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NX9000 日立高精度實(shí)時(shí)三維分析FIB-SEM三束系統(tǒng)
- 公司名稱 北京宣毅科技有限公司
- 品牌 Hitachi/日立
- 型號(hào) NX9000
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2023/6/20 11:05:25
- 訪問次數(shù) 1430
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主營(yíng)燃料電池測(cè)試系統(tǒng),旋轉(zhuǎn)環(huán)盤電極、氫標(biāo)準(zhǔn)電極,氣體擴(kuò)散電極,高電阻電壓計(jì)、零歐電流計(jì)、電解池、法拉第屏蔽箱等與電化學(xué)相關(guān)的設(shè)備及配件, 并且為客戶提供完整的電化學(xué)解決方案,針對(duì)特殊應(yīng)用提供量身定制的非標(biāo)設(shè)備!
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源 |
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SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角,形成三維結(jié)構(gòu)分析的鏡筒布局
融合高亮度冷場(chǎng)發(fā)射電子槍與高靈敏度檢測(cè)系統(tǒng),從磁性材料到生物組織——支持分析各種樣品
通過(guò)選配口碑良好的Micro-sampling®系統(tǒng)*和Triple Beam®系統(tǒng)*,可支持制作高品質(zhì)TEM及原子探針樣品
垂直入射截面SEM觀察可忠實(shí)反映原始樣品結(jié)構(gòu)
SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角,實(shí)現(xiàn)FIB加工截面的垂直入射SEM觀察。
舊型FIB-SEM采用傾斜截面觀察方式,必定導(dǎo)致截面SEM圖像變形及采集連續(xù)圖像時(shí)偏離視野,直角型結(jié)構(gòu)可避免出現(xiàn)此類問題。
通過(guò)穩(wěn)定獲得忠實(shí)反映原始結(jié)構(gòu)的圖像,實(shí)現(xiàn)高精度三維結(jié)構(gòu)分析。
同時(shí),F(xiàn)IB加工截面(SEM觀察截面)與樣品表面平行,有利于與光學(xué)顯微鏡圖像等數(shù)據(jù)建立鏈接。
樣品:小白鼠腦神經(jīng)細(xì)胞
樣品來(lái)源:自然科學(xué)研究機(jī)構(gòu)/生理學(xué)研究所 窪田芳之 先生
Cut&See/3D-EDS*1/3D-EBSD*1可支持各種材料
Cut&See
從生物組織及半導(dǎo)體到鋼鐵及鎳等磁性材料——支持低加速電壓下的高分辨率和高對(duì)比度觀察。
FIB加工與SEM觀察之間切換時(shí),不需要重新設(shè)定條件,可高效率的采集截面的連續(xù)圖像