LJD-C 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀
- 公司名稱 北京航天易達(dá)儀器設(shè)備有限公司
- 品牌 航天易達(dá)
- 型號(hào) LJD-C
- 產(chǎn)地 北京
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/1/14 15:18:58
- 訪問次數(shù) 1908
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電壓擊穿試驗(yàn)儀，體積表面電阻率測(cè)試儀，介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀，耐電弧測(cè)試儀，滑動(dòng)摩擦磨損，橡膠塑料檢測(cè)儀器
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,建材,汽車,電氣 |
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀
儀器介紹
LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。
技術(shù)參數(shù)
LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前高的160MHz。 LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用了多項(xiàng)技術(shù)：
1 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。
2 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
3 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
4 自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。
5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。
6 DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。
7 計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路*化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。
LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，無疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具，測(cè)量值更為精確，測(cè)量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì)，無須關(guān)注量程和換算單位
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要技術(shù)特性
| Q 值測(cè)量范圍 | 2 ～ 1023 ,量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000,自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔 |
| 固有誤差 | ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％(200kHz ～ 10MHz ),≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） |
| 工作誤差 | ≤7％ ± 滿度值的2％( 200kHz ～ 10MHz),≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） |
| 電感測(cè)量范圍 | 4.5nH ～ 140mH |
| 電容直接測(cè)量范圍 | 1 ～ 200pF |
| 主電容調(diào)節(jié)范圍 | 18 ～ 220pF |
| 主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度 | 120pF 以下 ± 1.2pF;120pF 以上 ± 1 ％ |
| 信號(hào)源頻率覆蓋范圍 | 100kHz ～ 160MHz |
| 頻率分段(虛擬) | 100 ～ 999.999kHz ,1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz |
| 頻率指示誤差 | 3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字 |
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