波長范圍 | 190~3300nm | 波長準(zhǔn)確度 | ±0.1nm |
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光譜帶寬 | 1nm | 價格區(qū)間 | 面議 |
接收器類 | CMOS | 儀器結(jié)構(gòu) | 雙光束 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,能源,電子 | 雜散光(S.L.) | <0.01%T |
自動程度 | 自動波長 |
切換檢測器波長時會產(chǎn)生小的信號差異,即使這樣日立紫外可見光近紅外分光光度計UH4150也可實現(xiàn)高精度的測定
檢測器切換時附近波長測定數(shù)據(jù)例
(金納米棒的吸收光譜)
安裝在積分球上的多個檢測器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內(nèi)進行測定。由于使用日立專業(yè)的積分球結(jié)構(gòu)技術(shù)和信號處理技術(shù)等,將檢測器切換時(信號水平的差異)吸光度值的變化降到最小。
日立紫外可見光近紅外分光光度計UH4150高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實現(xiàn)低雜散光和低偏振
UH4150采用棱鏡-光柵(P-G)雙單色器的光學(xué)系統(tǒng),秉承U-4100光學(xué)系統(tǒng)的特點。棱鏡-光柵(P-G)系統(tǒng)與常見的光柵-光柵(G-G)系統(tǒng)相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品,UH4150也可實現(xiàn)低噪音測定。
分光光度計平行光束可實現(xiàn)反射光和散射光的精確測定
鏡面反射率測定示例
入射角對固體樣品鏡面反射率的測定非常重要。對于會聚光束,由于入射角根據(jù)透鏡的焦距等因素會不同,因此,像導(dǎo)電多層膜和棱鏡等光學(xué)薄膜的模擬設(shè)計值將與實際測定值不同。 但對于平行光束,相對于樣品入射角始終相同,實現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測定。此外,平行光束可用于擴散率(霧度)的評價和透鏡透過率的測定。
分光光度計可提供適合不同測定目的的多種檢測器
檢測器產(chǎn)品線
可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球。*2*3
采用全新人體工學(xué)設(shè)計
改進樣品室門,提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作,采用了符合人體工學(xué)的設(shè)計。
兼容多種分光光度計U-4100附件
通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸,適合更多的測定類型。
比分光光度計U-4100型更高的樣品通量
在秉承U-4100型光學(xué)系統(tǒng)高性能的同時,UH4150提供更高通量的測定。之前型號的儀器在1 nm數(shù)據(jù)間隔下測定時,掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進行測定,顯著縮短測定時間。*5UH4150在約2分鐘內(nèi)可從240 nm測定到2,600 nm。對需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內(nèi)測定的樣品,如太陽能反射材料,尤其有效。
掃描速度為600 nm/min的
太陽能反射材料的反射光譜
掃描速度為1,200 nm/min的
太陽能反射材料的反射光譜
微小樣品透過率測定
微小樣品透過率測定附件可用于像微型玻璃和攝像鏡頭等樣品的透過率測定。
攝像鏡頭測定示例
微小樣品透過率測定(P/N 1J0-0204)
掩膜類型 | 適合樣品尺寸 |
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φ3mm掩膜 (標(biāo)配) | φ5-φ20,厚度等于或 小于3 mm |
φ1mm掩膜 (選配) | φ3-φ20,厚度等于或 小于3 mm |
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更換光源掩膜必須要使用隨附φ4 mm光源掩膜。
漫反射率測定
可將樣品放在積分球后面(樣品側(cè)的入射角為0°)測定粉末等樣品的漫反射率。
二氧化鈦漫反射率測定示例
60 mm標(biāo)準(zhǔn)積分球(全反射和漫反射)(P/N 1J1-0120)
入射角 | 0° |
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波長范圍 | 240 - 2,600 nm |