PLM-100P 相位差測(cè)試儀
- 公司名稱 蘇州范格歐精密設(shè)備有限公司-J
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) PLM-100P
- 產(chǎn)地 中國(guó)
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2021/7/7 12:47:23
- 訪問(wèn)次數(shù) 297
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,印刷包裝,紡織皮革 |
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其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。
本設(shè)備是利用瞬間多通道測(cè)光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測(cè)量透過(guò)型封入完成后的LCD Cell(TN,RETS-100吸收軸測(cè)試,IPS,MVA)的Gap以及Pre-tilt角。附有自動(dòng)XY-stage以及自動(dòng)傾斜旋轉(zhuǎn)stage的2個(gè)Sample stage。Calibration時(shí),RETS預(yù)傾角測(cè)試,自動(dòng)set基準(zhǔn)sample。
相位差光學(xué)材料量
產(chǎn)品特點(diǎn):可更加的量測(cè)低相位差(0.1nm~)適合作為評(píng)估相位差的波長(zhǎng)分散、自動(dòng)檢測(cè)配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測(cè)器采用多頻譜分光光譜儀,展現(xiàn)任一個(gè)波長(zhǎng)的高精度相位差量測(cè)。