CTM048-21靜電事件探測儀EM EYE SCS
- 公司名稱 上海堅融實業(yè)有限公司
- 品牌 SCS/美國
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/8/21 13:25:35
- 訪問次數(shù) 417
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堅融實業(yè)——上海市先JIN企業(yè)!
堅融實業(yè)——專注工業(yè)測試行業(yè)十六年!
堅融實業(yè)——通過德國萊茵TUV認(rèn)證供應(yīng)商!
堅融實業(yè)——擁有替代進(jìn)口品牌儀器儀表設(shè)備及非標(biāo)定制工廠!
堅融實業(yè)——儀器儀表設(shè)備代理經(jīng)銷商中唯YI 一家有技術(shù)支持工程師的公司!
堅融實業(yè)——實繳注冊資金人民幣壹仟萬元整！實繳資本同行業(yè)中居全國QIAN三!
堅融實業(yè)——抗金融風(fēng)險實力超QIANG，且為行業(yè)里極少數(shù)通過會計事務(wù)所嚴(yán)格審計的公司，公司遵紀(jì)守法，用戶合作安全可靠!
堅融實業(yè)——致力于為祖國用戶提供儀器設(shè)備售前演示實測、測試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修計量，全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商!
專業(yè)儀器設(shè)備與測試方案供應(yīng)商——上海堅融實業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，專注工業(yè)測試行業(yè)十六年，志在破舊立新！填BU進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國內(nèi)設(shè)銷售點，但技術(shù)支持薄弱甚至沒有，而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù)，不做售前技術(shù)支持/測試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測試行業(yè)經(jīng)驗，以我們先進(jìn)獨TE的經(jīng)營理念，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶采購與技術(shù)工程師的工作，提供具競爭力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。十六年精耕細(xì)作于儀器設(shè)備售前演示實測、測試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修服務(wù)。
經(jīng)營品牌及產(chǎn)品：
一、測試技術(shù)方案【我們根據(jù)用戶實際應(yīng)用，撰寫有上百篇技術(shù)測試應(yīng)用文章】：
USB3.0/MIPI/eDP/eMMC5.1/SD4.1/DP AUX/SoundWire/I2C/SPI/UART/CAN/FlexRay/MVB/WTB協(xié)議測試、半導(dǎo)體I-V測試、表面電阻/體積電阻率、靜電壓/離子消散衰減、介電常數(shù)/電導(dǎo)率/阻抗分析、GaN/SiC/IGBT特性分析、IoT低功耗、材料耐壓絕緣電阻漏電流、ESD靜電放電/EMC電磁/雷擊浪涌、材料高低溫/冷熱沖擊試驗、大眾VW80000/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測試、材料切割鑲樣磨拋金相分析......
二、環(huán)境可靠性試驗/拉力試驗/幾何精密測量/機(jī)器人手臂：
愛斯佩克ESPEC/賓德BINDER/廣五所GWS/偉思富奇Weiss-Technik烘箱、
高低溫試驗箱、恒溫恒濕箱、冷熱沖擊箱、鹽霧箱。沖擊跌落機(jī)、振動臺、英斯特朗INSTRON拉力試驗機(jī)。?？怂箍礖EXAGON/蔡司ZEISS/法如FARO三坐標(biāo)測量儀/智能機(jī)械人手臂。
三、靜電檢測消除：
DESCO/KLEINWACHTER防靜電電阻測試儀、靜電測試儀、離子風(fēng)機(jī)、靜電吸塵器、手腕帶防靜電鞋ESD測試儀、電荷電量庫侖計、MET ONE百級潔凈室塵埃粒子計。
四、電子測量儀器：
是德KEYSIGHT/泰克Tektronix/KEITHLEY/ADCMT/日置HIOKI/普源RIGOL/致茂Chroma/羅德R&S/德國EA電源、電子負(fù)載、萬用表、數(shù)據(jù)采集、皮安表、源表、靜電計、高阻表、半導(dǎo)體圖示儀、信號源、示波器、頻譜儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、功率計、電池測試儀。ZEROPLUS邏輯分析儀、Wayne Kerr LCR電橋、阻抗分析儀、FOTRIC紅外熱像儀、菊水KIKUSUI/華儀EEC/高美GMC-I耐壓絕緣接地漏電流測試儀。
五、生物制藥化學(xué)實驗儀器/傳感器：
賽默飛Thermo元素分析儀、博勒飛BrookField粘度計、安捷倫Agilent色譜/質(zhì)譜/光譜儀、萬通Metrohm滴定儀、電化學(xué)工作站、梅特勒METTLER/威卡WIKA壓力/流量/PH/溶氧/電導(dǎo)率傳感器，天平。艾卡IKA/Sartorius發(fā)酵罐、水分儀。愛色麗X-rite/美能達(dá)Minolta色彩分析儀、光度/亮度/照度計。COSMOS潤滑油鐵粉濃度計。
六、金相設(shè)備耗材：
賀利氏Heraeus/司特爾Struers/標(biāo)樂Buehler切割機(jī)、研磨拋光機(jī)、鑲嵌機(jī)、顯微鏡、硬度計。
企業(yè)在銷售過程中根據(jù)給用戶實際測試使用撰寫有《芯片集成電路I2C、SPI測試》、《存儲器SD4.1、eMMC5.1測試》、《電腦周邊USB3.0、UART測試》、《CAN、LIN、FlexRay、SENT汽車電子總線測試》、《MVB、WTB總線軌道交通測試方案》、《電源管理系統(tǒng)BMS測試》、《音視頻多媒體MIPI/HDMI/DP AUX/SoundWire測試》、《GB/T國標(biāo)、ANSI/ASTM美標(biāo)之材料表面電阻和體積電阻率測試方案》、《防靜電地板/臺面/鞋服/橡膠絕緣材料/薄膜/包裝材料ANSI/ESD規(guī)范防靜電測試》、《電子電器/防靜電產(chǎn)品的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標(biāo)準(zhǔn)靜電消散測試》、《基于LCR電橋/阻抗分析儀/網(wǎng)絡(luò)分析儀之介電常數(shù)、電導(dǎo)率測試評估》、《6517B與B2985A高阻表測量電阻/體積電阻率》、《新材料先進(jìn)半導(dǎo)體微電流/微電阻/低噪聲測試》、《循環(huán)伏安法CV電化學(xué)實驗系統(tǒng)工作站測量線性掃描伏安特性CV、電流-時間曲線I-t、電勢、電沉積、電阻率》、《基于源表和轉(zhuǎn)換開關(guān)的霍爾效應(yīng)與范德堡測試》、《MOSFET/CMOS/IGBT半導(dǎo)體晶體管特性曲線分析》、《電波暗室EMC電磁兼容測試》、《基于頻譜分析儀的EMI輻射預(yù)測試》、《相噪/頻響/數(shù)字模擬高速信號采集/射頻微波測試》、《音視頻綜合測試分析》、《Wi-Fi/藍(lán)牙Bluetooth/LTE/GPS測試》、《大眾VW80000/通用GMW3172/ISO7637瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾/ISO16750電源故障模擬標(biāo)準(zhǔn)測試》、《鑲嵌機(jī)、磨拋機(jī)在電子零部件中的應(yīng)用》、《Agilent34970A，KEITHLEY2700數(shù)據(jù)采集監(jiān)測多路溫度/電壓/電阻》、《精密電流源/納伏表納米超導(dǎo)材料，繼電器開關(guān)，汽車電子連接器微小電阻測試》、《靜電電量Static Charge電荷庫侖Coulomb測試方案》、《基于KEITHLEY6514靜電計，DMM7510圖形萬用表和高速示波器之nanogeneration納米發(fā)電機(jī)實驗》、《基于皮安表的元器件/電路板泄漏電流，二極管暗電流測試》、《基于KEITHLEY2460-EC電化學(xué)工作站/恒電位測試》、《石墨烯/碳納米/晶體管測試》、《半導(dǎo)體材料SiC，GaN等電流/電壓特性分析和功能測試》、《光電子/納米電子器件測試》、《LED照明測試》、《OLED，TFT LCD液晶顯示集成電路及材料測試》、《IoT物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備低功耗測試》、《大功率編程電源/負(fù)載的太陽能光伏、新能源汽車、充電樁、燃料電池測試》、《機(jī)電/材料/生物醫(yī)學(xué)/汽車電子云熱像》、《ABS防抱死制動系統(tǒng)、SRS汽車安全氣囊、TPMS胎壓監(jiān)測測試系統(tǒng)》、《薄膜/膠片介電擊穿/電氣強(qiáng)度試驗》、《橡膠/電芯/陶瓷絕緣電阻試驗》、《符合IEC61215、IEC61730光伏標(biāo)準(zhǔn)耐壓測試方法》、《GB/T 1695硫化橡膠擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓測定方法》、《GB/T 24344工業(yè)機(jī)械電氣設(shè)備耐壓試驗規(guī)范》、《基于GB/T、IEC、EN、UL、VDE、JIS等各國安全規(guī)范要求》、《符合IEC、JIS、UL各類標(biāo)準(zhǔn)的醫(yī)療器械泄漏電流測試》、《燈具/開關(guān)插座/EV充電樁接地電阻測試》、《干濕球、不飽和、濕潤飽和模式高壓加速老化試驗》、《腐蝕性物質(zhì)高低溫環(huán)境可靠試驗》、《汽車電子零部件/內(nèi)飾件高低溫冷熱沖擊試驗》、《樹脂、涂料、油漆、膠帶易燃物質(zhì)防爆型高溫烘箱》等上百篇技術(shù)測試應(yīng)用解決方案文章，為工業(yè)測試行業(yè)做出了我們應(yīng)有的貢獻(xiàn)。
堅忍不拔 圓融通達(dá) 是我們秉承的理念，嚶其鳴矣 求其友聲，我們渴望跟更多志同道合的同仁共建至真至誠共贏合作，為祖國測試行業(yè)“添磚加瓦”！
代理授權(quán)證/技術(shù)培訓(xùn)證：
用戶培訓(xùn)：
總線測試協(xié)議解碼邏輯分析儀，靜電阻/靜電場測試儀，源表，干燥箱烘箱，高低溫恒溫恒濕試驗箱，LCR阻抗分析儀，示波器，頻譜儀，耐壓絕緣電阻測試儀
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
|---|
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堅融實業(yè)——擁有替代進(jìn)口品牌儀器儀表設(shè)備及非標(biāo)定制的OEM工廠!
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CTM048-21靜電事件探測儀EM EYE SCS
探測靜電放電次數(shù)，探測靜電放電電壓 ，可選 HBM、MM、CDM 模式
品牌：SCS（DESCO 子品牌）
注意!
不要使用任何工具裝卸傳感器模塊和天線，徒手即可，裝卸時動作輕柔
在開機(jī)狀態(tài)下不要拔插傳感器模塊和天線，也不要拔插 SD 卡
使用儀器時要小心輕放，避免跌落
天線不要觸碰到帶電體
避免硬物劃傷屏幕
初次使用時，對電池進(jìn)行 2 次全充-放電循環(huán)，以延長電池壽命
電池充滿時間為 2 小時左右
不要使用第三方電源適配器，有可能造成儀器損壞
如果儀器死機(jī)，可用回形針頂一下儀器底部的重置鍵
1. 產(chǎn)品描述
CTM048-21靜電事件探測儀EM EYE SCS是一款靜電事件探測儀，可以測試靜電放電的次數(shù)和放電電壓。儀器具有分辨信號的能力，區(qū)分 EMI 和 ESD 信號，剔除非 ESD 相關(guān)事件。用戶可以選擇測試 CDM、HBM、MM 放電模型，儀器根據(jù)放電模型、探測距離和信號強(qiáng)度計算出大致的放電電壓。
1 主機(jī)身
2 SD 內(nèi)存卡（已插入主機(jī)身）
3 CTC021 探測模塊（含 CTS001 天線）
4 CTC113-6FT 遠(yuǎn)端全向天線，1.8 米長纜線
5 電源適配器
6 CTC115-6FT 遠(yuǎn)端全向天線，抗高溫，1.8 米長纜線
標(biāo)配：○1 +○2 +○3 +○4 +○5
選配：○6
2. 部件功能及安裝
備注：
CTS001 為定向天線，只可以探測到正前方的信號
CTC113 為全向天線，可以探測到 360 度任何方向的信號
如果需要探測高溫區(qū)域的靜電放電事件，選購 CTC115 高溫天線
如果新機(jī)沖不了電，把電源適配器插上，然后頂 1 下重置鍵激活電池
CTC113 遠(yuǎn)端天線（全向天線），如果需要探測狹窄空間，可采用該天線
3. 觸控屏操作
開機(jī)：手指按住顯示屏任意位置 3 秒
關(guān)機(jī)：手指按住 Power/C 鍵 4 秒
1 弧形圓點，示意 10 個級別的放電強(qiáng)度，點擊可設(shè)置報警閾值
2 閃電/三角符號：點擊可切換符號
閃電符號，只顯示靜電相關(guān)放電事件（ESD）
三角符號，顯示所有放電事件（包含 ESD 和 EMI）
3 探測距離：天線到被測試物/測試點的距離，點擊可設(shè)置距離
4 聲音符號：點擊該符號可選擇報警聲類型及音量。鈴鐺符號為“叮鈴”聲，只有一個音量，不能調(diào)節(jié)。
點擊切換成喇叭符號，這時的儀器發(fā)出類似收音機(jī)調(diào)頻聲，聲音根據(jù)信號強(qiáng)度的大小變化。繼續(xù)點擊可以調(diào)節(jié)音量大小，在喇叭上出現(xiàn)叉，表示靜音。
5 Power/C 按鍵：單擊該鍵屏幕清零；按住該鍵 4 秒關(guān)機(jī)
6 Menu/F 按鍵：點擊進(jìn)入儀器基本設(shè)置界面
7 Hold 按鍵：點擊 1 次鎖定當(dāng)前值；再點擊 1 次標(biāo)識該值為最大值；再點擊 1 次取消鎖定
8 時間：顯示當(dāng)前時間
9 電量符號：示意剩余電量；點擊該符號設(shè)置日期和時間
10 內(nèi)存卡符號：點擊該符號，進(jìn)入查看界面，可以查看測試記錄
11 放電模型：點擊進(jìn)入設(shè)置界面，可以選擇 CDM、MM、HBM 放電模型或 Raw Input（信號電平）
12 靜電放電電壓值
3.1. 開機(jī)界面
按住屏幕任意位置大概 3 秒后儀器開機(jī)。開機(jī)后先顯示儀器固件號，如下所示：
稍后，進(jìn)入待機(jī)界面。如果未插入 SD 卡或不能識別 SD 卡，出現(xiàn)以下提示：
無 SD 卡也可以正常使用該儀器，但測試數(shù)據(jù)不會被保存。點擊黃色區(qū)域關(guān)閉提示窗口并進(jìn)入待機(jī)界面。
注意！拔插 SD 卡時，儀器處于關(guān)機(jī)狀態(tài)。
3.2. 儀器基本設(shè)置
點擊 Menu/F 鍵進(jìn)入基本設(shè)置界面，顯示如下：
第一行顯示儀器主板編號
第二行為屏幕亮度，點擊圓盤的?/?增加或降低亮度，默認(rèn) 50%
點擊▲/▼滾動到第三行“Off time”項，設(shè)置自動關(guān)機(jī)時間（默認(rèn) 5 分鐘），點擊?/?改變時間，一直點擊?到 0，表示不啟用自動關(guān)機(jī)功能
點擊▲/▼滾動到第四行“Local antenna”項，點擊?/?切換 Local antenna/Remote antenna
Local antenna：采用 CTS001 定向天線時選擇該項
Remote antenna：采用 CTC113 或 CTC115 遠(yuǎn)端全向天線時選擇該項
設(shè)置完成后，點擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面
Display Module
KW H028 Q27-F02
Firmware Rev. 2.06
Desco Industries
2015
WARNING:
No memory card.
You can add it any time.
Click here to close the
Window.
Hardware Setup
Power
C 08:30
S/N 16065 CRC=00A7A9C9
Brightness: 50%
Off time: 5 min
Local antenna
儀器基本設(shè)置界面
3.3. 設(shè)置日期和時間
點擊電池符號進(jìn)入日期和時間設(shè)置界面，顯示如下：
第一行設(shè)置時間，點擊圓盤▲/▼改變數(shù)值，點擊?/?移動光標(biāo)向前或向后
第二行設(shè)置日期，格式為：月/日/年（08/15/16 表示 2016 年 8 月 15 日）
第三行選擇 12/24 小時制，點擊▲/▼選擇 12H 或 24H
設(shè)置完成后，點擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面
4. 測試靜電放電（ESD）事件
4.1. 設(shè)置探測距離和放電模型
儀器采用專LI的算法，根據(jù)探測距離、獲得信號強(qiáng)度和放電模型計算出大致的放電電壓。用戶需要設(shè)置探測距離和放電模型。
探測距離：
天線距離被測試物/測試點的距離，設(shè)置范圍 0.5~15.0 英寸（1.3~38.1cm）
注意：實際測試時，天線距離被測試物/測試點應(yīng)該為所設(shè)置的距離。
放電模型：
2 CDM：器件本身帶有靜電，當(dāng)接觸到接地導(dǎo)體或其他電位導(dǎo)體時發(fā)生靜電放電
2 MM：帶靜電的設(shè)備或工具接觸到接地的器件，發(fā)生靜電放電
2 HBM：帶靜電的人體接觸到接地的器件，發(fā)生靜電放電
2 Raw Input：天線所獲得的實際信號強(qiáng)度（電平信號），該讀數(shù)用于儀器校準(zhǔn)
Time-Date Setup
Power
C 08:30
Time: 14:06
Date: 08/15/16
Mode: 24 H
設(shè)置日期和時間
點擊屏幕的距離或放電模型方框，進(jìn)入設(shè)置界面，屏幕顯示如下：
2 點擊圓盤▲/▼設(shè)置探測距離，選擇范圍 0.5~15.0 英寸（1.3cm~38.1cm），0.5 英寸以下，每點擊 1 次
遞增 0.5 英寸；10 英寸以上，每點擊 1 次遞增 1 英寸。
2 點擊圓盤?/?設(shè)置放電模型，可以選擇 CDM、MM、HBM、Raw Input
2 設(shè)置完成后，點擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面
4.2. 報警閾值設(shè)置
點擊弧形圓點，進(jìn)入設(shè)置界面。（備注：儀器內(nèi)存只記錄超過閾值的靜電放電事件）
2 點擊圓盤?/?設(shè)置報警閾值，范圍 000~990V：
l 0~10V 按 1V 增幅設(shè)置
l 10~990V 按 10V 增幅設(shè)置
2 如果選擇了“Raw Input”測試模式，可以選擇 1~1500mV
2 設(shè)置完成后，點擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面
ESD Events
Power
C 08:30
Distance: 4.0”10.2cm
Model: CDM
ESD Events
Power
C 08:30
000 V
設(shè)置距離和模式
設(shè)置報警閾值
按以上設(shè)置完成后，即可開始測試。測試時屏幕出現(xiàn)閃電符號，表示開啟了信號屏蔽功能，儀器剔除了非ESD 放電信號，只顯示靜電放電事件。點擊該符號切換到全信號模式，這時出現(xiàn)三角形符號，表示儀器顯示所有探測到的信號，包括 EMI 背景噪音和 ESD 放電信號。
測試時，屏幕顯示的電壓值為估算的放電電壓，數(shù)字為超過閾值的放電次數(shù)。最高可以記錄 32767 次放電次數(shù)。點擊 Power/C 鍵可以清零放電次數(shù)，重新累計。
4.3. 按照 ANSI/ESD SP17.1 規(guī)范進(jìn)行靜電放電事件風(fēng)險評估流程
備注：
2 首先確定靜電敏感器件是否有導(dǎo)體部位接觸或非常接近導(dǎo)電的物體，例如金屬-金屬接觸，如果沒有，通常不會有靜電放電風(fēng)險，無需進(jìn)一步進(jìn)行風(fēng)險評估。
2 空載測試：在制程中不要放入靜電敏感器件，記錄下測到的靜電放電現(xiàn)象
2 放入靜電敏感器件后，如果沒有探測到更多的放電現(xiàn)象，表示探測到的是干擾信號/背景噪音，而非放入靜電敏感器件后造成的靜電放電，評估結(jié)束-低風(fēng)險
2 如果探測到更多的放電現(xiàn)象，根據(jù)測到的放電電壓值和器件的靜電敏感閥值來評估風(fēng)險，如果放電電壓值超過器件所列明的閥值，采取措施消除危險，例如采取接地、離子中和等方式
2 采取消除風(fēng)險的措施后，再次進(jìn)行評估
○1 是否和靜電敏感器件直接
接觸或距離非常近
評估結(jié)束-低風(fēng)險
○2 進(jìn)行空載測試
○3 把靜電敏感器件放入后測
試，對比測試結(jié)果
○4 是否測到更多的
靜電放電事件？
○5 評估結(jié)束-低風(fēng)險
否
否
○6 評估風(fēng)險程度
消除風(fēng)險
按 2~5 步驟再次評估
5. 數(shù)據(jù)查看和處理
5.1. 安裝 SD 卡
1）把 SD 卡插入儀器，注意方向，有字的面朝上，有金屬觸腳的在里面。注意！一定要在儀器關(guān)機(jī)的情況下拔插 SD 卡。
2）插好卡后，儀器開機(jī)，儀器會對新卡或空卡進(jìn)行初始化。然后進(jìn)入待機(jī)界面，在屏幕右中可以看見 SD卡圖標(biāo)，表示成功。如果不顯示 SD 卡圖標(biāo)或有紅叉，表示該卡不兼容。
3）所有測試記錄會保存在 SD 卡上。注：只有超過報警閾值的值才會被記錄下來。
在待機(jī)界面，點擊 SD 卡符號，進(jìn)入查看界面。點擊圓盤的▲/▼和?/?可以上/下和左/右滾動查看。
5.2. 數(shù)據(jù)處理
向供應(yīng)商獲取 EMEYE_Converter.zip 軟件，解壓后雙擊 setup.exe 安裝，按指示進(jìn)行安裝，最后點擊 Close完成。EM EYE 操作手冊/APS-21 9
把 SD 卡從儀器中取出，放入配套的卡托，插到電腦的卡槽上
1) 打開安裝的 Em Eye File Converter Rev.5 軟件（在桌面有快捷圖標(biāo)）
2) 點擊 File > Open Ctrl+O，選擇 SD 卡上的 ESD3M0003.esd 文件
3) 打開后可以看見所有的測試記錄，每條表示一個時間點的測試記錄。例如下圖第一行，表示 2016 年 8月 29 日 22 點 39 分 17 秒的測試記錄，共有 7 個 ESD 事件發(fā)生（報警閾值為 370V）
4) 點擊任一條測試記錄，然后點擊 File > Save 保存。例如下圖，保存在 C 盤下的“ESD 測試”文件夾
5) 用 EXCEL 打開該所保存的文件可以顯示詳細(xì)的測試數(shù)據(jù)
例如上圖，打開所保存的 2016 年 8 月 29 日 22 點 39 分 17 秒的測試記錄，可以看見詳細(xì)的 7 個 ESD 事件。
備注：當(dāng) SD 卡滿后，把 SD 卡插入電腦，然后清空該卡即可。
重新把空卡插入儀器后，儀器會自動初始化。
6. 故障信息
屏幕提示 解決方法
ERROR: Sensor is disconnected. Click here to turn device off.
未裝上探測模塊就開機(jī)。先關(guān)機(jī)，裝上探測模塊后再開機(jī)使用。
ERROR:Card was removed. Data may be
lost and card could be damaged.
Click here to close the window.
在開機(jī)狀態(tài)下，拔出了 SD 卡，可能會導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失和SD 卡損壞。點擊關(guān)閉該提示，關(guān)機(jī)后插回 SD 卡。
WARNING:No memory card. You can add it at any time.
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儀器未插入 SD 卡，可以在任何時候插入 SD 卡。點擊關(guān)閉該提示。
PREPARING CARD FOR RECORDING!!!
DO NOT REMOVE!!! PLEASE WAIT. 正在初始化 SD 卡，不要拔出 SD 卡。
ERROR: Invalid memory card. Format or replace it.
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SD 卡格式不兼容，先在電腦上格式化成 FAT32 格式再使用。
ERROR!!! STACK OVERFLOWED.
Click here to turn device off.
出現(xiàn)嚴(yán)重故障。需要重置儀器，如果問題未解決，必需返回原廠維修。
備注：當(dāng)儀器出現(xiàn)死屏或嚴(yán)重故障時，用回形針頂一下儀器底部的重置孔，儀器恢復(fù)到出廠狀態(tài)，通常能解決故障。
備注：儀器長期閑置，電池可能耗盡電量。這時插上電源適配器，用回形針頂一下儀器底部的重置孔，電池重新被激活，儀器開始充電。
7. 儀器校準(zhǔn)
測試靜電放電電壓，測試方法是獲取放電信號的強(qiáng)度然后采用專有算法計算出放電電壓值。
原廠校準(zhǔn)書僅顯示儀器能否正確接收到放電信號，校準(zhǔn)方法是采用脈沖電源輸出 100mV、150mV、1.0V、1.5V 信號，然后驗證儀器接收到的信號強(qiáng)度（dBμV）是否準(zhǔn)確。
疑問一：如何在第三方進(jìn)行校準(zhǔn)？
答：不能在第三方機(jī)構(gòu)進(jìn)行校準(zhǔn)，因為原廠對儀器的天線數(shù)據(jù)（電容、阻抗）等均BU公開。第三方無法對儀器能否接收正確放電信號進(jìn)行驗證。即使第三方可以驗證儀器是否準(zhǔn)確獲取放電信號，后續(xù)也無法根據(jù)信號強(qiáng)度計算出放電電壓值，該算法為原廠專有算法，BU公開。
所以儀器必需返回原廠進(jìn)行校準(zhǔn)，亞洲用戶可以返回 DESCO 日本公司進(jìn)行校準(zhǔn)。
疑問二：該儀器測試放電電壓，但為什么沒有測試精度參數(shù)？
答：靜電放電電壓和實際物體的電容有關(guān)，儀器無法事先知道被測物體的電容，只能采取一個經(jīng)驗值（根據(jù)實驗取一個能兼顧大多數(shù)器件的經(jīng)驗值）來計算放電電壓。所以儀器的讀數(shù)是接近實際放電電壓值，而沒有一個定量的測試精度。
疑問三：如何直觀地驗證儀器的測試準(zhǔn)確度？
答：下圖顯示了靜電模擬器的放電過程，儀器實測讀數(shù)接近放電電壓。用戶可以用靜電放電槍做這類驗證。
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