Photrix 外延片測(cè)溫儀詳細(xì)說明

PhotriX 系列高精度紅外測(cè)溫儀具有業(yè)界優(yōu)異的信噪比，可測(cè)量更低的溫度，更小的目標(biāo)，可采用更快的響應(yīng)時(shí)間 (1 ms). 

當(dāng)選擇一款紅外測(cè)溫儀時(shí)，其中一個(gè)重要的因素是要考慮用于測(cè)量的波長(zhǎng)。紅外測(cè)溫的物理特性決定了測(cè)量波長(zhǎng)越短，測(cè)量精度越高。沒有儀器可以違反這個(gè)原則.

利用短波和窄帶波長(zhǎng)， Photrix系列測(cè)溫儀將紅外測(cè)溫的精度提升到了一個(gè)極限高度。相較波長(zhǎng)8－14μm的精度，0.9 μm（ 900nm ）測(cè)溫精度提升了一個(gè)數(shù)量級(jí)。不僅如此，Photrix系列的信噪比*，因而相對(duì)于同樣短波的其它產(chǎn)品,可以測(cè)量低溫至30℃的物體。

此外，Photrix還提供了環(huán)境溫度補(bǔ)償，以消除溫度漂移,進(jìn)而在長(zhǎng)周期循環(huán)工藝過程中保證了其*的穩(wěn)定性和復(fù)現(xiàn)性。 

標(biāo)準(zhǔn)的PhotriX系統(tǒng)包括帶有防反射鍍膜透鏡的傳感器電子設(shè)備，通信接口模塊（CIM），RS-232接口電纜，通用電源以及TemperaSure™數(shù)據(jù)采集和圖形接口軟件。

固定鏡頭型配置有5種波長(zhǎng)可選，具有如下特點(diǎn):?

低溫測(cè)試能力 (詳見下表)

• 測(cè)溫下限75 °C ，波長(zhǎng) 700-1650 nm

• 測(cè)溫下限125 °C ，波長(zhǎng) 1550 nm

• 測(cè)溫下限270 °C  ，波長(zhǎng) 900 nme

• 測(cè)溫下限280 °C  ，波長(zhǎng) 880 nm

• 可測(cè)量小至0.5 mm的目標(biāo) (定義為 99% 的能量)

• 快速響應(yīng) (1 ms)

• 精度+/- 1.5 °C 或讀數(shù)的 0.15%

• 重復(fù)精度 0.01 °C (see TN-828)

選配件包括模擬模塊 ( 4-20 mA 或 0-10V), 帶鏡頭吹掃的保護(hù)套, 8通道模塊。標(biāo)準(zhǔn)配置已包含所有必要的電纜，電源以及軟件和文檔。

典型應(yīng)用

• 低發(fā)射率金屬

• 鋁

• CIGS太陽能薄膜電沉積

• 非晶硅薄膜沉積

• 激光加熱工藝

• CZ 晶體生長(zhǎng)

• 光纖拉絲

• 感應(yīng)加熱

Photrix 外延片測(cè)溫儀配置選項(xiàng)