可靠性試驗進行介紹：

跌落試驗（

暴露因高低溫沖擊引誘的樣品缺陷

GB/T2423.8-1995

跌落測試機

）電性能參數(shù)測試：如果被測試樣品為

，參照附錄一進行參數(shù)測試。如果被測試樣品為

，參照附錄二進行參數(shù)測試。

）功能測試：電話，顯示、鈴聲、振動、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍牙、

卡以及其它未描述到的功能。

）結(jié)構(gòu)測試：殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合、天線、

、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)。

）外觀測試：噴涂、印刷、電鍍等，以及未描述到的外觀。

）內(nèi)存時鐘：樣機中存中存入

個電話和

條短信息，設(shè)置手機時鐘為當前日期時間。

測試方法：

） 樣機中存中存入

個電話和

條短信息，設(shè)置手機時鐘為當前日期時間。

）將樣機設(shè)置為開機插卡狀態(tài)，對手機進行

個面

的自由跌落實驗，每個面的跌落次數(shù)為

次，每個面跌落面都要對手機的外觀、結(jié)構(gòu)、內(nèi)存、時間和功能進行檢查。

）跌落順序為：

）跌落過程中，對于翻蓋手機，應將一半樣品打開到使用位置，一半樣品閉合為初始狀態(tài)；對于滑蓋手機應將一半樣品合上滑蓋，一半樣品將滑蓋打開到上限位置。

）若樣品數(shù)量為奇數(shù)，則多的一臺打開翻蓋或滑開滑蓋。

）測試條件：跌落高度

，

厚的大理石地板。（對于

手機，根據(jù)所屬公司質(zhì)量部門的建議可調(diào)整為跌落高度為

手機外觀、結(jié)構(gòu)、功能及內(nèi)存時間無異常。

）參數(shù)測試：與綜測儀連接進行參數(shù)測試，電性能符合測試要求。

）功能檢查：能正常電話、顯示、振動、

、揚聲器、受話器、回聲、按鍵、拍照、充電功能正常以及其它未描述到的功能均無異常。

）結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件、

及

等無脫落，殼體卡鉤無脫出、斷裂；

無破裂；天線無脫出、脫落；轉(zhuǎn)軸無松動、錯位、脫出或斷裂；滑蓋無松動、脫出、斷裂、晃動無異響，

無破裂、脫落以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；

）外觀檢查：殼體表面無明顯掉漆，無裂紋、破損、沖擊痕以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象

）樣品內(nèi)存：時鐘無異常（內(nèi)存無丟失、時鐘無混亂、復位、超前、滯后等；

）備注：電池

電池蓋脫落、關(guān)機及掉卡等、如重啟無異常，不記錄為有問題。

重復跌落測試（

Micro-Drop Test

）

測試環(huán)境：

20~25

測試目的：

驗證樣品重復跌落的可靠性

桌面跌落機

不少于

臺樣機

）參數(shù)測試：如果被測試樣品為

，參照附錄一進行參數(shù)測試。如果被測試樣品為

，參照附錄二進行參數(shù)測試

）功能測試：電話、顯示、鈴聲、振動、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍牙、

卡以及其它未描述到的功能

）結(jié)構(gòu)測試：殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合、天線、

、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)

）外觀測試：噴涂、印刷、電鍍，以及其它未描述到的外觀；

）內(nèi)存時鐘：存入

個電話和

條短信息，設(shè)置手機時鐘為當前日期時間

測試方法：

）在手機中預存入

個電話和

條短信息，設(shè)置手機時鐘為當前日期時間。

）將樣機設(shè)置為開機狀態(tài)，插入測試卡，進行

次，第

次對樣品進行功能、結(jié)構(gòu)、外觀、內(nèi)存及時間的檢查。

）跌落速率為：

次

分鐘。

）跌落高度：

。

）跌落時一半樣品跌正面，一半樣品跌背面。

試驗標準：

重復跌落

50,000

次后，對樣品進行如下檢查

）參數(shù)測試：可與綜測儀建立連接進行參數(shù)測試，手機參數(shù)應符合測試要求

）功能檢查：能正常電話、顯示、振動、

、揚聲器、受話器、回音、按鍵、指示燈、拍照、充電等功能無異常，無關(guān)機、掉卡現(xiàn)象以及其它未描述到的功能均正常。

）結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件、

及

等無脫落，殼體、卡鉤無脫出、斷裂；

無破裂；天線無脫出、脫落；轉(zhuǎn)軸無松動、錯位、脫出或斷裂；滑蓋無松動、脫出、斷裂；晃動無異響；

無破裂、脫落以及其他與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。

）外觀檢查：殼體表面無明顯掉漆、無裂紋、破損、沖擊痕以及其他與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。

）樣品內(nèi)存：時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂、復位、超前或滯后等）；

滾筒跌落測試（

Free Fall Test

）

測試環(huán)境：

室溫（

20-25

℃）

測試目的：

驗證手機疲勞跌落的可靠性

GB/T 2423.8-1995

 IEC 68-2-32:1990

滾筒跌落測試機

不少于

臺

1

）參數(shù)測試：如果被測試樣品為

，參照附錄一進行參數(shù)測試。如果被測試樣品為

，參照附錄二進行參數(shù)測試。

）功能測試：電話，顯示、鈴聲、振動、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍牙、

卡以及其它未描述到的功能。

）結(jié)構(gòu)測試：殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合、天線、

、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)。

）外觀測試：噴涂、印刷、電鍍等，以及未描述到的外觀。

）內(nèi)存時鐘：樣機中存中存入

個電話和

條短信息，設(shè)置手機時鐘為當前日期時間。

測試方法：

1

）將樣機設(shè)置為開機不插卡狀態(tài)，樣機中存入

個電話和

條短信息，設(shè)置手機時鐘為當前日期時間。

）將樣品放入滾筒跌落試驗機，進行高度為

的

次隨機跌落測試。

）每

次對樣品進行功能與結(jié)構(gòu)檢查，每

次進行電性能檢查。

）對于翻蓋手機，應將一半樣品打開到使用位置，一半樣品閉合為初始狀態(tài)；對于滑蓋手機應將一半樣品合上滑蓋，一半樣品將滑蓋打開到上限位置。

測試標準：

手機外觀、結(jié)構(gòu)、功能及內(nèi)存時間無異常。

1

）參數(shù)測試：樣品電性能測試合格。

）功能檢查：能正常電話、顯示、振動、

、揚聲器、受話器、回聲、按鍵、拍照、充電功能正常以及其它未描述到的功能均無異常。

）結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件、

及

等無脫落，殼體卡鉤無脫出、斷裂；

無破裂；天線無脫出、脫落；轉(zhuǎn)軸無松動、錯位、脫出或斷裂；滑蓋無松動、脫出、斷裂、晃動無異響，

無破裂、脫落以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。

4

）外觀檢查：殼體表面無明顯掉漆，無裂紋、破損、沖擊痕以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。

）樣品內(nèi)存：時鐘無異常（內(nèi)存無丟失、時鐘無混亂、復位、超前、滯后等）

）備注：電池

電池蓋脫落、關(guān)機及掉卡等、如重啟無異常，不記錄為有問題