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HED-W5000M 晶圓ESD測(cè)試機(jī)

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測(cè)試機(jī)測(cè)試設(shè)備

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南京芯測(cè)軟件技術(shù)有限公司,專業(yè)打造半導(dǎo)體晶圓級(jí)測(cè)試及芯片檢測(cè)等系統(tǒng)集成平臺(tái)。公司致力為客戶提供半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備國(guó)產(chǎn)化改造,以及系統(tǒng)集成的一站式平臺(tái)服務(wù)。公司的目標(biāo)是成為國(guó)內(nèi)晶圓級(jí)在片測(cè)試,器件測(cè)量系統(tǒng)軟件、硬件的先進(jìn)供應(yīng)商,以滿足國(guó)內(nèi)用戶需求,開發(fā)半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務(wù)。

南京芯測(cè)的在專注于在片測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備經(jīng)銷與晶圓在片測(cè)試軟件的研發(fā)。涉及的設(shè)備包括:手動(dòng)探針臺(tái)、半自動(dòng)探針臺(tái)、全自動(dòng)探針臺(tái)、硅光探針臺(tái)、射頻探針臺(tái)、高低溫探針臺(tái)、除此之外涉及經(jīng)銷芯片ESD測(cè)試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測(cè)設(shè)備等。我們服務(wù)的領(lǐng)域涵蓋半導(dǎo)體晶圓級(jí)在片測(cè)試、射頻微波器件測(cè)量,大功率器件測(cè)試、微組裝封裝工藝檢測(cè)、失效分析、材料測(cè)試等應(yīng)用行業(yè)

 

 

 

 

探針臺(tái),芯片ESD測(cè)試設(shè)備,TLP測(cè)試設(shè)備,CDM測(cè)試設(shè)備

應(yīng)用領(lǐng)域 化工,電氣,綜合

ESD(靜電放電)測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測(cè)試機(jī)

 

HED-W5000M


晶圓ESD測(cè)試機(jī) 

價(jià)格適中的多功能手動(dòng)晶圓級(jí)測(cè)試儀。

l  專用軟件可用于泄漏測(cè)量和判斷。

l  適用于大多數(shù)類型的手動(dòng)探針臺(tái)。 

 

 

Wafer ESD 測(cè)試機(jī)系列

 

Wafer ESD 測(cè)試機(jī) 產(chǎn)品系列

此設(shè)備是可以在Wafer level上進(jìn)行HBM,MM測(cè)試的設(shè)備

產(chǎn)品名/型號(hào) 設(shè)備說(shuō)明 設(shè)備介紹視頻

HED-W5100D
HED-W5100D

全自動(dòng) Wafer ESD測(cè)試機(jī)

從LED到系統(tǒng)LSI的大口徑Wafer,可適用于HBM和MM的放電

ESD印加后,可根據(jù)漏電流測(cè)試判斷pass/fail

并且可以與ESD測(cè)試有關(guān)聯(lián)性的TLP測(cè)試設(shè)備進(jìn)行組合測(cè)試

對(duì)ESD測(cè)試中發(fā)生問(wèn)題的器件,能有效取得保護(hù)電路中的工作參數(shù)

是滿足日本、國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備。(滿足JEITA/ESDA/JEDEC規(guī)格)


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HED-W5000M
HED-W5000M

高性能半自動(dòng)Wafer level ESD測(cè)試機(jī)

通過(guò)操作探針座,可以輕松地決定兩個(gè)管腳之間的位置

在印加脈沖后,可以通過(guò)漏電流測(cè)試判斷pass/fail。

 

HED-W5000M-SP0
HED-W5000M-SP0

Low Cost Wafer ESD Tester

低成本、高性能

可通過(guò)開放控制軟件構(gòu)建廣泛應(yīng)用程序

 

HED-W5000M-WFC
HED-W5000M-WFC

Wafer level ESD測(cè)試機(jī)

在對(duì)集成電路中保護(hù)電路工作參數(shù)的收集與分析上,雖然TLP測(cè)試機(jī)起到了很大的作用,但是在半導(dǎo)體制程細(xì)微化的發(fā)展中, 為了提高對(duì)ESD的抵抗性,保護(hù)電路需要更快的研發(fā)速度

HED-W5000M-WFC測(cè)試機(jī),因其可以觀測(cè)到被印加到器件上的實(shí)際的ESD波形,所以有助于收集、分析保護(hù)電路參數(shù)以及縮短研發(fā)速度

 

HED-W5000M 晶圓ESD測(cè)試機(jī)

 



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