三維光學(xué)輪廓儀 是布魯克的 TriboIndenter 平臺的全面改進(jìn)，其測量和分析過程的各個方面都采用了旨在消除納米壓痕儀系統(tǒng)常見限制的更新技術(shù)。因此，該系統(tǒng)具有更多的可用測量模式 ，并在廣泛的實驗室環(huán)境中提供高精度測量。

1. 快速、可重復(fù)的三維計量 

2. 與放大倍率無關(guān)的業(yè)界Z軸分辨率 

3. 大尺寸的標(biāo)準(zhǔn)視場 

4. 高穩(wěn)定性和重復(fù)性的集成防震設(shè)計 

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6. 測量和分析功能

7. 易于使用的界面，可快速準(zhǔn)確地獲得結(jié)果 

8. 廣泛的濾鏡和分析工具選項，用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測量分析 

9. 滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)的定制化分析報告

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11. 計量功能 

12. ContourX-100輪廓儀是布魯克在非接觸表面計量、表征和成像領(lǐng)域超過四十年的專有光學(xué)創(chuàng)。該系統(tǒng)結(jié)合三維白光干涉和二維成像技術(shù)在單次測量中實現(xiàn)多種分析。ContourX-100對于反射率從0.05％到99％的各種表面都非常易于測量。 

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15. 三維光學(xué)輪廓儀 產(chǎn)品優(yōu)勢
    

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17. 用于原位 SPM 成像的雙壓電掃描頭

18. 高分辨率、彩色光學(xué)顯微鏡

19. 低噪聲 2D 電容式傳感器

20. 計量級花崗巖框架確保測試穩(wěn)定性

21. 集成主動減振系統(tǒng)

22. Performech III 控制器

23. 減振底座的抗噪能力提高了 50 倍

24. 多層環(huán)境隔離罩

25. 俯視樣品臺成像

26. 使用 XPM II 超高速納米壓痕進(jìn)行性能成像

27. 動態(tài)納米壓痕

28. 帶有可定制面板的模塊化外殼

29. 通用樣品夾具

30. 高精度電動/自動化平臺，可測試面積增加 60%