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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>光學測量儀>其它光學測量儀>AF-T001 優(yōu)可測納米級別薄膜厚度測量儀

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AF-T001 優(yōu)可測納米級別薄膜厚度測量儀

具體成交價以合同協(xié)議為準

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白光干涉儀,三維形貌測量儀,表面輪廓儀,臺階儀,粗糙度儀

產地類別 國產 價格區(qū)間 面議
應用領域 建材,電子,交通,汽車,綜合

ATOMETRICS優(yōu)可測是板石智能旗下專注于高精測量領域的國產自主品牌,致力為半導體、精密光學、新能源、3C消費類電子、醫(yī)療、刀具、航空航天等行業(yè)和高校提供三維測量產品、解決方案及相關服務,產品精度覆蓋到微米、納米甚至亞納米級,滿足生產、研發(fā)和品控過程中表面粗糙度、臺階、3D形貌、三維形貌比對、高度、平面度、幾何圖形、平面尺寸、3D輪廓等各種測量需求。優(yōu)可測納米級別薄膜厚度測量儀,精度達0.1nm,多層膜測量---可測10層膜,毫秒級別的采樣頻率,比傳統(tǒng)膜厚儀提升2~3倍,更適合在線使用,優(yōu)可測支持客制化,根據(jù)客戶需求定制。

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