XRD 0822 xO/xP數字射線平板探測器
- 公司名稱 增宜檢測技術（上海）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地 美國
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2023/6/29 12:52:39
- 訪問次數 1716
聯系方式：楊經理18521063563 查看聯系方式
聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息，謝謝!
增宜檢測技術（上海）有限公司是一家專注于無損檢測設備，理化分析計量儀器，實驗室科研器材銷售及服務的一站式集成供應商。公司代理許多上享譽*的先進產品。
我們提供的工業(yè)產品包括超聲波檢測儀、渦流儀、激光間隙測量儀、X射線機、平板探測器、磁粉探傷機、著色滲透劑、聲發(fā)射檢測儀器、泄漏儀、內窺鏡、顯微鏡、硬度計、合金光譜儀、金相分析儀、紅外熱像儀及其它實驗室試驗檢測設備。
我們的產品廣泛應用于造船、汽車、鐵路、航空、石化、冶金、風電、核工業(yè)、軍工、特檢和高校科研等多個行業(yè)領域，并贏得了廣大用戶的良好口碑。
公司秉承“至信卓業(yè)，客戶至上”的經營宗旨，崇尚“專業(yè)，高效，共贏”的服務理念，為廣大客戶提供優(yōu)質的產品，優(yōu)質的服務。我們期待成為您長期且可信賴的合作伙伴。
主要代理如下公司產品：
奧林巴斯測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內窺鏡/光譜儀
Third Dimension英國三維激光間隙測量儀
ZETEC探傷儀
GE美國通用電氣測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內窺鏡/射線機
萬睿視平板探測器/管頭
Eddyfi & M2M探傷儀
美國磁通磁粉滲透
Eddyfi & M2M探傷儀
奧林巴斯超聲波相控陣OMNISCAN MX2，英國三維Third Dimension GapGun Pro激光間隙測量儀，美國萬睿視Varex射線數字平板探測器，奧林巴斯超聲波探傷儀，奧林巴斯渦流探傷儀，內窺鏡，元素分析儀，美國磁粉滲透
| 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,能源,冶金,航天,汽車 |
|---|
XRD 0822 xO/xP數字射線平板探測器
安防和工業(yè)平板探測器
我們的平板探測器設計用于滿足工業(yè)和安全行業(yè)中廣泛的成像應用。 Varex平板探測器可防止幾何畸變并使磁場和輻射的影響小化。 檢測器中發(fā)現的技術使我們的客戶能夠充分利用的數字圖像質量，高通量以及CT功能。 這些探測器在整個視場中呈現出均勻，不失真的高分辨率圖像，使技術人員能夠拍攝物體內部結構的圖像，例如電子電路和機械零件。
產品展示
2530HE
Varex Imaging提供2530HE高能X射線平板探測器，其在工業(yè)和安全應用中具有的圖像質量。 Varex Imaging基于非晶硅的探測器是工業(yè)和安全應用中射線照相的基準。
2530HE平板探測器的功能和優(yōu)點包括：
高劑量應用設計> 1 MRad
寬電壓范圍：20 kV-16 MV
內部屏蔽高達225 kV
電子設備位于檢測器活動區(qū)域之外，從而允許積分器為225 kV以上的使用情況提供電子設備的附加外部屏蔽。
千兆以太網鏈接到工作站
下載數據表
2530HE技術規(guī)格
2530HE技術規(guī)格概述
| 技術 | 面板尺寸 | 像素矩陣 | 像素大小µm | 能量范圍（kV） | 閃爍器類型 |
|---|---|---|---|---|---|
| 動態(tài) | 25 x 30厘米 | 1792 x 2176 | 139 | 20 kV-16 MV | DRZ + |
| 面板尺寸 | 像素矩陣 | 像素大小µm | 能量范圍（kV） | 閃爍器類型 |
|---|
Dexela 1207NDT2315NDT2923NDT數字影像探測器Csi碘化銫閃爍體工業(yè)平板探測器-產品宣傳資料-實時數字成像板-數字影像探測器-工業(yè)CMOS平板探測器
Dexela 1512NDT數字影像探測器DRZ+閃爍體
Dexela 2315NDT價格
Dexela 2923NDT維修地點2530HE
Dexela 1308DX使用方式，使用參數設置，如何校準
VAREX萬睿視總代理數字射線DR1308DXT工業(yè)平板探測器產品說明書-增宜檢測 工業(yè)CMOS平板探測器
直線加速器
我們的高能線性加速器（也稱為Linacs）Linatron™在世界各地的大多數貨物篩選系統中都可以找到。 它們可靠地產生必要的能量，以*穿透*裝載的容器并小心地感應不同的材料。
隨著Varex不斷創(chuàng)新和發(fā)展成像技術，我們的線性加速器產品組合包括隔行掃描雙能技術，該技術提供了比以往更大的材料辨別力。 我們還可以選擇逐脈沖地交替X射線能量。
1515DXT-I
1515DXT-I工業(yè)平板探測器為工業(yè)和安全應用提供業(yè)界*的圖像質量。 Varex Imaging基于非晶硅的探測器是工業(yè)，醫(yī)療和牙科應用中射線照相的基準。
1515DXT-I平板探測器中的非晶硅具有其他技術*的關鍵優(yōu)勢，包括：
輻射硬度> 1MRad
輸入能量范圍Z廣
不受基材中單光子事件的影響
優(yōu)異的低劑量性能
下載數據表
1515DXT-I技術規(guī)格
1515DXT-I技術規(guī)格概述
| 技術 | 面板尺寸 | 像素矩陣 | 像素大小µm | 能量范圍（kV） | 閃爍器類型 |
|---|---|---|---|---|---|
| 動態(tài) | 15 x 15厘米 | 1152 x 1152 | 127 | 40-225 kVp | 直接存款CsI，DRZ + |
采購中心
化工儀器網