線掃描膜厚儀(在線型)
- 公司名稱 上海波銘科學(xué)儀器有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大冢
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/8 13:57:38
- 訪問次數(shù) 278
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光學(xué)測試系統(tǒng);光源/激光器;光譜儀;光電探測器;電子數(shù)據(jù)采集器;光學(xué)平臺;電動(dòng)位移臺;手動(dòng)位移臺;調(diào)整架;光學(xué)元件
產(chǎn)品信息
特點(diǎn)
式樣
膜厚范圍 | 0.1~300 μm |
測量幅度 | 500 mm~最大10 m |
測定間隔 | 1 ms~ |
裝置大小(W×D×H) | 81×140×343 mm |
重量 | 4 kg(僅頭部) |
最大功耗 | AC100 V±10% 125VA |
測量案例
500mm寬的包裝薄膜
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展,上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度,客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場地位和影響力。