硅光子和PIC測試
- 公司名稱 上海攸亦光電科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2022/12/7 9:48:42
- 訪問次數(shù) 1038
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價格區(qū)間 | 面議 | 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子,綜合 |
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組件類別 | 其他 |
硅光子和PIC測試
硅光子和光子集成最/全面、最快速的測試方案
LUNA提供基于光頻域反射技術(shù)(OFDR)的獨/特測試系統(tǒng),和為現(xiàn)代硅光子 集成器件提供準確和快速的測試方案。
10μm空間分辨率的器件光路損耗測試
Luna的超高空間分辨率背光反射計,具備背向散射級的探測靈敏度,為光無源 器件提供前/所未有的分布式損耗分析。
一臺設備即可測試器件的全部光學參數(shù)
Luna光矢量分析儀(OVA)能夠通過對光無源器件的一次掃描測量,即可完成 對線性傳輸矩陣 (瓊斯矩陣)、插入損耗 (IL)、群延時 (GD)、色散 (CD)、偏振模 色散 (PMD)、偏振相關損耗 (PDL) 等關鍵光學參數(shù)的測量。
全新6415光器件分析儀
Luna全新的6415是一款同時具備高測量頻率和高空間分辨率的背光反射計產(chǎn) 品,同時可提供插入損耗(IL)的透射測試和分析模式,是產(chǎn)線檢測和品質(zhì)控 制的理想選擇。
應用
?生產(chǎn)測試
?質(zhì)量控制
?生產(chǎn)問題診斷
?設計表征與分析
?驗證模型并改進仿真
?無源光器件和模塊:濾波器、PLC、AWG、MUX/DEMUX、 分光器、光柵、WSS、ROADMs等
示例:平面光波導的表征
平面光波導作為硅光子平臺的關 鍵組成部分,對測量方法提出了 更高的挑戰(zhàn),包括在單位長度內(nèi) 存在更大的損耗、更高的偏振相 關性等等。
Luna的掃描激光干涉技術(shù),能夠通過對器件的掃描,獲得沿器件光路的 亞毫米級空間分辨率的損耗測量結(jié)果,同時也可獲得更全面的其他光學參 數(shù)指標。比如對波導光柵的測量,我們能夠同時獲得波導光柵在時域上的 端面及尺度特性,以及在頻域上的頻譜響應特性。
使用Luna的分析軟件,您可以區(qū)分并挑選合適的光柵反射區(qū)域,從而可 以輕松觀察到TM模和TE模在頻譜響應中表現(xiàn)出的不同偏振效應。否則, 整體頻譜響應(如下圖中紅色曲線所示)將被很強的端面反射造成的頻譜 響應所充滿。
時域響應結(jié)果顯示,強烈的端面反射和波導光柵反射能夠被清晰 的區(qū)分和呈現(xiàn)。
通過時域響應能夠很容易地確定光柵反射峰值,從而可僅對光柵部 分進行頻譜分析(藍色曲線)。波導的整體頻譜響應如紅色曲線所示。
*的硅光子和 PIC 測試解決方案
Luna*的光學測量系列產(chǎn)品,基于光頻域反射技術(shù)(OFDR),具有業(yè)界領/先的測試動態(tài)范圍、時域和頻譜測試分辨率以及 測試速度。
光矢量分析儀 OVA 5000 • 全面的波導器件表征 • 全面的偏振分析,無需偏振控制器或 準直保偏光纖 • 單次快速掃描,即可獲得 IL、RL、PDL、CD、PMD、TE/TM狀 態(tài)等參數(shù)的測試結(jié)果 | 背光反射計 OBR 4600 • 卓/越的硅光子、PIC和光學器件的光路 分布式損耗測試能力 • 10μm長度分辨率; -140dB探測靈敏度 • 易于測量和分析波導散射和損耗特性 • 亞皮秒分辨率的長度偏差測量 | 光器件分析儀 Luna 6415 •用于產(chǎn)線測試和質(zhì)量控制的高速分析儀 •單臺儀器具有反射和透射兩種測量模式 • 高空間分辨率的沿光路長度上的回損 分布測試 • 透射和反射光路的頻譜響應分析 |
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