Agilent安捷倫4156B半導體參數(shù)測試儀是用于各種測量功能的多合一工具。半導體參數(shù)分析儀可以測量和分析多種電子設備、材料、有源或無源元件、半導體或任何其他類型的電子設備的電氣特性。工程師使用這臺測試設備來監(jiān)測不同類型設備中的電流和電壓響應。附加的功能：

高分辨率/準確度和寬范圍。I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1μV 至 200 V

采用直流或脈沖模式的全自動 IV 掃描測量，可擴展至 6 個 SMU

同步應力/測量功能，兩個高壓脈沖發(fā)生器單元 (±40 V)

時域測量：60μs – 可變間隔，多 10,001 個點

易于使用：類似于曲線跟蹤器的旋鈕掃描，自動分析功能

自動化：內置 HP Instrument BASIC、觸發(fā) I/O 功能

設置測量和/或壓力條件

控制測量和/或壓力執(zhí)行

執(zhí)行算術計算

在 LCD 顯示屏上顯示測量和計算結果

執(zhí)行圖形分析

存儲和調用測量設置，以及測量和圖形顯示數(shù)據(jù)

轉儲到打印機或繪圖儀以進行硬拷貝輸出

使用內置的 HP Instrument BASIC 執(zhí)行測量和分析

自檢、自動校準

Agilent安捷倫4156B半導體參數(shù)測試儀Agilent HP 4156B 是下一代精密半導體參數(shù)分析儀。您將獲得好的數(shù)字掃描參數(shù)分析儀、可靠性測試儀、功能強大的故障分析工具和自動進貨檢測站，所有這些都集成在一臺儀器中。

這個新系列經(jīng)過明確設計，旨在為評估您的亞微米幾何器件提供的精度和功能。使用一臺靈活的儀器，您可以從材料評估和器件表征一直到終封裝部件檢查和現(xiàn)場故障分析，提高您的半導體質量。