EVO 掃描電子顯微鏡SEM
- 公司名稱(chēng) 北京瑞科中儀科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) EVO
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2024/7/10 7:09:17
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 3844
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
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掃描電子顯微鏡SEM
模塊化的 SEM 平臺(tái)適用于直觀操作、例行檢測(cè)和研究應(yīng)用
EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶(hù)界面體驗(yàn)結(jié)合在一起, 同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶(hù)以及新用戶(hù)。無(wú)論是在生命科學(xué), 材料科學(xué), 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域,憑借廣泛的可選配置, EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。
顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量保證實(shí)驗(yàn)室的多功能解決方案
不同的真空室大小和可滿(mǎn)足所有應(yīng)用要求的載物臺(tái)選項(xiàng)-甚至是大型工業(yè)零部件樣品
使用LaB6燈絲,能夠得到優(yōu)異的圖像質(zhì)量
對(duì)不導(dǎo)電和無(wú)導(dǎo)電涂層的樣品的成像和分析性能出色
可以配置多種分析探測(cè)器用于滿(mǎn)足各種顯微分析應(yīng)用的需求
SmartSEM Touch可以通過(guò)使用您的指尖與其進(jìn)行交互式工作流程控制。它簡(jiǎn)單易學(xué), 大大減少了培訓(xùn)所付出的努力和成本,甚至新用戶(hù)在幾分鐘內(nèi)也能夠捕捉令人驚嘆的圖像。此用戶(hù)界面還支持需要自動(dòng)化工作流程以執(zhí)行可重復(fù)檢查任務(wù)的工業(yè)操作員。 | 優(yōu)異的圖像質(zhì)量
EVO 擅長(zhǎng)于對(duì)未經(jīng)處理和沒(méi)有導(dǎo)電涂層的樣品獲取高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。EVO 還允許樣品保留其原始狀態(tài), 維持含水和重污染樣品的數(shù)據(jù)質(zhì)量。此外當(dāng)成像和微量分析面臨挑戰(zhàn)時(shí),選用LaB6燈絲則能夠給予更好的分辨率、 對(duì)比度和信噪比。
| EVO 能夠與其它設(shè)備相關(guān)聯(lián)
EVO可以作為半自動(dòng)、多模式工作流程的一部分,通過(guò)重新定位感興趣區(qū)域,并以多種方式收集數(shù)據(jù),形成信息的完整性。將光學(xué)和電子顯微鏡圖像合并起來(lái)進(jìn)行材料表征或零件檢驗(yàn),或者將 EVO 與蔡司光學(xué)顯微鏡相關(guān)聯(lián),進(jìn)行關(guān)聯(lián)顆粒度分析。 |
EVO 系列
真空室尺寸選擇
蔡司EVO 10 | 蔡司EVO 15 | 蔡司EVO 25 | |
選擇 EVO 10(可選配BSD和EDS)是您想以一個(gè)非常實(shí)惠的價(jià)格購(gòu)買(mǎi)掃描電子顯微鏡的切入點(diǎn)。即使這個(gè)EVO真空室很小,它也不同于臺(tái)式電鏡。您現(xiàn)在在 EVO 的投資保證了您已經(jīng)為將來(lái)需要更多空間和端口的應(yīng)用做好了準(zhǔn)備。
| EVO 15 充分展示了 EVO 家族的靈活性概念, 并擅長(zhǎng)于分析應(yīng)用。選擇 EVO 15 更大的真空室, 并增加對(duì)不導(dǎo)電樣品或零件的成像和分析的可變壓力模式, 你將有一個(gè)多功能多用途的顯微鏡設(shè)備或者工業(yè)質(zhì)量保證實(shí)驗(yàn)室的解決方案。 | EVO25 是工業(yè)的主力解決方案, 它有足夠的空間以容納甚至更大的部件和組件??蛇x的 80 mm Z 軸行程載物臺(tái)可進(jìn)一步擴(kuò)展 EVO 25的功能, 它可以處理重量高達(dá)2公斤的樣品甚至傾斜。此外, 大的真空室將能夠容納多個(gè)分析檢測(cè)器以滿(mǎn)足苛刻的微量分析應(yīng)用需求。 | |
最大樣品高度 | 100 mm | 145 mm | 210 mm |
最大樣品直徑 | 230 mm | 250 mm | 300 mm |
電動(dòng)載物臺(tái)行程XYZ |
80 x 100 x 35 mm
| 125 x 125 x 50 mm | 130 x 130 x 50 (或 80) mm |
高真空模式 (HV) 導(dǎo)電樣品質(zhì)量的成像與分析 | |||
可變壓力模式 (VP) 不導(dǎo)電且不噴涂導(dǎo)電層樣品的高質(zhì)量成像和分析 | |||
擴(kuò)展壓力模式 (EP) 含水或被污染的樣品在其自然狀態(tài)下成像 |
適合更多用戶(hù)操作
對(duì)于經(jīng)驗(yàn)豐富的以及新手用戶(hù)操作都很方便
在實(shí)際的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中,SEM 的操作通常是顯微鏡專(zhuān)家的專(zhuān)屬領(lǐng)域。但是對(duì)于非專(zhuān)家級(jí)用戶(hù)來(lái)說(shuō),操作SEM就變得具有挑戰(zhàn),比如學(xué)生、受訓(xùn)者或質(zhì)量工程師,他們往往也需要從 SEM獲取數(shù)據(jù)。 EVO 則同時(shí)考慮了這兩類(lèi)用戶(hù)的需求,用戶(hù)界面選項(xiàng)既能滿(mǎn)足有經(jīng)驗(yàn)的顯微鏡專(zhuān)家也能滿(mǎn)足非專(zhuān)業(yè)用戶(hù)的操作需要。