貝克曼庫爾特新一代 LS 13 320 XR，是一款全自動、高分辨率、高準確性、高重現性以及操作非常簡單的干濕兩用粒度分析儀，它將激光衍射粒度分析儀提升到了一個更高的水平。

• 升級版 PIDS 技術（發(fā)明號：4953978，5104221）真正實現10nm粒徑測量，優(yōu)化的132枚檢測器保證了儀器分辨率

• 干法樣品臺采用龍卷風分散技術（發(fā)明:US00645414B-1）。整個系統(tǒng)不僅*粒度表征的需求，可以測量粒徑范圍更寬的顆粒（10nm-3500um），而且高分辨率+特色樣品臺，不論樣品是單峰、雙峰還是多峰，不論納米、微米還是納微米，均可以更快、更可靠地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異，實現高分辨率的檢測。

132 枚檢測器，超高分辨率，準確測量細微差異

X-D陣列檢測器 - 確保微米顆粒高分辨率的準確測量

• 特殊設計X型對數排布檢測器陣列，可以準確記錄散射光強信號，獲得真實準確的粒度分布

• 132枚檢測器能夠清晰區(qū)分不同粒度等級間散射光強譜圖差異，快速、準確的提供真實粒度分布

• 優(yōu)化的檢測器信噪比，大大提高了檢測到散射光強譜圖細微變化的能力

PIDS技術：偏振光強度差散射 - 真正實現納米顆粒測量

• 傳統(tǒng)方法測量亞微米顆粒依靠背散射光，其散射光強譜圖在形狀和強度上都非常相似，區(qū)分比較困難，因此由于分辨率低而造成不準確的粒度測量。

• 亞微米顆粒在水平和垂直偏振光下可形成差異的散射譜圖，而這些差異便是亞微米顆粒識別的重要信息。

• PIDS技術采用了3種不同波長的光順次照射樣品，首先為垂直偏振，然后為水平偏振，通過分析每個波長的水平和垂直輻射光之間的差異，便可獲得亞微米樣品準確的粒度分布信息

• 升級版PIDS技術從光源到濾波器再到檢測器都進行了全面的升級，使得測量亞微米顆粒的動態(tài)范圍和分辨率都得到了更大程度上的提高。

ADAPT多峰樣品自動檢測，更放心

• 憑借業(yè)界出眾的技術，無需預估樣品峰型（比如多峰、窄分布），無需選擇分析模型，輕松準確分析多峰樣品，讓您對測試結果更放心

• 準確性誤差優(yōu)于±0.5%

• 重復性誤差優(yōu)于0.5%

數據完整性及合規(guī)性

LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析儀配備符合GMP要求的驗證程序，可滿足安裝驗證（IQ）和運行驗證（OQ）所需。

簡單、直觀的操作軟件

• 從開始測量到獲得結果僅需 2 次點擊

• 包含集成的光學常數數據庫

• 隨時向您通報有用的用戶診斷報告

• 精簡的工作流不僅易于使用，更節(jié)省時間

應用

廣泛應用于土壤、沉積物、面粉、淀粉、奶粉、食品添加劑、飲料、黏合劑、合金、金屬粉末、硅微粉、3D打印、涂料、顏料、藥物、礦物、紙、化妝品、煤粉、鋰離子電池材料、建材紡織、甚至生物顆粒等應用領域

擅長樣品類型：

• 寬分布樣品

• 極限顆粒（納米、>1000微米）

• 多峰樣品

• 數量微小變化