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FR-pOrtable:一款USB驅動的薄膜表征工具 

一、產(chǎn)品簡介：

       FR-pOrtable USB 驅動薄膜表征、薄膜測厚儀器是 一 款獨 特 的 便 攜 式 測 量 儀器 ， 可 對 透 明 和 半 透明 的 單 層 或 多 層 堆 疊薄 膜 進 行 精 確 的 無 損（非接觸式）表征。使用 FR-pOrtable，用戶可以在 380-1020nm 光譜范圍內(nèi)進行反射率和透射率測量及薄膜厚度測量。

二、應用領域

o   大學 & 科研院所

o   半導體（氧化物、氮化
物、硅、電阻等）

o   MEMS 元器件 (光刻膠、
硅薄膜等)

o   LED

o   數(shù)據(jù)存儲元件

o   彎曲基材（襯底）上的
硬/軟涂層

o   聚合物涂層、粘合劑等

o   生物醫(yī)學
（ parylene—— 派瑞林,
氣泡壁厚,等等 )

o   其他更多 …
(如有需求，請與我們?nèi)〉寐?lián)系)

三、USB 驅動薄膜表征、薄膜測厚儀器應用

FR-pOrtable的緊湊尺寸以及定制設計的反射探頭以及寬帶長壽命光源確保了高精度和可重復的便攜式測量。

FR-Portable既可以安裝在提供的載物臺上，也可以輕松轉換為手持式厚度測量工具。放置在待表征的樣品上方即可進行測量。

FR-Portable是用于工業(yè)環(huán)境（如R2R、帶式輸送機等）中涂層實時表征的可靠而精確的測厚儀。

四、產(chǎn)品特點
o 一鍵分析 (無需初始化操作)
o 動態(tài)測量
o 測量光學參數(shù)(n & k, 顏色)，膜厚
o 自動保存演示視頻
o 可測量 600 多種不同材料
o 用于離線分析的多個設置
o 免費軟件更新服務 

五、技術參數(shù)

六、工作原理

白光反射光譜（WLRS）測量方法是在一定波長范圍內(nèi)，分析垂直于樣品表面的入射光和從單層或多層堆疊薄膜反射的反射光譜的分析方法。

由界面&表面產(chǎn)生的反射光譜被用于確定獨立和附著于基底（在透明或部分/全反射基底上）的堆疊膜層的厚度、光學常數(shù)（n&k）等。

北京市房山區(qū)啟航3期5號樓801

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