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飛馳(北京)科學(xué)儀器有限公司

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Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)

參考價(jià) 500000
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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奧法美嘉(Alpharmaca)科技有限公司于2010年在上海成立,立足于醫(yī)藥行業(yè),耕耘于納米科學(xué)材料,化工,半導(dǎo)體,環(huán)境科學(xué),汽車,過濾,涂料,墨水,油品等行業(yè),以的納米微米檢測(cè)技術(shù),“粒度分析,專注客戶體驗(yàn)”。這已經(jīng)成為奧法美嘉團(tuán)隊(duì)的信條。

借助于20多年的行業(yè)積累和技術(shù)儲(chǔ)備,奧法美嘉將世界上處于技術(shù)地位的美國PSS粒度儀公司的激光粒度儀引入到中國市場,秉承著“傳授粒度真知”“普及粒度知識(shí)”的理念,伴隨著納米知識(shí)的普及,伴隨著中國經(jīng)濟(jì)向制造業(yè)的轉(zhuǎn)型,經(jīng)過短短幾年,奧法美嘉科技有限公司作為美國PSS粒度儀公司在中國的代表,從COE的建立運(yùn)營,到如今覆蓋全中國銷售網(wǎng)絡(luò)和售后服務(wù)網(wǎng)絡(luò),不僅用真誠的態(tài)度,而且用務(wù)實(shí)的知識(shí),獲得了廣大客戶的*好評(píng)。

Particle Solutions srl(意大利PSI均質(zhì)機(jī)公司)位于意大利海濱工業(yè)城鎮(zhèn)拉齊奧地區(qū),毗鄰歷史的古城羅馬,由從事粒度相關(guān)領(lǐng)域內(nèi)的歐洲科學(xué)家以及工程師所組成的團(tuán)隊(duì)發(fā)起創(chuàng)立。公司團(tuán)隊(duì)擁有25年粒度檢測(cè)知識(shí)積累,15年儀器工業(yè)設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn),15年高壓均質(zhì)技術(shù)經(jīng)驗(yàn)及應(yīng)用研究。

通過深入發(fā)掘客戶需求和應(yīng)用難點(diǎn),PSI團(tuán)隊(duì)研發(fā)出了新型高壓微射流均質(zhì)機(jī),其穩(wěn)定可控的均質(zhì)壓力及高剪切力了工藝可線性放大且可大產(chǎn)量需求,低噪音的設(shè)計(jì)理念可大大減緩傳統(tǒng)工藝中的高噪音對(duì)于操作人員的不利影響,小巧緊湊的機(jī)身設(shè)計(jì)可以*適應(yīng)從實(shí)驗(yàn)室研發(fā)到中試及大生產(chǎn)的各種工作場景。自組建以來,團(tuán)隊(duì)累積了醫(yī)藥,生物,半導(dǎo)體,新材料等行業(yè)的相關(guān)應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)。

現(xiàn)奧法美嘉綜合PSS粒度儀和PSI均質(zhì)機(jī),為中國制造業(yè)提供納米技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)從生產(chǎn)研發(fā)設(shè)備到檢測(cè)儀器的整套解決方案。


企業(yè)文化(Company Philosophy)


“共享 共建 共發(fā)展”“求誠 求信 求真知”


現(xiàn)代企業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)為規(guī)范化、化、文明化、個(gè)性化。伴隨著中國經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展和騰飛,中國社會(huì)的各個(gè)層面在發(fā)生翻天覆地的變化,“中國制造”的標(biāo)簽也會(huì)逐漸演變?yōu)椤爸袊鴦?chuàng)造”。而企業(yè)的發(fā)展創(chuàng)造依靠的就是人才!人才是一切發(fā)展的基石和動(dòng)力。這反過來對(duì)“人才”從素養(yǎng),知識(shí),認(rèn)知,理念等各方面提出了新的要求和高度。

奧法美嘉一直秉承“共享 共建 共發(fā)展”的用人理念,“求誠 求信 求真知”的做事理念。在尋求高素質(zhì)人才的同時(shí),更加注重于已入職員工的培養(yǎng)。員工入職從基礎(chǔ)的醫(yī)藥行業(yè)準(zhǔn)入知識(shí)開始培訓(xùn),覆蓋知識(shí)技能培訓(xùn),商務(wù)技能培訓(xùn),職業(yè)規(guī)劃到人生規(guī)劃。公司的目標(biāo)之一是希望每個(gè)人都能成為合格的項(xiàng)目經(jīng)理,成為一名有理想有追求有素養(yǎng)的職場人,且能夠獨(dú)當(dāng)一面,實(shí)現(xiàn)自己的人生價(jià)值!










納米粒度儀,顆粒計(jì)數(shù)器,不溶性微粒檢測(cè)儀,在線粒度檢測(cè)儀,高壓微射流均質(zhì)機(jī),Zeta電位與粒徑分析儀,大乳粒分析儀,粒度儀,激光粒度儀,納米激光粒度儀

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 30萬-50萬
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子

Nicomp® 3000
納米激光粒度儀

動(dòng)態(tài)光散射儀
Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)    

具有50+年歷史
專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案
助您探索納米宇宙的精微奧秘!

0.9°步進(jìn)型多角度(MADLS)真正的多角度模塊

不同粒徑的納米粒子,尤其是粒徑遠(yuǎn)小于激光波長的粒子在傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論下,力度分布(PSD)會(huì)失去一些細(xì)節(jié)。Entegris(PSS)Nicomp® 3000 系列開創(chuàng)性地配備了可以從14.4°-180°范圍內(nèi),步長0.9°的多角度模塊,對(duì)特殊樣品(如極小粒徑)可以選用合適的角度進(jìn)行檢測(cè),顯著提高對(duì)復(fù)雜體系的分辨力。

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)        

復(fù)用型直插靶電級(jí),減少耗材成本

Zeta電位檢測(cè)模塊,采用雙列直插式靶電極,清潔方便,易于清洗,可以反復(fù)使用。既保護(hù)了環(huán)境,也大大減少了使用一次性可丟棄的電極模塊的成本。

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)                

專有的Nicomp®多峰分布,可分辨1:2的多組分

Entegris(PSS)Nicomp® 3000系列搭載了Nicomp®多峰算法,可以有效區(qū)分不同粒徑(1:2的不同組分),為復(fù)雜體系和多組分體系提供了強(qiáng)有力的生產(chǎn)工具。

(下圖為同一復(fù)雜體系樣品分別在高斯算法和Nicomp®算法所呈現(xiàn)的結(jié)果)

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)                    
Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)                

高斯粒徑分布圖

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)                

Nicomp®多峰粒徑分布圖


                   

自動(dòng)稀釋模塊和自動(dòng)進(jìn)樣模塊,減少試錯(cuò)成本和人工誤差

Entegris(PSS)Nicomp® 3000 系列在動(dòng)態(tài)光散射法上應(yīng)用了自動(dòng)稀釋模塊和自動(dòng)進(jìn)樣模塊,既可以有效避免人工稀釋所帶來的試錯(cuò)成本和誤差,更可以實(shí)現(xiàn)檢測(cè)的自動(dòng)化操作,為大批量的檢測(cè)提供了良好的解決方案。

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)      Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)  

產(chǎn)品介紹
PRODUCT INTRODUCTION
   

Nicomp® Z3000納米粒度及ZETA電位分析儀

檢測(cè)范圍

粒徑檢測(cè):0.3nm-10.0μm

Zeta電位:-500mV-+500mV

應(yīng)用領(lǐng)域

醫(yī)藥領(lǐng)域蛋白、病毒、脂質(zhì)體、乳劑、膠束、納米晶、疫苗、納米載體、細(xì)胞等
化工領(lǐng)域墨水、顏料、高分子材料、化工染料、潤滑劑、石油化工、量子等
半導(dǎo)體領(lǐng)域光刻膠、CMP slurry、樹脂等
其他食品、飲料、化妝品等
Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)            

MINI DLS在線納米激光粒度儀/在線動(dòng)態(tài)光散射儀

粒徑范圍20nm-2μm*
濃度0.1-10wt%
重復(fù)性±5%
檢測(cè)器PMT(光電倍增管)
激光波長精確性±10%
檢測(cè)角度90°

無需校準(zhǔn)
*hydrodynamic radius,流體動(dòng)力學(xué)半徑

應(yīng)用領(lǐng)域

均質(zhì)機(jī)/研磨機(jī)下游的粒度控制
脂質(zhì)體和乳劑等納米制劑產(chǎn)品的生產(chǎn)監(jiān)控
CMP漿料(研磨液)的磨損監(jiān)控
納米先進(jìn)材料生產(chǎn)過程中粒度監(jiān)控

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)            

儀器原理
PRINCIPLE
   

動(dòng)態(tài)光散射方法(Dynamic Light Scattering)原理示意圖

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)                    Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)    

Zeta電位工作原理示意圖

Zeta電位用于測(cè)試顆粒之間排斥力 ,是判斷體系穩(wěn)定性的測(cè)量手段。

   

布朗運(yùn)動(dòng)的一個(gè)重要特點(diǎn)是:小粒子運(yùn)動(dòng)快速,大顆粒運(yùn)動(dòng)緩慢。由于粒子在不停地運(yùn)動(dòng),散射光斑也將出現(xiàn)移動(dòng)。由于粒子四處運(yùn)動(dòng),散射光的相位疊加,將引起光亮區(qū)域和黑暗區(qū)域呈光強(qiáng)方式增加和減少或以另一種方式表達(dá),光強(qiáng)也成波動(dòng)形式。即:粒子的布朗運(yùn)動(dòng)導(dǎo)致光強(qiáng)的波動(dòng)。

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)                Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)    

通過拉普拉斯逆轉(zhuǎn)換,將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成指數(shù)光譜的形式進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,將雜亂無章的波動(dòng)曲線轉(zhuǎn)換成有規(guī)則的自相關(guān)C(t)函數(shù)曲線。

通過自相關(guān)C(t)函數(shù)曲線得到衰變常數(shù)τ,通過下面公示得到擴(kuò)散系數(shù)D;

1/τ= 2DK2 (K是散射光波矢量,是一個(gè)常數(shù))

最后在通過 Stokes-Einstein 方程,得到粒徑大小R:

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)    

公式中:
K = 玻爾茲曼常數(shù);
T = 絕對(duì)溫度;
h = 溶液的剪切粘度;
R = 粒子大小的半徑;
D = 擴(kuò)散系數(shù);

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)            

Nicomp® 3000系列設(shè)備檢測(cè)原理圖

Nicomp® 3000系列納米激光粒度儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理檢測(cè)分析樣品的粒度分布。基于多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering,ELS)檢測(cè)ZETA電位。其主要用于檢測(cè)納米級(jí)別及微米級(jí)別的體系,粒徑檢測(cè)范圍0.3nm-10μm,ZETA電位檢測(cè)范圍為±500mV。動(dòng)態(tài)光散射方法(DLS)從傳統(tǒng)的光散射理論中分離,關(guān)注瑞利散射區(qū)的小顆粒,主要用于檢測(cè)納米級(jí)別的分散體系。動(dòng)態(tài)光散射是通過光強(qiáng)值的波動(dòng)得到自相關(guān)函數(shù),從而獲得衰減時(shí)間常量τ,進(jìn)而計(jì)算獲得粒子的擴(kuò)散速度D(Diffusion Coefficient,擴(kuò)散系數(shù)),代入Stokes-Einstein方程式,就可以計(jì)算得到顆粒的半徑。

Zeta電勢(shì)電位測(cè)定:Nicomp® Z3000結(jié)合了動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)(DLS)和電泳光散射法(ELS),實(shí)現(xiàn)了同機(jī)測(cè)試亞微米粒子分布和ZETA電勢(shì)電位。ELS是將電泳和光散射結(jié)合起來的一種新型光散射,它的光散射理論基礎(chǔ)是準(zhǔn)彈性碰撞理論,在實(shí)驗(yàn)時(shí)通過在樣品槽中外加一個(gè)外電場,帶電粒子即會(huì)以固定速度向與帶電粒子電性相反的電極方向移動(dòng),與之相應(yīng)的動(dòng)態(tài)光散射光譜產(chǎn)生多普勒漂移,這一漂移正比于帶電粒子的移動(dòng)速度,因此由實(shí)驗(yàn)測(cè)得的譜線的漂移,就可以求得帶電粒子的電泳速度,從而得到電位值。通過測(cè)試顆粒之間的排斥力,判斷體系穩(wěn)定性的測(cè)量手段之一。

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)        
Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)        

相位分析法(PALS):用相位(Phase)變化的分析取代原先頻譜的漂移,不僅使Zeta電位分析的精度及穩(wěn)定性有了顯著的提高,而且突破了水相體系的限制,對(duì)有機(jī)相體系同樣能提供Zeta電位的精確分析。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
PRODUCT HIGHLIGHT
   

0.9°步進(jìn)型多角度(MADLS)真正的多角度模塊

不同粒徑的納米粒子,尤其是粒徑遠(yuǎn)小于激光波長的粒子在傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論下,力度分布(PSD)會(huì)失去一些細(xì)節(jié)。Entegris(PSS)Nicomp® 3000 系列開創(chuàng)性地配備了可以從14.4°-180°范圍內(nèi),步長0.9°的多角度模塊,對(duì)特殊樣品(如極小粒徑)可以選用合適的角度進(jìn)行檢測(cè),顯著提高對(duì)復(fù)雜體系的分辨力。

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)    

專有的Nicomp®多峰分布,可分辨1:2的多組分

Entegris(PSS)Nicomp® 3000系列搭載了Nicomp®多峰算法,可以有效區(qū)分不同粒徑(1:2的不同組分),為復(fù)雜體系和多組分體系提供了強(qiáng)有力的生產(chǎn)工具。
(下圖為同一復(fù)雜體系樣品分別在高斯算法和Nicomp®算法所呈現(xiàn)的結(jié)果)

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)                

高斯粒徑分布圖

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)                

Nicomp®多峰粒徑分布圖

超高分辨率的納米檢測(cè)精度

通過蛋白質(zhì)樣品的測(cè)試,Nicomp® 納米激光粒度儀對(duì)于小于10nm的粒子,依然顯示超高的分辨率和準(zhǔn)確度。Nicomp® 納米激光粒度儀的這種超高分辨率可以有效幫助研究人員更準(zhǔn)確更真實(shí)的檢測(cè)出樣品粒度分布。

如下圖,蛋白質(zhì)單聚體的粒徑大小為1.7nm

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)            

蛋白質(zhì)雙聚體的理論粒徑大小為1.7nm的兩倍3.4nm。Nicomp®  3000系列測(cè)得的結(jié)果為2.9nm左右。這個(gè)數(shù)值符合實(shí)際粒徑大小。

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)            

針對(duì)更復(fù)雜的四聚體,其理論粒徑為單聚體的4倍6.8nm。Nicomp® 3000系列測(cè)得的結(jié)果為5.7nm。這個(gè)數(shù)值符合實(shí)際粒徑大小。

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)            
Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)                

將上述3個(gè)數(shù)據(jù)疊加,我們可以清晰地看到在10nm以下仍然能得到粒徑相差很小的3個(gè)峰,顯示Nicomp® 3000系列儀器有超高的分辨率和靈敏度。

自動(dòng)稀釋模塊和自動(dòng)進(jìn)樣模塊,減少試錯(cuò)成本和人工誤差

Entegris(PSS)Nicomp® 3000 系列在動(dòng)態(tài)光散射法上應(yīng)用了自動(dòng)稀釋模塊和自動(dòng)進(jìn)樣模塊,既可以有效避免人工稀釋所帶來的試錯(cuò)成本和誤差,更可以實(shí)現(xiàn)檢測(cè)的自動(dòng)化操作,為大批量的檢測(cè)提供了良好的解決方案。

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)            

Multiple sample trays available

3×7 samples-30mm tube(50mL)
4×10 samples-20mm tube(20mL)
5×12 samples-16mm tube(14mL)
6×15 samples-13mm tube(7mL)

復(fù)用型直插靶電級(jí),減少耗材成本

Zeta電位檢測(cè)模塊,采用雙列直插式靶電極,清潔方便,易于清洗,可以反復(fù)使用。既保護(hù)了環(huán)境,也大大減少了使用一次性可丟棄的電極模塊的成本。

   

PMT&APD雙檢測(cè)器

Entegris(PSS)Nicomp® 3000 系列可以裝配高靈敏度的光電倍增管檢測(cè)器以及雪崩二極管檢測(cè)器,相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有7-10倍放大增益效果。

   

軟件工作站
SOFTWARE WORKSTATION
   

全面的權(quán)限管理

靈活設(shè)置用戶管理權(quán)限,增加安全性??稍O(shè)置密碼復(fù)雜度,自動(dòng)登出時(shí)間,密碼修改時(shí)限,滿足CSV計(jì)算機(jī)系統(tǒng)驗(yàn)證。

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)            

1.用戶管理
2.允許編輯測(cè)樣方法
3.數(shù)據(jù)庫管理
4.鏈接驅(qū)動(dòng)
4.允許用戶用儀器測(cè)量樣品
5.對(duì)主機(jī)中固件更新(工程師權(quán)限)
6.密碼權(quán)限設(shè)置
7.可看、輸出、更改數(shù)據(jù)自動(dòng)備份位置
8.更改重新計(jì)算測(cè)試數(shù)據(jù)
9.導(dǎo)入曲線
10.曲線校準(zhǔn)(不對(duì)用戶開放)
11.增加減少報(bào)告模板
12.允許打印或?qū)С鰣?bào)告
13.刪除測(cè)樣數(shù)據(jù)(僅軟件界面看不到,數(shù)據(jù)庫數(shù)據(jù)依然存在,并可還原)
14. 刪除測(cè)樣數(shù)據(jù)
15. 刪除報(bào)告
16. 刪除文件

完整的審計(jì)追蹤

具備詳細(xì)的審計(jì)追蹤記錄,支持日志導(dǎo)出打印,記錄用戶登錄期間所有操作,可根據(jù)操作類型、時(shí)間、項(xiàng)目等檢索。

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)    

多種數(shù)據(jù)備份方式

數(shù)據(jù)備份支持手動(dòng)、自動(dòng)備份到文件路徑。備份內(nèi)容包含完整數(shù)據(jù)內(nèi)容、操作方法、審計(jì)追蹤記錄日志等。

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)    

軟件測(cè)試界面

簡潔明了,支持不同權(quán)重,不同分析模型實(shí)時(shí)切換,可快速查詢不同指標(biāo)。

Zeta電位與粒徑分析儀(奧法美嘉)        

儀器參數(shù)
INSTRUMENT SPECIFICATION

Nicomp® Z3000納米粒度及Zeta電位分析儀                
配置                Standard                 Pro                Plus                Ultimate                
溫度范圍0°C~90°C(±0.1°C控溫精度,無冷凝)
激光光源固體激光器
激光功率                15mW                35mW                35mW                35mW                
PH值范圍1~14
粒度
分析方法動(dòng)態(tài)光散射,Gaussian分布和Nicomp多峰分布
檢測(cè)范圍0.3nm~10μm
最小樣品量10μL
最大濃度40%w/v
測(cè)量角度90°90°多角度(14.4°~180°,包含90°,步進(jìn)0.9°)
分子量342-2*10Da
ZETA電位
分析方法電泳光散射(ELS),多普勒頻譜分析法/相位分析法
檢測(cè)范圍0.3nm~10μm
最小樣品量±500mV
最大濃度40%w/v
測(cè)量角度-14.9°
分子量342-2*10Da
附件
檢測(cè)器PMT(光電倍增管)PMT(光電倍增管)&APD(雪崩二極管)
樣品池                                                                
科研版軟件                                                                
雙列直插式靶電極                                                                
21 CFR Part11軟件                                                                
多角度檢測(cè)模塊/                /                                                
自動(dòng)進(jìn)樣模塊/                /                /                                
自動(dòng)稀釋模塊/                /                /                                
尺寸56cm*4lcm*24cm
重量約26kg(與配置相關(guān))

注:以實(shí)際樣品為準(zhǔn)                標(biāo)配,隨箱自帶選配,單獨(dú)購買                


   



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