TH2851-030高精度阻抗分析儀詳細(xì)介紹：

TH2851系列阻抗分析儀是常州同惠電子采用當(dāng)前*進(jìn)的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器，為國(guó)產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器的最新高度。

  TH2851系列阻抗分析儀改變了傳統(tǒng)國(guó)產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面，基于Windows10操作系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面，讓測(cè)試更智能、更簡(jiǎn)便。

  TH2851系列阻抗分析儀也超越了國(guó)外同類儀器120MHz的頻率瓶頸；解決了國(guó)外同類儀器只能分析、無法單獨(dú)測(cè)試的缺陷；中英文操作界面也解決了國(guó)外儀器僅有英文界面的尷尬；采用單測(cè)和分析兩種界面，讓測(cè)試更簡(jiǎn)單。

  快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)100MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

性能特點(diǎn)

■測(cè)試頻率: 10Hz-30MHz

■基本阻抗精度: 0.08%，典型值≤士0. 045%

■高精度:采用自動(dòng)平衡電橋技術(shù)，四端對(duì)測(cè)試配置

■高穩(wěn)定性和一 致性

■高速度:最快達(dá)2. 5ms的測(cè)試速度

■高分辨: 10. 1英寸電容式觸摸屏，分辨率1280*800

■點(diǎn)測(cè)、列表掃描、圖形掃描、等效電路.晶體振蕩器分析五

種測(cè)試方式

■1601點(diǎn)多參數(shù)列表掃描功能

■四參數(shù)測(cè)量

■自動(dòng)電平控制(ALC) 功能

■4通道圖形掃描功能，每通道可顯示4條曲線，通道和曲線有

14種分屏顯方式

■分析功能: 等效電路分析、晶體振蕩器分析、壓電分析、

曲線軌跡對(duì)比、介電常數(shù)分析(選件)、 磁導(dǎo)率分析(選

件)

■強(qiáng)大的分選: LCR模式10檔分選

■圖形掃描模式每條曲線單獨(dú)分選，頻率分段掃描并分選

■高兼容性:支持SCP指令集,兼容REYSIGHT E49904、

E4980A、E4980AL、 HP 42848

應(yīng)用

■ 無源元件：

電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。

■ 半導(dǎo)體元件：

LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

■ 其它元件：

印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等阻抗評(píng)估

■ 介質(zhì)材料：

塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估

■ 磁性材料：

鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估

■ 半導(dǎo)體材料：

半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性

■ 液晶單元：

介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

• 產(chǎn)品型號(hào)		TH2851-015	TH2851-030	TH2851-050	TH2851-080	TH2851-130
  顯示		10.1英寸TFTLCD顯示器1280×RGB×800，電容式觸摸屏
  AC測(cè)量參數(shù)		Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs Z Y R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC
  DC測(cè)量參數(shù)		VDC、IDC、DCR
  測(cè)試頻率	范圍	10Hz - 15MHz	10Hz - 30MHz	10Hz - 50MHz	10Hz - 80MHz	10Hz - 130MHz
  	最高分辨率	1mHz
  	頻率相對(duì)誤差	≤±0.0007%
  測(cè)試電平	AC電壓	5mV - 2Vrms
  	分辨率	1mV
  	AC電流	50uA - 20mArms
  	分辨率	10uA
  DC偏置	電壓	0V -±40V
  	電壓分辨率	1mV
  	電流	0mA -±100mA
  	電流分辨率	40μA
  測(cè)試端配置		四端對(duì)
  輸出阻抗		25Ω/100Ω
  典型測(cè)量時(shí)間（速度）		五檔：1(快速) - 5(精確) 1:2.5ms       2:10ms     3:40ms     4:80ms      5:400ms （不包括通訊時(shí)間的算數(shù)平均值，每個(gè)頻率測(cè)試速度會(huì)略有不同）
  最高準(zhǔn)確度		1kHz：0.08% 1MHz：0.08% 2MHz：0.5% 10MHz：1% 130MHz：5.0%
  測(cè)量顯示范圍		a   1×10-18；  E   1×1018
  Cs、Cp		±1.00000   aF - 999.999 EF
  Ls、Lp		±1.00000   aH - 999.999 EH
  D		±0.00001   - 9.99999
  Q		±0.01   - 9999.99
  R、Rs、Rp、X、Z		±1.00000   aΩ - 999.999 EΩ
  G、B、Y		±1.   00000 aS -  999.999 ES
  Vdc		±1.00000   aV - 999.999 EV
  Idc		±1.00000   aA - 999.999 EA
  θr		±1.00000   a rad - 3.14159 rad
  θd		±0.0001   deg - 180.000 deg
  Δ%		±0.0001%   - 999.999%
  多功能參數(shù)列表掃描		1601點(diǎn)，每個(gè)點(diǎn)可設(shè)置平均數(shù)，每個(gè)點(diǎn)可單獨(dú)分選 掃描參數(shù)：測(cè)量參數(shù)、測(cè)試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流
  圖形掃描	參數(shù)	頻率、ACV、ACI、DCV、DCI
  	類型	對(duì)數(shù)、線性、頻率分段
  	點(diǎn)數(shù)	2-1601
  	通道數(shù)	4
  	曲線數(shù)	4條/通道
  	分屏顯示	16種（通道和曲線）
  等效電路分析		3元件模型：4個(gè)、4元件模型：3個(gè)
  晶體振蕩器分析		有
  曲線軌跡比對(duì)		有
  分選		LCR模式10檔分選；掃描模式每條曲線單獨(dú)分選
  接口		RS232C，USB   HOST、USB   DEVICE、LAN、GPIB、HANDLER、VGA、HDMI
  開機(jī)預(yù)熱時(shí)間		60分鐘
  輸入電壓		100-120VAC/198-242VAC可選擇，47-63Hz
  功耗		最大150VA
  尺寸（WxHxD）mm3		428x220x325
  重量		14.5kg