X-MET8000 日立手持式X射線熒光光譜儀
- 公司名稱 廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
- 品牌 Hitachi/日立
- 型號 X-MET8000
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/7/18 15:36:48
- 訪問次數(shù) 4936
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接觸角測量儀、在線測厚儀、光學(xué)膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀
分析含量范圍 | -ppm-100% | 價格區(qū)間 | 30萬-50萬 |
---|---|---|---|
能量分辨率 | 0.1%eV | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
儀器種類 | 手持式/便攜式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,能源,電子 |
元素分析范圍 | -Mg-U | 重復(fù)性 | 0 |
日立手持式X射線熒光光譜儀性能:
X-MET提供的輕元素 (鎂、鋁、硅、磷、硫、氯)分析,檢測限度低,且可每天提供準(zhǔn)確可靠結(jié)果。通過靈活的基本參數(shù)法(FP)法進行分析,從而測試多種材料;或若需結(jié)果可追溯和高度準(zhǔn)確,則使用實證校準(zhǔn)。
操作簡單
大觸摸屏和基于圖標(biāo)的用戶界面,使用戶只需要極少的培訓(xùn)便可開始操作。
符合人體工學(xué)
X-MET輕便(僅1.5公斤)、簡潔、平衡性好,可供長時間使用,而疲勞度非常低。
堅固耐用而擁有成本低
符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。
通過MIL-STD-810G耐用標(biāo)準(zhǔn)測試。
其可選的防扎窗口膜可預(yù)防在粗糙表面上測量導(dǎo)致探測器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費用。
高級數(shù)據(jù)管理
*靈活:可將多達(dá)100,000條結(jié)果保存在X-MET上,將報告輸出到U盤或個人計算機,或自動將X-MET數(shù)據(jù)存儲在LiveData云端。
日立手持式X射線熒光光譜儀技術(shù)參數(shù):
應(yīng)用
X-MET8000 | X-MET8000 | X-MET8000 | |
廢金屬回收 | √ | √ | √ |
材料可靠性鑒定(PMI)檢查 | √ | √ | |
制造與 PMI QA/QC | √ | √ | √ |
貴金屬 | √ | √ | √ |
監(jiān)管機構(gòu)合規(guī)篩查 (消費品、包裝、原材料…) | √ | √ X-MET8000 Expert CG | |
環(huán)境土壤篩查 | √ X-MET8000 | √ X-MET8000 Expert Geo | |
礦石和礦物 | √ X-MET8000 | √ X-MET8000 Expert Geo | |
金屬鍍層厚度測量 | √ | √ | √ X-MET8000 Expert / Expert CG |
科技考古 | √ | √ X-MET8000 Expert / Expert CG / Expert Geo |
比較型號
X-MET8000 Smart
X射線管:40kV
濾光片:單一
檢測器:大面積 SDD
樣本溫度可達(dá):400oC
符合 IP54 等級
Thick Kapton®窗口:保護以預(yù)防探測器的窗戶損壞
校準(zhǔn):基本參數(shù)法(FP)
內(nèi)置攝像頭 (可選)
X-MET8000 Optimum
X射線管:40kV or 50kV
濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器
檢測器:大面積 SDD
樣本溫度可達(dá):100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC(可選)
符合 IP54 等級
可選窗口防護罩:預(yù)防檢測器的窗口損壞進行保護
校準(zhǔn):基本參數(shù)法 (包括輕元素分析)
內(nèi)置攝像頭(可選)
小光班準(zhǔn)直器(可選)
針對所有元素(從鎂到鈾)進行優(yōu)先分析的六位濾光片
X-MET8000 Expert
X射線管:50kV
濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器
檢測器:大面積 SDD
樣本溫度可達(dá):100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC(可選)
符合 IP54 等級
可選窗口防護罩:預(yù)防檢測器的窗口損壞進行保護
校準(zhǔn)方法:自動跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗系數(shù)法(可進行追溯)
內(nèi)置攝像頭
小光班準(zhǔn)直器 (可選)
針對所有元素,從鎂到鈾,的優(yōu)先分析的六位濾光片