HT-371高阻雙電四探針測試儀
- 公司名稱 北京創(chuàng)誠致佳科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2021/7/1 13:59:37
- 訪問次數(shù) 463
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
HT-371高阻雙電四探針測試儀覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試。
HT-371高阻雙電四探針測試儀功能概述：
1. 可以測試到1010Ω方阻值.
2. 液晶顯示，高精度AD芯片控制.
3. 恒流輸出， 四探針雙位測量.
4. 參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn).
5. 中或英文語言版本.
應(yīng)用說明：
覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試。
硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等.
參數(shù)資料：
規(guī)格型號model | HT-371A | HT-371B | HT-371C |
1.方塊電阻范圍sheet resistance | 10-4～1×107Ω/□ | 10-4～1×109Ω/□ | 10-4～1×1010Ω/□ |
2.電阻率范圍resistivity | 10-5～2×108Ω-cm | 10-5～2×1010Ω-cm | 10-5～2×1011Ω-cm |
3.測試電流范圍test current | 10mA ---200pA | 10mA ---20pA | 10mA ---2pA |
4.電流精度current accuracy | ±2% | ±2% | ±5% |
5.電阻精度resistance accuracy | ≤10% | ≤10% | ≤15% |
6.顯示讀數(shù)display | 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率 LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity | ||
7.測試方式test mode | 組合雙電測試方法combined double electric test method | ||
8.工作電源working power | 輸入: AC 220V±10%.50Hz功 耗：<30W | ||
9.誤差errors | Machine uncertain≤15% | ||
10.選購功能choose to buy | 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform | ||
11.測試探頭test probe | 探針間距選購： 2mm；3mm兩種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. | ||
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