奧林巴斯Vanta VEL是一款由奧林巴斯新研發(fā)的手持式X熒光光譜儀，具有化學元素分析能力。它體積小、檢測速度快、攜帶方便，被譽為“口袋中的實驗室”。這款光譜儀雖然小型便攜，但應用領(lǐng)域廣泛，包括：

1.  材料真實性鑒別（PMI）：Vanta VEL光譜分析儀可以驗證關(guān)鍵位置上是否安裝了正確的合金，確保精煉廠、石油化工廠等工廠的安全。

2.  廢舊金屬回收分揀：可以在現(xiàn)場快速鑒別合金化學成分，評估金屬價值，并對廢舊金屬進行分揀。

3.  制造業(yè)質(zhì)量控制（QA/QC）：用于金屬來料、制成、倉管、出貨過程中的牌號、化學成分品質(zhì)檢測，避免產(chǎn)品混料、材質(zhì)不達標等問題。

4.  地球化學和礦業(yè)勘探：在地質(zhì)分析中受歡迎，包括礦業(yè)勘探中地表露頭和鉆芯分析，選礦分析以及土壤，污水，植物的重金屬或者營養(yǎng)元素分析。

5.  汽車三元催化劑測試：可以迅速測試出汽車排氣管中催化劑的元素成分和含量。

此外，奧林巴斯Vanta VEL還具備鍍層模式測量功能，能在幾秒鐘內(nèi)測量出以微米為單位的涂層厚度，適用于多種行業(yè)的涂層厚度測量。這款設(shè)備還具有以下特點：

•  堅固耐用，符合IP55或IP54評級標準，通過墜落測試。

•  采用奧林巴斯新開發(fā)的Axon技術(shù)，提供高X射線計數(shù)率和超低電子噪聲設(shè)計。

•  用戶界面簡單直觀，軟件針對不同特定應用進行分類，易于操作。

•  支持Wi-Fi、藍牙或USB等多種數(shù)據(jù)導出方式。

•  配備高性能硅半導體探測器，可同時記錄分析數(shù)據(jù)和光譜圖。

•  內(nèi)置氣壓計，用于因海拔和空氣密度變化對測試結(jié)果影響的自動校準。

•  800x480(WVGA)液晶電容式觸摸屏，支持直接截屏操作。

•  4GB嵌入存儲，標配1G MicroSD卡，可擴展存儲容量。

•  通過CE、IEC61010-1認證，具有自診斷功能和防墜落測試。

      奧林巴斯一直致力于工業(yè)科學領(lǐng)域的研發(fā)拓展，用光學科技不斷自我完善，力求為用戶帶來高品質(zhì)的工業(yè)光學科技產(chǎn)品，滿足用戶對科技性能的追求。新款Vanta Element分析儀的發(fā)布讓更多人見證了奧林巴斯在光學科技領(lǐng)域又邁出的堅實一步。在未來，奧林巴斯會繼續(xù)創(chuàng)造更加優(yōu)質(zhì)的工業(yè)光學科技產(chǎn)品，為大眾的工作生活提供強大助力。