯科技有限公司
- 品牌 Hitachi/日立
- 型號(hào) FT110A
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2020/2/10 11:22:02
- 訪問次數(shù) 312
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價(jià)格區(qū)間 | 20萬-50萬 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
即放即測(cè):無需人工對(duì)焦造成誤差,測(cè)量結(jié)果更可靠;
測(cè)試速度快:3秒自動(dòng)對(duì)焦,10秒鐘完成50nm級(jí)極薄鍍層的測(cè)量;
無標(biāo)樣測(cè)量:與以往的技術(shù)相比,薄膜FP軟件得到進(jìn)一步擴(kuò)充,即使沒有標(biāo)準(zhǔn)品也能精確測(cè)量;
多鍍層測(cè)量:多能夠進(jìn)行5層的多鍍層樣品測(cè)量;
廣域圖像觀察:能將樣品圖像放大5到7倍,并對(duì)測(cè)量部位精確定位;
低成本:較以往機(jī)型價(jià)格降低了20%。
日立FT110鍍層測(cè)厚儀介紹:
FT110A通過自動(dòng)定位功能,僅需把樣品放置到樣品臺(tái)上,就可在數(shù)秒內(nèi)對(duì)樣品進(jìn)行自動(dòng)對(duì)焦。由此,無需進(jìn)行以往的手動(dòng)逐次對(duì)焦的操作,大大提高了樣品測(cè)量的操作性。
近年來,隨著檢測(cè)零件的微小化,對(duì)微區(qū)的高精度測(cè)量的需求日益增多。SFT-110實(shí)現(xiàn)微區(qū)下的高靈敏度,即使在微小準(zhǔn)直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測(cè)量的精度。
同時(shí),F(xiàn)T110A還配備有新開發(fā)的薄膜FP法軟件,即使沒有厚度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)也可進(jìn)行多達(dá)5層10元素的多鍍層和合金膜的測(cè)量,可對(duì)應(yīng)更廣泛的應(yīng)用需求。
可從大250×200mm的樣品整體圖像測(cè)量位置,另有機(jī)倉開放式機(jī)種,可對(duì)600×600mm的大型印刷線路板進(jìn)行測(cè)量
低價(jià)位也是FT110A的特點(diǎn),與以往機(jī)型相比,既提高了功能性又降低20%以上的價(jià)格。
膜厚儀作為可靠的品管工具,可針對(duì)半導(dǎo)體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進(jìn)行測(cè)量管理,可保證產(chǎn)品的功能及質(zhì)量,降低成本。
FT110A可降低成本如下:
*節(jié)省材料費(fèi)
資源緊缺已是大勢(shì)所趨,企業(yè)的材料費(fèi)也是節(jié)節(jié)攀高;尤其是表面處理工作中所用到的貴金屬更是一漲再漲,比如眾如周知的黃金Au已從十幾年前的百余元每克上漲到三百多元,以印刷電路板廠每年產(chǎn)量幾十萬套為例,根據(jù)業(yè)界經(jīng)驗(yàn)如果能更好控制鍍層厚度,企業(yè)每年可節(jié)約上千萬的費(fèi)用。
*減少工期(作業(yè)人工)
通過X射線儀來評(píng)價(jià),管理產(chǎn)品可以輕松知曉產(chǎn)品能發(fā)揮大功能時(shí)的小鍍層厚度,從而避免重復(fù)電鍍?cè)斐傻碾娰M(fèi)和人工費(fèi)的流失。
*減少修理,修補(bǔ)等產(chǎn)生的制作費(fèi)用
通過X射線儀可避免鍍層不均或太薄造成的質(zhì)量問題,以及后續(xù)的返工造成的費(fèi)用。
500強(qiáng)企業(yè)研發(fā)的一款鍍層測(cè)厚儀
測(cè)量元素: 原子序號(hào)22(Ti)~92(U)
鍍層測(cè)試軟件 薄膜FP法
X射線管 管電壓:50KV 管電流:1mA 薄膜檢量線法
檢測(cè)器 比例計(jì)數(shù)管
測(cè)量功能 自動(dòng)測(cè)量、中心搜索
準(zhǔn)直器 0.1mmΦ, 0.2mmΦ
影像窗口 CCD攝像機(jī)(帶倍率放大功能)
安全功能 樣品門安全防護(hù)機(jī)構(gòu)
X-ray Station 計(jì)算機(jī)+19英寸液晶顯示器
使用電源 100~240V/15A
樣品臺(tái)移動(dòng)量 250(X)×200(Y)mm 樣品大高度 150mm
500強(qiáng)企業(yè)研發(fā)的一款鍍層測(cè)厚儀