德國菲希爾熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀

熒光光譜鍍層厚度測(cè)量?jī)x膜厚測(cè)試儀優(yōu)點(diǎn)

德國設(shè)計(jì) ，技術(shù)先進(jìn)

一個(gè)軟件實(shí)現(xiàn)鍍層厚度測(cè)量和材料分析兩個(gè)功能

擴(kuò)展統(tǒng)計(jì)功能。例如，測(cè)量結(jié)果可以記錄并轉(zhuǎn)為SPC圖表顯示

圖像識(shí)別：WinFTM可以自行查找預(yù)設(shè)的測(cè)量位置

基于基本參數(shù)分析的無標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量：在手邊樣本組成未知的情況下實(shí)現(xiàn)精確的測(cè)量結(jié)果

距離控制測(cè)量（DCM）：允許通過快速更改測(cè)量距離，在不需要設(shè)置和校準(zhǔn)另一個(gè)測(cè)量任務(wù)的情況下，測(cè)量不同高度的測(cè)試部件。軟件能夠識(shí)別測(cè)量的距離，并自動(dòng)校正評(píng)估。

測(cè)量質(zhì)量：我們的儀器可以判斷您的測(cè)量質(zhì)量。錯(cuò)誤地選擇了錯(cuò)誤的測(cè)量任務(wù)或測(cè)量了錯(cuò)誤的樣品？您的FISCHERSCOPE儀器會(huì)提醒您

任務(wù)程式：只需單擊一下，幾乎可以對(duì)WinFTM軟件中執(zhí)行的所有操作進(jìn)行編程并執(zhí)行。例如，一項(xiàng)任務(wù)可以自動(dòng)測(cè)量多個(gè)合金樣品。 X射線儀器將XY工作臺(tái)移動(dòng)到樣品位置，加載每個(gè)合金特定的測(cè)量條件，最后根據(jù)您的需要生成測(cè)試報(bào)告

FISCHERSCOPE X射線熒光儀器

在無損無接觸的涂層厚度測(cè)量和材料分析領(lǐng)域，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線儀器是理想的選擇。自1983年以來，我們的X射線儀器已成為幾乎所有主要行業(yè)質(zhì)量測(cè)試的一個(gè)組成部分。我們的儀器以其精確性、準(zhǔn)確性和耐用性而聞名。同時(shí)，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線的設(shè)計(jì)易于使用，并在測(cè)量的各個(gè)方面為您提供支持。 這使您可以專注于手頭上的質(zhì)量工作，而不是測(cè)量?jī)x器上。

我們的X射線儀器配有專用的FischerWinFTM軟件，旨在規(guī)范測(cè)量過程。這包括控制X射線、實(shí)現(xiàn)測(cè)量的可追溯性、生成個(gè)性化測(cè)量報(bào)告以及與內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)交互。

我們種類齊全的X射線設(shè)計(jì)用于高可靠性地測(cè)量不同的應(yīng)用。電子、電鍍、汽車、黃金和珠寶等領(lǐng)域的公司以及更多的公司都依賴于FISCHERSCOPE X射線儀器進(jìn)行質(zhì)量控制。現(xiàn)在就來看看我們的X光儀器并找出原因吧！

德國菲希爾熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230
熒光光譜鍍層厚度測(cè)量?jī)x膜厚測(cè)試儀，采用手動(dòng)方式，測(cè)量和分析印刷電路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。


FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237
X 射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，配備可編程運(yùn)行 X/Y 工作臺(tái)及 Z 軸升降系統(tǒng)，全自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層厚度和分析材料成分。


FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240
X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，用于無損測(cè)量鍍層厚度及分析材料成分


FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 252
高性能X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，用于快速、無損分析材料成分及測(cè)量鍍層厚度