X-MET8000 日立手持式熒光XRF光譜儀
| 參考價 | ￥ 168800 |
| 訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 深圳市泰立儀器儀表有限公司
- 品牌 Hitachi/日立
- 型號 X-MET8000
- 產(chǎn)地 德國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/5/27 9:05:56
- 訪問次數(shù) 839
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超聲波測厚儀，超聲波探傷儀，渦流探傷儀，超聲波相控陣探傷儀，電導(dǎo)率儀，磁導(dǎo)率儀，汽車車身點焊檢測儀，COMET工業(yè)射線機，工業(yè)內(nèi)窺鏡，工業(yè)CR/DR數(shù)字射線系統(tǒng)，熱分析儀
| 價格區(qū)間 | 10萬-30萬 | 行業(yè)專用類型 | 有色金屬 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 手持式/便攜式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,汽車,電氣,綜合 |
日立手持式熒光XRF光譜儀X-MET8000
X-MET8000 是一款手持式 X 射線熒光 (XRF) 分析儀，可提供快速無損的分析以及準(zhǔn)確的牌號識別，實現(xiàn)理想的質(zhì)檢和質(zhì)保。
該分析儀將高性能 X 光管和大面積硅漂移探測器 (SDD) 結(jié)合在一起，能夠為客戶提供各種質(zhì)量檢驗應(yīng)用。
借助 X-MET8000，您可在數(shù)秒內(nèi)得到實驗室質(zhì)檢結(jié)果，并降低檢測成本，縮短檢測時間。
為什么 X-MET8000 是您企業(yè)的理想之選？
分析結(jié)果值得您信任
X-MET8000 結(jié)合了通用的基本參數(shù) (FP) 方法和經(jīng)驗系數(shù)法（可溯源的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)），可提供超高的分析精密度和準(zhǔn)確度。
性能優(yōu)異
該分析儀提供對輕元素（Mg 到 S）的出色分析，可快速測試大多數(shù)商業(yè)用合金，包括鋁合金、硅和鋁青銅等。其提供低檢測限制，可準(zhǔn)確區(qū)別相近牌號（例如 303-304、6061-6063），并可在數(shù)秒內(nèi)得到實驗室質(zhì)
檢結(jié)果。
易于操作
直觀的圖標(biāo)驅(qū)動式用戶顯示意味著操作員幾乎不需任何培訓(xùn)。該分析儀擁有便于快速制定決策的可自定義
結(jié)果屏幕，同時顯示您所需的重要信息。
該分析儀具備輕便性（1.5 千克），采用了符合人體工學(xué)的設(shè)計，因此操作舒適，適合日常使用。屏幕方便
操作員閱讀，即使在陽光直射下也不受影響，且可在穿戴手套的情況下操作。
準(zhǔn)確
樣品尺寸自動補償，可準(zhǔn)確測試直徑小至 1 毫米的管材、桿體、線材，以及焊縫、緊固件、車削下腳和碎屑等。
結(jié)構(gòu)旨在經(jīng)久耐用
X-MET8000 具備 IP54 防護等級（相當(dāng)于 NEMA3），有防塵和防水性能。X-MET8000 具有耐沖擊外殼，且在顯示屏、儀器頭部及電池周圍均采用環(huán)保密封和減震橡膠，可有效防止受到撞擊。采用大面積散熱器，即便在高溫環(huán)境下也能提供理想的可靠性和穩(wěn)定性。防護窗口（Expert 及 Optimum 型號的選購件）和高強度厚 Kapton® 窗口（Smart 型號）可防止探頭和X射線管在測試小部件與尖銳物品時受損。
強大的數(shù)據(jù)管理功能
可存儲多達(dá)十萬個檢測結(jié)果，包括光譜譜圖和樣品圖像（若配備相機）結(jié)果和報告可直接下載到 U 盤，或通過 USB 數(shù)據(jù)線傳到 PC 上，也可利用 WiFi 或藍(lán)牙實現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)共享；可保存成 CSV 格式或防篡改的 PDF 格式，以確保數(shù)據(jù)完整性。使用 X-MET 報告生成器創(chuàng)建自己的報告（無需安裝任何軟件）。此類報告可以
包括公司徽標(biāo)、樣品圖像、分析結(jié)果、光譜圖和額外的樣品信息。借助我們的應(yīng)用，您可以與供應(yīng)商、客戶或同事實時分享分析結(jié)果。
全面的、可自定義的牌號庫
X-MET8000 內(nèi)含有全面的牌號庫：預(yù)安裝的、用戶可選的 AISI、DIN、JIS 和 GB 牌號庫覆蓋超過 1600 種合金。用戶可對現(xiàn)有牌號庫進(jìn)行修改，添加新牌號（例如某個廠商或者產(chǎn)地特定牌號），或者創(chuàng)建自己的牌號庫（例如特定的焊接材料牌號庫）。
預(yù)裝牌號庫包括
| 鎳合金。
| 不銹鋼。
| 銅合金。
| 鋁合金。
| 鈷合金。
| 低合金鋼。
| 工具鋼。
| 鈦合金。
| 鋯合金。
| 等。
X-MET8000 Smart
X射線管：40kV
濾光片：單一
檢測器：大面積 SDD
最高樣本溫度：400oC
符合 IP54 等級
Thick Kapton®窗口：保護以預(yù)防探測器的窗戶損壞
校準(zhǔn)：基本參數(shù)法(FP)
內(nèi)置攝像頭 （可選）
X-MET8000 Optimum
X射線管：40kV or 50kV
濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器
檢測器：大面積 SDD
最高樣本溫度：100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC（可選)
符合 IP54 等級
可選窗口防護罩：預(yù)防檢測器的窗口損壞進(jìn)行保護
校準(zhǔn)：基本參數(shù)法 （包括輕元素分析）
內(nèi)置攝像頭（可選）
小光班準(zhǔn)直器（可選）
針對所有元素（從鎂到鈾）進(jìn)行優(yōu)先分析的六位濾光片
X-MET8000 Expert
X射線管：50kV
濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器
檢測器：大面積 SDD
最高樣本溫度：100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC（可選)
符合 IP54 等級
可選窗口防護罩：預(yù)防檢測器的窗口損壞進(jìn)行保護
校準(zhǔn)方法：自動跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗系數(shù)法（可進(jìn)行追溯）
內(nèi)置攝像頭
小光班準(zhǔn)直器 （可選)
針對所有元素，從鎂到鈾，的優(yōu)先分析的六位濾光片
日立手持式熒光XRF光譜儀X-MET8000
探測器 | 采用硅漂移(SDD)高分辨率探測器，分辨率優(yōu)于150eV |
靶材 | 采用Rh靶材X射線光管，電壓40KV，電流50uA |
測試窗口 | 9毫米 |
重量 | 1.5公斤（含電池） |
認(rèn)證 | CE |
防護 | 通過IP54（NAME3）防水防塵測試，提供SGS認(rèn)證書 |
工作溫度 | -10~+50℃ |
供電電池 | 提供兩塊可充電可顯示電量的鋰電池，持續(xù)使用時間10~12小時，110/230V，50/60HZ直流電源充電器 |
顯示屏 | 4.3英寸Ban view Anti 彩色防反光觸摸屏 |
操作系統(tǒng) | 采用更穩(wěn)定簡潔的Linux操作系統(tǒng)，用戶可建立數(shù)據(jù)庫 |
操作語言 | 可12種語言操作界面包括：英文、簡體和繁體中文、韓語、日語、德語、法語、波蘭語、意大利語、西班牙語、葡萄牙語和俄語 |
通訊 | 可通過USB傳輸數(shù)據(jù)，無需特殊軟件在瀏覽器頁面即可運行設(shè)備;也可通過U盤導(dǎo)出數(shù)據(jù)和譜圖并提供專用U盤；或使用wifi或藍(lán)牙在線網(wǎng)絡(luò)共享 |
報告編輯器 | 報告編輯器用于生成客戶自定義模板和報告。檢測結(jié)果和報告可生成CSV格式或防篡改PDF格式，確保原始數(shù)據(jù)的安全性 |
測試方法 | 提供土壤樣品基本參數(shù)法（FP法）：可測試土壤及礦物樣品中的 Ag， As， Au， Ba， Ca， Cd， Cr， Co， Cu， Fe， Hg， K， Mn， Mo， Ni， Pb， Pt， Rb， Se， Sr， Sn， Sb， Ta， Th， Ti， Tl， V， W， Zn， Zr Br.等28種元素；提供由中國國標(biāo)GSS土壤標(biāo)樣校準(zhǔn)的符合中國土壤樣品測試的檢量線法，符合EPA 6200方法要求 |
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