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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>測(cè)量/計(jì)量?jī)x器>表面測(cè)量?jī)x器>臺(tái)階儀> 布魯克 Dektak系列臺(tái)階儀/探針式輪廓儀

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布魯克 Dektak系列臺(tái)階儀/探針式輪廓儀

參考價(jià)500000-1000000/件
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng) 鉑悅儀器(上海)有限公司
  • 品牌Bruker/布魯克
  • 型號(hào)
  • 所在地上海市
  • 廠(chǎng)商性質(zhì)代理商
  • 更新時(shí)間2024/11/26 15:13:56
  • 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 16

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鉑悅儀器自2004年成立以來(lái),憑借與世界各大儀器品牌的戰(zhàn)略合作關(guān)系,以及不斷優(yōu)化公司自身經(jīng)營(yíng)管理,提高服務(wù)質(zhì)量,成為中國(guó)國(guó)內(nèi)的儀器供應(yīng)商。鉑悅儀器所提供的產(chǎn)品均屬于高科技行業(yè),產(chǎn)品包括高精度的分析儀器、檢測(cè)儀器和生產(chǎn)設(shè)備,以及配套的耗材和配件,這些產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質(zhì)、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術(shù)考古、刑偵等各個(gè)領(lǐng)域并服務(wù)于各大院校、研究所、檢測(cè)機(jī)構(gòu)、及政府部門(mén)等。

鉑悅儀器不僅擁有高品質(zhì)的產(chǎn)品,更培養(yǎng)了專(zhuān)業(yè)的銷(xiāo)售、應(yīng)用支持和售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)。本著客戶(hù)至上的原則,從客戶(hù)的實(shí)際需求出發(fā),鉑悅儀器為客戶(hù)提供儀器銷(xiāo)售,安裝培訓(xùn),應(yīng)用支持,代檢測(cè)服務(wù)及儀器短期租賃服務(wù)等綜合解決方案,并提供持續(xù)而良好的售后服務(wù),由此也獲得了廣大客戶(hù)的信任與認(rèn)可。

企業(yè)文化Corporate Culture: CREDIT

C- Confidence: 自信

R- Responsibility: 責(zé)任心

E- Efficiency: 效率

D- Diligence: 勤奮

I- Intelligence: 機(jī)智

T- Trust: 信任

鉑悅儀器持續(xù)為您提供:儀器銷(xiāo)售,安裝培訓(xùn),應(yīng)用支持,代檢測(cè)服務(wù)及儀器短期租賃服務(wù)。

行業(yè)涵蓋:

工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質(zhì)、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術(shù)考古、刑偵

應(yīng)用范圍:

材料成份分析(定性/定量)
大面積材料元素分布
材料表面/形貌分析
3D掃描--快速3D成像
CT--3D內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析
太陽(yáng)能IV檢測(cè)

產(chǎn)品:

-- 直讀光譜儀
-- 手持式XRF分析儀 S1 TITAN
-- 科研級(jí)手持式XRF分析儀TRACER
-- 便攜式熒光光譜儀 ELIO
-- 便攜臺(tái)式XRF分析儀 CTX
-- 微區(qū)X射線(xiàn)熒光光譜儀-元素掃描M4 TORNADO
-- 巖芯分析儀
-- 臺(tái)階儀、光學(xué)輪廓儀、原子力顯微鏡AFM
-- 臺(tái)式X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀
-- X射線(xiàn)透射系統(tǒng)/3D斷層掃描系統(tǒng) (CT )
-- 3D掃描儀
-- 便攜式IV曲線(xiàn)檢測(cè)儀

 

 

 

 

 

巖芯分析儀,微區(qū)X射線(xiàn)熒光光譜儀,直讀光譜儀,手持式合金分析儀;Bruker臺(tái)階儀,光學(xué)輪廓儀,摩擦磨損儀,原子力顯微鏡;膜厚儀,藝術(shù)與考古分析儀

產(chǎn)地類(lèi)別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,制藥,綜合

BRUKER

布魯克 Dektak系列臺(tái)階儀/探針式輪廓儀

布魯克 Dektak系列臺(tái)階儀/探針式輪廓儀

      BRUKER布魯克 Dektak系列臺(tái)階儀/探針式輪廓儀 ,適用于納米級(jí)表面測(cè)量、表面形貌分析等多種領(lǐng)域,具有超過(guò)50年的研發(fā)歷程,技術(shù)成熟,性能可靠。

      設(shè)備可實(shí)現(xiàn) 4? (0.4nm) 的優(yōu)異重復(fù)性和快速的掃描速度,為微電子技術(shù)、半導(dǎo)體、觸摸屏、太陽(yáng)能、高亮度 LED、醫(yī)療和材料科學(xué)、薄膜與涂層、生命科學(xué)應(yīng)用等行業(yè)實(shí)現(xiàn)納米級(jí)表面形貌測(cè)量技術(shù)提供支持。


布魯克全新一代的臺(tái)階儀設(shè)備 - Dektak Pro

布魯克 Dektak系列臺(tái)階儀/探針式輪廓儀

     Dektak Pro™ 以其多功能,使用的便捷性和準(zhǔn)確的精度在薄膜厚度、臺(tái)階高度、應(yīng)力、表面粗糙度和晶圓翹曲測(cè)量方面廣受贊許。第十一代Dektak®系統(tǒng),具有4 ?重復(fù)性的優(yōu)異表現(xiàn),并提供200毫米平臺(tái)選項(xiàng),在科研以及工業(yè)領(lǐng)域中可以為材料的表面形貌提供各種分析。在表面測(cè)量方面,Dektak Pro是微電子技術(shù)、薄膜與涂層和生命科學(xué)應(yīng)用的理想選擇。


強(qiáng)大的性能和重復(fù)性

      Dektak Pro以其強(qiáng)大的分辨率、穩(wěn)定性、穩(wěn)健性和耐用性,確保在未來(lái)數(shù)年甚至數(shù)十年內(nèi)提供可靠的優(yōu)質(zhì)結(jié)果。新型號(hào)在Dektak平臺(tái)上繼承創(chuàng)新,提供更高的分辨率、更低的噪聲和更便捷的探針更換,所有這些因素對(duì)于優(yōu)化系統(tǒng)的重復(fù)性和準(zhǔn)確性至關(guān)重要。

      在適當(dāng)?shù)沫h(huán)境下,Dektak Pro甚至能夠測(cè)量1納米的臺(tái)階高度,并在1微米臺(tái)階高度標(biāo)準(zhǔn)上實(shí)現(xiàn)優(yōu)于4 ?的重復(fù)性。

性能體現(xiàn)在細(xì)節(jié)之中

      Dektak Pro的單拱設(shè)計(jì)有效降低了對(duì)不利環(huán)境條件(如噪聲和震動(dòng))的敏感性,同時(shí)又可容納大尺寸樣品測(cè)試。新一代的智能電子技術(shù)應(yīng)用更大限度地減少了溫度變化和電子噪聲,從而減少了高精度測(cè)量中的誤差和不確定性。

      低慣量傳感器(LIS 3)使系統(tǒng)能夠快速適應(yīng)表面形態(tài)的突然變化,在動(dòng)態(tài)測(cè)量場(chǎng)景中保持準(zhǔn)確性和響應(yīng)性。探頭更換技術(shù)通過(guò)自對(duì)準(zhǔn)探頭夾具,消除了錯(cuò)位和系統(tǒng)重新校準(zhǔn)的需要,輕松完成探頭更換,耗時(shí)不到一分鐘。

快速獲取結(jié)果

      Dektak Pro采用直驅(qū)掃描平臺(tái)技術(shù),這一先進(jìn)的掃描平臺(tái)技術(shù)大大減少了測(cè)量的時(shí)間而不影響分辨率和噪聲底,從而加快了3D形貌或長(zhǎng)輪廓掃描的結(jié)果獲取速度,同時(shí)保持優(yōu)異的數(shù)據(jù)質(zhì)量和重復(fù)性。

      Vision64®軟件采用64位并行處理技術(shù),即使面對(duì)大數(shù)據(jù)也能實(shí)現(xiàn)快速的數(shù)據(jù)處理。此外,自動(dòng)化的多次掃描分析操作簡(jiǎn)化了重復(fù)性任務(wù),增強(qiáng)了速度和便捷性。


經(jīng)典可靠的臺(tái)階儀 - Dektak XT

布魯克 Dektak系列臺(tái)階儀/探針式輪廓儀

     布魯克 DektakXT 探針式輪廓儀(臺(tái)階儀)采用了革命性的臺(tái)式設(shè)計(jì),結(jié)合成熟的技術(shù)和設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了高性能、高易用性以及高性?xún)r(jià)比的統(tǒng)一,從研發(fā)到質(zhì)量控制方面都有更好的過(guò)程控制。

設(shè)備特點(diǎn):

-    強(qiáng)大性能,臺(tái)階高度重現(xiàn)性低于4?

-    Single-arch(單拱門(mén)式)設(shè)計(jì),提供突破性的掃描穩(wěn)定性

-    升級(jí)的“智能電子器件”,提高測(cè)試精度和穩(wěn)定性

-    優(yōu)化的硬件配置,使數(shù)據(jù)采集時(shí)間縮短40%

-    64-bit、Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件,使數(shù)據(jù)分析速度提高了十倍

-    直觀(guān)的Vision64用戶(hù)操作界面,使用更簡(jiǎn)單

-    針尖自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng),讓用戶(hù)輕松更換針尖探針

-    廣泛的探針型號(hào)

-    單傳感器設(shè)計(jì)

-    確保高通量測(cè)試


探針式輪廓儀系統(tǒng)/臺(tái)階儀系統(tǒng) - Dektak XTL

布魯克 Dektak系列臺(tái)階儀/探針式輪廓儀

      Dektak XTL 探針式輪廓儀系統(tǒng)(臺(tái)階儀系統(tǒng))是為大型晶圓和面板制造等應(yīng)用而設(shè)計(jì)的探針式輪廓儀系統(tǒng),可容納高達(dá) 350mm x 350mm 的樣品,擁有高精度的掃描性能和優(yōu)異的可重復(fù)性和再現(xiàn)性。

      設(shè)備采用空氣振動(dòng)隔離和全封閉工作站設(shè)計(jì),具有易用的聯(lián)鎖門(mén),可用于苛刻的生產(chǎn)環(huán)境中。雙攝像頭架構(gòu),可增強(qiáng)空間感知能力。高自動(dòng)化水平可更大限度地提高測(cè)試通量。

產(chǎn)品特點(diǎn):

-      Dektak系列臺(tái)階儀所具有的強(qiáng)大性能

-      單拱形架構(gòu)、集成振動(dòng)隔離系統(tǒng)和大型聯(lián)鎖門(mén)

-      更大且支持高精度編碼 XY 樣品工作臺(tái)

-      雙攝像頭控制系統(tǒng)

-      方便的分析和數(shù)據(jù)采集

-      N-Lite 低作用力,采用軟觸控技術(shù)

-      可靠的自動(dòng)化設(shè)置和操作

-      增強(qiáng)的分析軟件

-      針尖自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng),讓用戶(hù)輕松更換針尖探針

-      廣泛的探針型號(hào)





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