化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>光學(xué)測(cè)量儀>其它光學(xué)測(cè)量儀>AF-T001 優(yōu)可測(cè)納米級(jí)別薄膜厚度測(cè)量儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材,電子,交通,汽車,綜合 |
ATOMETRICS優(yōu)可測(cè)是板石智能旗下專注于高精測(cè)量領(lǐng)域的國產(chǎn)自主品牌，致力為半導(dǎo)體、精密光學(xué)、新能源、3C消費(fèi)類電子、醫(yī)療、刀具、航空航天等行業(yè)和高校提供三維測(cè)量產(chǎn)品、解決方案及相關(guān)服務(wù)，產(chǎn)品精度覆蓋到微米、納米甚至亞納米級(jí)，滿足生產(chǎn)、研發(fā)和品控過程中表面粗糙度、臺(tái)階、3D形貌、三維形貌比對(duì)、高度、平面度、幾何圖形、平面尺寸、3D輪廓等各種測(cè)量需求。優(yōu)可測(cè)納米級(jí)別薄膜厚度測(cè)量儀，精度達(dá)0.1nm，多層膜測(cè)量---可測(cè)10層膜，毫秒級(jí)別的采樣頻率，比傳統(tǒng)膜厚儀提升2~3倍，更適合在線使用，優(yōu)可測(cè)支持客制化，根據(jù)客戶需求定制。
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