安捷倫4155A 4155B 4155C 4156A 4156B 4156C 半導體參數(shù)分析儀    何S：158=8930=0166

安捷倫4155A 4155B 4156C 半導體參數(shù)分析儀

安捷倫4155A 4155B 4156C 半導體參數(shù)分析儀

深圳佳捷倫電子儀器有限公司

4156B 是安捷倫的半導體參數(shù)分析儀。半導體參數(shù)分析儀是用于各種測量功能的多合一工具。半導體參數(shù)分析儀可以測量和分析多種電子設備、材料、有源或無源元件、半導體或任何其他類型的電子設備的電氣特性。工程師使用這臺測試設備來監(jiān)測不同類型設備中的電流和電壓響應。附加的功能：

高分辨率/準確度和寬范圍。I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1μV 至 200 V

采用直流或脈沖模式的全自動 IV 掃描測量，可擴展至 6 個 SMU

同步應力/測量功能，兩個高壓脈沖發(fā)生器單元 (±40 V)

時域測量：60μs – 可變間隔，最多 10,001 個點

易于使用：類似于曲線跟蹤器的旋鈕掃描，自動分析功能

自動化：內置 HP Instrument BASIC、觸發(fā) I/O 功能

設置測量和/或壓力條件

控制測量和/或壓力執(zhí)行

執(zhí)行算術計算

在 LCD 顯示屏上顯示測量和計算結果

執(zhí)行圖形分析

存儲和調用測量設置，以及測量和圖形顯示數(shù)據

轉儲到打印機或繪圖儀以進行硬拷貝輸出

使用內置的 HP Instrument BASIC 執(zhí)行測量和分析

自檢、自動校準

Agilent HP 4156B 是下一代精密半導體參數(shù)分析儀。您將獲得數(shù)字掃描參數(shù)分析儀、可靠性測試儀、功能強大的故障分析工具和自動進貨檢測站，所有這些都集成在一臺儀器中。

   這個新系列經過明確設計，旨在為評估您的亞微米幾何器件提供的精度和功能。使用一臺靈活的儀器，您可以從材料評估和器件表征一直到最終封裝部件檢查和現(xiàn)場故障分析，提高您的半導體質量。

較高的低電流、低電壓分辨率和內置準靜態(tài)CV測量能力，4156B還為以后和其他的測量儀器的擴展使用提供了堅實的基礎。4156B是基于PC的參數(shù)分析和表征的解決方案，標準配置包括一個參數(shù)分析儀，Agilent I/CV 3.0 Lite自動測試軟件， Windows XP Professional的操作系統(tǒng)。I/CV 3.0 Lite軟件可以提供一個圖形操作界面，具有強大的分析工具，探針臺驅動，和自動測試工具特性· 4156B提供4個內置的高分辨率的源/監(jiān)控單元（HPSMUs），兩個電壓源單元（VSUs）和兩個電壓監(jiān)控單元（VMUs）· 1 fA 和0.2 uV的測試精度可滿足開發(fā)新工技術和評價材料· 全Kelvin，每個HRSMU有激勵源、感應和接地端· 完成準靜態(tài)的電容對電壓測試· 自動提取處理參數(shù)而不需要人工操作屏幕光標· 用極低泄漏的SMUs測量泄露特性· 用集成的脈沖發(fā)生器和選擇開關自動完成器件表征· 用內置的應力模式完成晶片的可靠性測試· 用圖形用戶界面完成點擊”測試· 基于Windows環(huán)境的圖形數(shù)據分析能力· 旋鈕掃描功能可以快速檢驗探針是否接觸正?！?待機模式不需要外部電源· 觸發(fā)模式可以同步AC/DC測試。

產品概述

Agilent 4156B / HP 4156B 精密半導體參數(shù)分析儀是用于器件表征的高精度單元。4156B 的低電流和低電壓分辨率以及內置的準靜態(tài) CV 測量能力為未來與其他測量儀器的擴展奠定了堅實的基礎。該裝置配有四個電源/監(jiān)控器單元、兩個電壓監(jiān)控器單元和兩個電壓源單元

HRSMU：高分辨率 SMU（1fA/2mV 至 100mA/100V）

設置測量和/或壓力條件

控制測量和/或壓力執(zhí)行

執(zhí)行算術計算

在 LCD 顯示屏上顯示測量和計算結果

執(zhí)行圖形分析

轉儲到打印機或繪圖儀以進行硬拷貝輸出

自檢、自動校準

使用內置 HP Instrument B 進行測量和分析

四個內置高分辨率源/監(jiān)視器單元、兩個電壓源單元和兩個電壓監(jiān)視器單元 ASIC

存儲和調用測量設置，以及測量和圖形顯示數(shù)據

品種齊全，貨源充足，存庫雄厚，服務快捷，維修能力強。

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