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實(shí)際工況模擬失效分析系統(tǒng)供應(yīng)
- 公司名稱(chēng) 上海長(zhǎng)肯試驗(yàn)設(shè)備(集團(tuán))有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 生產(chǎn)廠(chǎng)家
- 更新時(shí)間 2025/2/20 13:02:35
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 3323
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溫度速變?cè)囼?yàn)設(shè)備、溫度沖擊試驗(yàn)設(shè)備、高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備、太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備、淋雨試驗(yàn)設(shè)備、沙塵試驗(yàn)設(shè)備、臭氧綜合老化試驗(yàn)設(shè)備以及步入式綜合性能試驗(yàn)設(shè)備和高風(fēng)速淋雨試驗(yàn)設(shè)備等氣候環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備
產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,電氣,綜合 |
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實(shí)際工況模擬失效分析系統(tǒng)在模擬絕緣子實(shí)際工作環(huán)境下的老化性能綜合試驗(yàn)方面主要包括:大氣環(huán)境的污垢(防塵試驗(yàn)、降雨(淋雨試驗(yàn))、太陽(yáng)輻射(光照老化試驗(yàn)放電(局放試驗(yàn))、高溫高濕(高低溫交變濕熱試驗(yàn)、大氣中腐蝕性成分老化、復(fù)合鹽霧腐蝕試等。
對(duì)于瓷絕緣子材質(zhì)在直流電壓下的老化成因,有人認(rèn)為,瓷質(zhì)中的堿 金屬離子,特別是Na”離子在遷移過(guò)程中由于獲得電子而形成體積比離子體積大兩倍的原子,局部膨脹應(yīng)力致使絕緣子破裂主要出現(xiàn)在絕緣子頭部)另外一種觀(guān)點(diǎn)認(rèn)為,離子遷移造成了瓷件內(nèi)部電阻率不同的導(dǎo)電層,導(dǎo)致不均勻的電場(chǎng)分布,長(zhǎng)時(shí)間作用后而出現(xiàn)擊其穿。為了驗(yàn)證其在運(yùn)行狀態(tài)下的老化成因,電氣制造商必須對(duì)其進(jìn) 行自然大氣環(huán)境中的工作狀態(tài)的一種模擬測(cè)試。