OmniScan MX ECA/ECT 便攜式電渦流裂紋探傷儀
- 公司名稱 增宜檢測技術(shù)（上海）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 OmniScan MX ECA/ECT
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2021/9/1 22:33:39
- 訪問次數(shù) 2001
聯(lián)系方式：楊經(jīng)理18521063563 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
增宜檢測技術(shù)（上海）有限公司是一家專注于無損檢測設(shè)備，理化分析計量儀器，實(shí)驗(yàn)室科研器材銷售及服務(wù)的一站式集成供應(yīng)商。公司代理許多上享譽(yù)*的先進(jìn)產(chǎn)品。
我們提供的工業(yè)產(chǎn)品包括超聲波檢測儀、渦流儀、激光間隙測量儀、X射線機(jī)、平板探測器、磁粉探傷機(jī)、著色滲透劑、聲發(fā)射檢測儀器、泄漏儀、內(nèi)窺鏡、顯微鏡、硬度計、合金光譜儀、金相分析儀、紅外熱像儀及其它實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)檢測設(shè)備。
我們的產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于造船、汽車、鐵路、航空、石化、冶金、風(fēng)電、核工業(yè)、軍工、特檢和高校科研等多個行業(yè)領(lǐng)域，并贏得了廣大用戶的良好口碑。
公司秉承“至信卓業(yè)，客戶至上”的經(jīng)營宗旨，崇尚“專業(yè)，高效，共贏”的服務(wù)理念，為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品，優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。我們期待成為您長期且可信賴的合作伙伴。
主要代理如下公司產(chǎn)品：
奧林巴斯測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/光譜儀
Third Dimension英國三維激光間隙測量儀
ZETEC探傷儀
GE美國通用電氣測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/射線機(jī)
萬睿視平板探測器/管頭
Eddyfi & M2M探傷儀
美國磁通磁粉滲透
Eddyfi & M2M探傷儀
奧林巴斯超聲波相控陣OMNISCAN MX2，英國三維Third Dimension GapGun Pro激光間隙測量儀，美國萬睿視Varex射線數(shù)字平板探測器，奧林巴斯超聲波探傷儀，奧林巴斯渦流探傷儀，內(nèi)窺鏡，元素分析儀，美國磁粉滲透
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工 |
OmniScan MX是一款已經(jīng)現(xiàn)場驗(yàn)證、性能可靠的儀器，其機(jī)身結(jié)構(gòu)堅固耐用，可以在嚴(yán)酷、惡劣的檢測環(huán)境中正常工作；現(xiàn)在世界上正在使用的OmniScan MX儀器有成千上萬臺。這款儀器緊湊、輕巧，使用兩節(jié)鋰離子電池供電，在電池滿電量時，可以進(jìn)行長達(dá)6小時的手動或半自動檢測。
OmniScan MX便攜式電渦流裂紋探傷儀儀器的8.4英寸顯示屏可以實(shí)時顯示高清彩色圖像，在大多數(shù)光線條件下，操作人員都可以查看缺陷及其細(xì)微情況。用戶可使用飛梭旋鈕和功能鍵在儀器簡潔、直觀的界面上輕松瀏覽，也可以將USB鼠標(biāo)連接到儀器，方便對檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。
為了滿足更廣泛應(yīng)用的要求，兩款模塊都提供渦流檢測（ECT）、渦流陣列（ECA）以及粘接檢測（BT）C掃描技術(shù)。兩款模塊都與MXE（ECT/ECA）和MXB（BT C掃描）軟件兼容；要做到這點(diǎn)，只需在各種技術(shù)之間進(jìn)行簡單轉(zhuǎn)換，操作人員接受少許培訓(xùn)即可。
ECA與ECT別無二致
覆蓋范圍廣，掃查速度快，檢出概率高
渦流陣列 (ECA) 技術(shù)融合了多種傳統(tǒng)的橋式或反射式（驅(qū)動器-拾波器）探頭線圈，以便在一次掃查檢測中覆蓋更大的范圍。此外，每款ECA探頭型號都經(jīng)過精心設(shè)計，可在沿探頭長度方向上的目標(biāo)缺陷范圍內(nèi)保持很高的檢出率。用戶在使用OmniScan MX ECA探傷儀時，可以非常快的速度手動移動ECA探頭進(jìn)行檢測，并借助彩色圖像和歸檔功能，完成性能強(qiáng)大、效率很高的檢測。
單線圈：光柵掃查
透過薄涂層進(jìn)行檢測
渦流檢測（ECT）技術(shù)基于以下磁耦合工作原理：接近被測工件（鐵磁性或非鐵磁性的導(dǎo)電材料）的探頭傳感器（線圈）在被測工件中產(chǎn)生渦流，并在儀器的阻抗圖中顯示信號。使用渦流技術(shù)時，只要探頭到金屬的距離保持在合理的近距離范圍內(nèi)，一般為0.5毫米到2.0毫米，就可以透過薄涂層（如：漆層）探測到材料中的缺陷。
渦流陣列（ECA）和渦流檢測（ECT）技術(shù)基于相同的基本原理（和物理學(xué)理論），因此也可以透過漆層進(jìn)行檢測，而且ECA技術(shù)還具有以下優(yōu)勢：覆蓋范圍大、掃查速度快、檢出概率高，及可進(jìn)行彩色成像。
交流電流在所選的頻率下通過線圈，在線圈周圍產(chǎn)生磁場。
當(dāng)線圈靠近導(dǎo)電材料時，材料中產(chǎn)生感應(yīng)渦流。
如果導(dǎo)電材料中的缺陷干擾了渦流的流通，則探頭的磁耦合效果會發(fā)生改變。通過測量線圈的阻抗變化，可以解讀缺陷信號。
采購中心
化工儀器網(wǎng)