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RE-200 半導(dǎo)體行業(yè)低相位差高速檢查設(shè)備

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 大塚電子(蘇州)有限公司
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型號 RE-200
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2020/6/11 16:37:32
  • 訪問次數(shù) 638
產(chǎn)品標(biāo)簽

相位差方位角

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


大塚電子(蘇州)有限公司成立于20074月,致力于讓中國客戶能安心使用已有50年歷史的日本大塚電子所研發(fā)與生產(chǎn)的測量與分析設(shè)備。

我們的產(chǎn)品涵蓋LEDOLED等光源和照明行業(yè),產(chǎn)品包括有液晶和有機EL顯示行業(yè)的光學(xué)特性評估與檢測設(shè)備;用于測量半導(dǎo)體晶圓和薄膜化學(xué)品厚度的設(shè)備;以及評估墨水、研磨劑、醫(yī)藥和化妝品材料的納米顆粒(粒徑和ζ電位測量)設(shè)備,這些設(shè)備均應(yīng)用了我們的“光”技術(shù)。

在日本,我們的產(chǎn)品擁有眾多交付實績。為提供全面的售前和售后支持,我們設(shè)立了技術(shù)和維護(hù)中心,努力提供快速、令客戶滿意并能使客戶感受到關(guān)懷和價值的服務(wù)。

我們致力于不斷提升產(chǎn)品價值和支持服務(wù),做到讓客戶能主動向他人推薦大塚電子的產(chǎn)品。

我們是大塚集團的一員,繼承了集團的企業(yè)理念「Otsuka-people creating new products for better health worldwide

以及大塚集團歷代的3個思想,即「流汗悟道」「實證」「創(chuàng)造性」,并以此行動。我們推出創(chuàng)新產(chǎn)品,開展業(yè)務(wù),為社會做出貢獻(xiàn)。

對于那些挑戰(zhàn)可能性邊界的人來說,天空是無限的。超越它,就會有一個全新的前沿世界。

利用大塚電子的技術(shù)“光”的力量,為業(yè)界提供解決方案是我們的使命。

Otsuka-people creating new products for better health worldwide

傳承大塚的“實證與創(chuàng)造”精神,時刻為了實踐“因為是大塚所以能做到”、"只有大塚才能做到"的口號而努力奮斗。

大塚電子,通過革新的且富有創(chuàng)造性的產(chǎn)品(設(shè)備)服務(wù),在「健康和生活」的領(lǐng)域,不斷地為人民的生活做著貢獻(xiàn)。



zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng),晶圓在線測厚系統(tǒng),線掃描膜厚儀,顯微分光膜厚儀,線掃描膜厚儀,分光干涉式晶圓膜厚儀,相位差膜?光學(xué)材料檢測設(shè)備,非接觸光學(xué)膜厚儀,小角激光散射儀,多檢體納米粒徑量測系統(tǒng),量子效率測量系統(tǒng)

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價格區(qū)間 50萬-80萬
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子/電池,包裝/造紙/印刷,電氣

半導(dǎo)體行業(yè)低相位差高速檢查設(shè)備 RE-200

低相位差高速檢查設(shè)備 RE-200

半導(dǎo)體行業(yè)低相位差高速檢查設(shè)備適用于光軸的高精度管理! 3σ≦0.02°

低相位差測量

產(chǎn)品信息

特 點

• 可測從0nm開始的低(殘留)相位差
• 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
(相當(dāng)于0.1秒以下來處理)
• 無驅(qū)動部,重復(fù)再現(xiàn)性高
• 設(shè)置的測量項目少,測量簡單
• 測量波長除了550nm以外,還有各種波長
• Rth測量、方位角測量
(需要option的自動旋轉(zhuǎn)傾斜治具
• 通過與拉伸試驗機組合,可同時評價膜的偏光特性和光弾性
 (本系統(tǒng)屬特注。)

測量項目

• 相位差(ρ[deg.], Re[nm])
• 主軸方位角(θ[deg.])
• 橢圓率(ε)?方位角(γ)
• 三次元折射率(NxNyNz)

用 途

• 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
• 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料(玻璃有變形,歪曲等)

原 理

• 什么是RE-200
• RE-200是光子結(jié)晶素子(偏光素子)、CCD相機構(gòu)成的偏光計測模塊和透過的偏光光學(xué)系相組合,可高速且高精度的測量位相差(相位差)、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式,沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機構(gòu),系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造,長時間使用也能維持穩(wěn)定的性能。

仕 樣

型號

RE series

樣品尺寸

小10×10mm ~大100×100mm

測量波長

550nm (標(biāo)準(zhǔn)仕樣)※1

相位差測量范圍

約0nm ~約1μm

軸檢出重復(fù)精度

0.05°(at 3σ) ※2

檢出器

偏光計測模塊

測量光斑直徑

2.2mm×2.2mm

光源

100W 鹵素?zé)艋?LED光源

本體?重量

300(W) × 560(H) ×430(D) mm 、約20kg

 Option
• Rth測量、方位角測量※治具本體(旋轉(zhuǎn):180°, 傾斜:±50°)
• 動旋轉(zhuǎn)傾斜治具

 

 



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