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飛馳(北京)科學(xué)儀器有限公司

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Nicomp Z3000 Zeta zeta電位分析儀測(cè)粒徑

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 上海萊誼納米科技有限公司
  • 品牌 PSS
  • 型號(hào) Nicomp Z3000 Zeta
  • 產(chǎn)地 美國
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間 2024/8/26 12:00:32
  • 訪問次數(shù) 4238

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  上海萊誼納米科技有限公司成立于2017年,致力于從國外引進(jìn)世界精良的儀器、設(shè)備及技術(shù),為國內(nèi)的生物醫(yī)藥及半導(dǎo)體等納米科學(xué)領(lǐng)域的客戶提供更多的解決方案。
  2017年,我公司成為美國Particle Sizing Sytems(PSS)粒度分析儀公司及美國BEE International高壓微射流公司中國區(qū)總代理。為客戶提供納米樣品的均質(zhì)分散,粒度檢測(cè),儀器設(shè)備的銷售,安裝、培訓(xùn),驗(yàn)證和維修等所有售后服務(wù)。
  2018年,公司推出自主研發(fā)的凍融保護(hù)盒產(chǎn)品,并取得國家發(fā)明和新型實(shí)用ZL。該產(chǎn)品已經(jīng)推向市場(chǎng),已有國內(nèi)外多家生物行業(yè)的企業(yè)用戶,如上海復(fù)星,美國百特,賽默飛,默克密理博等。
  2019年,公司推出自主研發(fā)的高壓微射流均質(zhì)設(shè)備。。
  我公司的實(shí)驗(yàn)室,配置了高速剪切分散機(jī),高壓微射流納米均質(zhì)機(jī),納米粒度分析儀,zeta電位分析儀,顆粒計(jì)數(shù)器等儀器設(shè)備。能夠?yàn)榭蛻籼峁┘{米制劑的研發(fā),處方優(yōu)化,中試及放大生產(chǎn)的工藝設(shè)計(jì),設(shè)備選型,生產(chǎn)線建設(shè)等成套服務(wù)。
  無論是納米材料的制備和生產(chǎn),還是檢測(cè)和品控,我們均能為客戶提供完整的解決方案。
  本著始于客戶需求、終于客戶滿意的宗旨,我們將竭誠為廣大新老用戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。
  公司現(xiàn)有部分客戶名單:
  中芯國際,臺(tái)積電,三星,LG,長江存儲(chǔ),揚(yáng)子江藥業(yè),恒瑞制藥,西安力邦,廣東大冢,四川科倫,湖北人福,復(fù)旦大學(xué),上海交通大學(xué),中科院上海藥物所,中國醫(yī)藥工業(yè)研究總院等。

 

 

 

 

 

 

 

高壓微射流均質(zhì)機(jī),凍融保護(hù)盒,微流控制平臺(tái),納米激光粒度儀,大顆粒分析儀、激光粒度儀,大乳粒分析儀等

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 分散方式 濕法分散
價(jià)格區(qū)間 面議 儀器種類 動(dòng)態(tài)光散射
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),制藥 粒度范圍 0.3nm--10.0μm
Zeta電位范圍 -500mV?--?+500mV

zeta電位分析儀測(cè)粒徑簡(jiǎn)介:

Nicomp Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380ZLS基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來,采用動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布,粒徑檢測(cè)范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和擁有*技術(shù)的 Nicomp 多峰算法,對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優(yōu)勢(shì)。

zeta電位分析儀測(cè)粒徑

zeta電位分析儀測(cè)粒徑

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

1、高靈敏度PMT檢測(cè)器;

2、可搭配不同功率光源;

3、準(zhǔn)確度高,接近樣品真實(shí)值;

4、可測(cè)試水相及有機(jī)相樣品的粒度及Zeta電位;

5、快速檢測(cè),可以追溯歷史數(shù)據(jù);

6、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn);

7、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求;

8、無需校準(zhǔn);

9、復(fù)合型算法:

(1)高斯(Gaussion)正態(tài)粒度分布與*的Nicomp多峰分布算法自由切換

(2)頻率(Frequency)Zeta電位分析法與*的相位(Phase)分析法自由切換

10、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級(jí);

(1)可自動(dòng)稀釋模塊(選配);

(2)自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)(選配);

(3)搭配多角度檢測(cè)器(選配);


Nicomp多峰分布概念

基線調(diào)整自動(dòng)補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所*的兩個(gè)主要特點(diǎn),Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole很早就認(rèn)識(shí)到傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布,這和實(shí)踐生產(chǎn)生活中不相符,因?yàn)楝F(xiàn)實(shí)中很多樣本是多分散體系,非單分散體系,而且高斯分布靈敏性不足,分辨率不高,這些特點(diǎn)都制約了納米粒度儀在實(shí)際生產(chǎn)生活中的使用。其開創(chuàng)性的開創(chuàng)了Nicomp多峰分布理論,大大提高了動(dòng)態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。


Nicomp多峰分布優(yōu)勢(shì)

Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果,更可以通過Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的準(zhǔn)確情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計(jì),Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。


zeta電位分析儀測(cè)粒徑優(yōu)勢(shì):

模塊化設(shè)計(jì)

Nicomp Z3000納米激光粒度儀是全*在應(yīng)用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的*進(jìn)粒度儀。隨著模塊的升級(jí)和增加,Nicomp 的功能體系越來越強(qiáng)大,可以用于各種復(fù)雜體系的檢測(cè)分析。


選配 21CFR Part 11法規(guī)軟件——符合cGMP要求

Nicomp系列儀器全系配備了符合美國聯(lián)邦法規(guī)21章第11款(21 CFR PART11)要求的軟件。具有數(shù)據(jù)自動(dòng)備份,審計(jì)追蹤,權(quán)限分級(jí),電子簽名,可連接Lims系統(tǒng)等多項(xiàng)功能。

中國食品藥品監(jiān)督管理局(NMPA)有政策趨勢(shì)將對(duì)醫(yī)藥研發(fā)企業(yè)實(shí)施規(guī)范的GLP 管理。使用符合21 CFR PART 11法規(guī)的軟件更能符合現(xiàn)在GLP/GMP的要求。


zeta電位分析儀測(cè)粒徑


 



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