日本理學(xué)智能X射線衍射儀SmartLab SE技術(shù)參數(shù)

1、X射線發(fā)生器功率為3KW

2、測(cè)角儀為水平測(cè)角儀

3、角儀半徑300mm

4、測(cè)角儀配程序式可變狹縫

5、最小步徑0.0001度

6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強(qiáng)度高分辨平行光路（帶Mirror）

7、高速探測(cè)器D/teX Ultra250（0維，1維模式）

8、半導(dǎo)體陣列2維探測(cè)器HyPix400(0維、1維、2維模式)

7、載從控制測(cè)量到分析結(jié)果的SmartLab Studio II軟件包

8、視頻觀察系統(tǒng)

9、豐富的各種附件

日本理學(xué)智能X射線衍射儀SmartLab SE主要特點(diǎn)

1、SmartLab家族中的最新成員SmartLab SE。

2、使用SmartLab Studio II軟件，可以一鍵式得到從選擇條件、測(cè)量、到分析、結(jié)果報(bào)告的所有結(jié)果，不需要任何經(jīng)驗(yàn)，就可以得到高質(zhì)量的分析結(jié)果。

3、智能X射線衍射儀SmartLabSE系列，可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域。

4、可以分析的材料包括：金屬材料、無(wú)機(jī)材料、復(fù)合材料、有機(jī)材料、納米材料、超導(dǎo)材料

5、可以分析的材料狀態(tài)包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品

主要的應(yīng)用有：

1. 粉末樣品的物相定性與定量分析

2. 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小

3. 確定晶系、晶粒大小與畸變

4. Rietveld定量分析

5. 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度

6.小角散射與納米材料粒徑分布

7. 微區(qū)樣品的分析

儀器介紹

智能X射線衍射儀SmartLab SE系列，是當(dāng)今高性能的多功能的X射線衍射儀，它采用了理學(xué)的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng)、智能的測(cè)量分析SmartLab Studio II軟件，一臺(tái)儀器可以智能進(jìn)行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導(dǎo)體、薄膜樣品測(cè)試。