FE-1050系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡在新一代電子光學(xué)鏡筒的加持下，展現(xiàn)低電壓、高分辨的性能。27個(gè)端口拓展、大艙室，輕松應(yīng)對各類成像、分析需求。極簡化操作、自動(dòng)化交互、智能化特征識(shí)別統(tǒng)計(jì)，成倍提高工作效率。以“質(zhì)”為先，以“優(yōu)”為本，助力微觀世界的探索與發(fā)現(xiàn)。

FE-1050系列高分辨（場發(fā)射）掃描電鏡，配備新一代電子光學(xué)鏡筒，具備*電子光學(xué)性能，重點(diǎn)優(yōu)化了低電壓下高分辨力，實(shí)現(xiàn)1.5nm(1kV)，可以輕松觀測易受電子輻照損傷的樣品。

寬大的主真空腔室，具備通用擴(kuò)展性，保證兼容任意第三方廠商探測器及附件系統(tǒng)， 多達(dá)27個(gè)附件端口的數(shù)量，是目前可擴(kuò)展性多的掃描電鏡。

1. FE系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡廣泛應(yīng)用于材料和生命科學(xué)等領(lǐng)域，能夠?yàn)槟峁└叻直媛实膱D像和更豐富的組織細(xì)節(jié)拓展性強(qiáng)

2. 豐富的拓展附件，比如能譜儀EDS、背散射電子行射EBSD、電子束感生電流EBIC等，可幫助用戶對樣品的成分、結(jié)構(gòu)信息有著更全面的了解

3. 自動(dòng)化功能豐富在E系列專業(yè)分析平臺(tái)上，可通過專用的自動(dòng)夾雜物分析系統(tǒng)、清潔度和顆粒度自動(dòng)檢測以及礦物自動(dòng)分析系統(tǒng)，對自身產(chǎn)品建立在線的質(zhì)量過程控制。您還可以在可變環(huán)境下實(shí)時(shí)觀察材料的相互作用，借助自動(dòng)化工作流程實(shí)現(xiàn)高效應(yīng)用。設(shè)計(jì)先進(jìn)，穩(wěn)定性更優(yōu)

4. E系列電子光學(xué)鏡筒幾何學(xué)設(shè)計(jì)能確保在分析工作條件下達(dá)到高分辨率。納克微束電鏡在制造加工方面要求非常嚴(yán)格的制造工藝及加工裝配檢驗(yàn)工藝，其抗磁、防震、抗噪及密封性能佳，整體性、穩(wěn)定性更好。