萬睿視平板探測(cè)器2530HE

萬睿視平板探測(cè)器2530HE是一款高能等X射線平板探測(cè)器(FPDs)。

Varex Imaging提供2530HE高能X射線平板探測(cè)器，其在工業(yè)和安全應(yīng)用中具有行業(yè)優(yōu)質(zhì)的圖像質(zhì)量。Varex Imaging基于非晶硅的探測(cè)器是工業(yè)和安全應(yīng)用中射線照相的基準(zhǔn)。

2530HE平板探測(cè)器的功能和優(yōu)點(diǎn)包括：

• 高劑量應(yīng)用設(shè)計(jì)> 1 MRad
• 寬電壓范圍：20 kV-16 MV
• 內(nèi)部屏蔽高達(dá)225 kV
• 電子設(shè)備位于檢測(cè)器活動(dòng)區(qū)域之外，從而允許積分器為225 kV以上的使用情況提供電子設(shè)備的附加外部屏蔽。
• 千兆以太網(wǎng)鏈接到工作站

下載數(shù)據(jù)表

上海艾因蒂克銷售工業(yè)X射線探傷機(jī)，萬睿視（Varex）平板探測(cè)器（PaxScan® 1515DXT平板探測(cè)器、PaxScan®2520DX平板探測(cè)器、PaxScan®2530HE平板探測(cè)器、PaxScan® 1313DX平板探測(cè)器、DR-PaxScan®2530DX平板探測(cè)器、PaxScan® 1308DXT平板探測(cè)器、PaxScan®1308DX平板探測(cè)器、XRD1611平板探測(cè)器、XRD1621平板探測(cè)器、XRD1622平板探測(cè)器、XRD0822平板探測(cè)器、XRD3025平板探測(cè)器、XRD4343CT平板探測(cè)器、XRPad2 3025平板探測(cè)器、XRPad2 4336平板探測(cè)器）及直線加速器和X射線球管。 

超聲波探傷儀（復(fù)合材料粘接檢測(cè)儀BondMaster 1000e+、超聲探傷儀EPOCH XT、超聲探傷儀EPOCH 600、超聲探傷儀EPOCH LTC、超聲波TOFD相控陣OmniScan MX2、超聲波相控陣OmniScan X3超聲波TOFD相控陣Omniscan SX、超聲探傷儀EPOCH 1000系列、超聲波點(diǎn)焊檢測(cè)系統(tǒng)USLT USB、超聲波點(diǎn)焊檢測(cè)儀SpotChecker、超聲波相控陣點(diǎn)焊檢測(cè)儀NEXTSPOT600、超聲波相控陣點(diǎn)焊檢測(cè)儀NEXTSPOT300、超聲波探傷儀USN60、超聲波探傷儀USM 36、便攜式超聲波探傷儀USM go+）、

探頭線、探頭、各種檢測(cè)試塊

測(cè)厚儀（MAGNA-MIKE 8600霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀、*45MG超聲波測(cè)厚儀、高級(jí)多功能超聲波測(cè)厚儀38DL PLUS、經(jīng)濟(jì)型超聲波測(cè)厚儀27MG、35RDC復(fù)合材料粘接檢測(cè)儀、便攜式MG2系列腐蝕測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀DM5E、精密測(cè)厚儀CL5），

光譜分析儀（Vanta手持式XRF分析儀、DELTA Professional合金分析儀、DELTA Element分析儀），

工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡（EFER FLASH 900、 IPLEX NX、IPLEX GX/GT、IPLEX G Lite、IPLEX TX、IPLEX YS）、法國EFER紫外熒光內(nèi)窺鏡、磁粉探傷機(jī)、反差增強(qiáng)劑，滲透劑等，

我公司*維修以下超聲波設(shè)備：26mg壁厚儀檢測(cè)、售后維修27mg測(cè)厚儀、45MG測(cè)厚儀檢修、38DL PLUS測(cè)厚儀操作手冊(cè)、MAGNA-MIKE 8600測(cè)厚儀操作視頻、DM5E測(cè)厚儀、CL5測(cè)厚儀、EPOCH XT探傷儀、售后維修EPOCH 600探傷儀、售后維修EPOCH LTC探傷儀、維修OmniScan MX2相控陣探傷儀、售后維修Ominscan SX相控陣探傷儀、售后維修Phasor相控陣探傷儀、售后維修EPOCH 1000探傷儀、售后維修USN60探傷儀、USM 36探傷儀、USMgo+探傷儀、epoch 6LT探傷儀、EPOCH 650探傷儀