HCCT-40H MLCC電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)
- 公司名稱 北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
- 品牌 HUACE/北京華測(cè)
- 型號(hào) HCCT-40H
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/12/26 15:31:18
- 訪問次數(shù) 539
電容器溫度特性評(píng)估多通道介電譜測(cè)試系統(tǒng)電化學(xué)遷移評(píng)價(jià)系統(tǒng)容器泄漏測(cè)試系統(tǒng)MLCC電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)
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功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,冶金,電氣,綜合 |
|---|
MLCC電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)
（電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)）
電化學(xué)遷移評(píng)價(jià)系統(tǒng)
電化學(xué)遷移評(píng)估系統(tǒng)可以輕松有效地評(píng)估產(chǎn)品壽命和絕緣電阻，從低壓測(cè)試到高壓測(cè)試都有許多應(yīng)用。
l 評(píng)價(jià)目標(biāo)
l 印刷電路板
l 絕緣材料
l 半導(dǎo)體材料
容器泄漏測(cè)試系統(tǒng)
電容器泄漏測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)評(píng)估高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性。
l 評(píng)價(jià)目標(biāo)
l 電容器
Platinous J 系列恒溫試驗(yàn)箱
作為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)箱的一條線，Platinous系列除了可靠性、性能、可操作性和安全性外，還追求理想的、生態(tài)友好的環(huán)境試驗(yàn)箱的新環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)。
型號(hào) | 溫度范圍 | 內(nèi)部容積L |
PU | －40 ~ ＋100℃ | 120, 225, 408, 800 |
PG | －70 ~ ＋100℃ | 306, 800 |
型號(hào)
范圍 迷你零下Compact 超低溫室
Mini Subzero 支持覆蓋超低溫范圍的較寬溫度范圍（-75℃/－85℃ ) to the high-85℃）至高溫范圍（+ 100℃/+ 180℃）。該滅菌室還提供遠(yuǎn)程監(jiān)測(cè)和操作。
型號(hào) | 溫度范圍 | 內(nèi)部容積L |
MC-712 | －75 ~ ＋100℃ | 64 |
MC-812 | －85 ~ ＋180℃ |
內(nèi)部容積 (L)
特征
該系統(tǒng)可用于評(píng)估特定溫度環(huán)境下電容器和各種材料的靜電容量 (C)、損耗因子 (D) 和阻抗 (Z)。
☆ 最多64個(gè)通道的自動(dòng)測(cè)量
該系統(tǒng)可以測(cè)量不同溫度環(huán)境下的靜電容量 (C)、損耗因子 (D) 和阻抗 (Z) 的多通道。
您可以選擇8個(gè)通道的倍數(shù)，最多64個(gè)通道。
☆ 圖形功能允許實(shí)時(shí)查看測(cè)量結(jié)果
收集的數(shù)據(jù)，包括不同溫度、頻率和時(shí)間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)審查。
☆ 可從不同測(cè)試模式選擇
溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)、恒定運(yùn)行試驗(yàn)和頻率特性試驗(yàn)。
<溫度特性評(píng)估測(cè)試>
在此測(cè)試模式下，自動(dòng)記錄特性數(shù)據(jù)，并與溫度變化同步，最多40步。
<持續(xù)運(yùn)行測(cè)試>
該測(cè)試模式測(cè)量以下參數(shù)的變化特定中隨時(shí)間推移的特征自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)。
<頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)>
該試驗(yàn)?zāi)Ｊ皆谔囟囟拳h(huán)境下改變頻率的同時(shí)，自動(dòng)記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)。測(cè)試可與溫度特性評(píng)價(jià)測(cè)試或恒定運(yùn)行測(cè)試相結(jié)合。
☆ 多種可選夾具 適用于不同的試驗(yàn)樣本（可選）
除了 SMD 組件的專用夾具外，我們還提供了根據(jù)離散設(shè)備形狀定制的夾具。
應(yīng)用程序
l 電容器
l 靜電容量 (C)
l 損失因子 (D)
l 阻抗的溫度特性 (Z)
l 頻率特征
l 電子材料
l 印刷電路板
l 通量
l 絕緣材料（樹脂、薄膜等）
l 介電材料（鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等）
①系統(tǒng)控制器
用于登記系統(tǒng)管理的計(jì)算機(jī)和監(jiān)視器測(cè)試條件，檢查工作 狀態(tài)，并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。
②不間斷電源
系統(tǒng)控制器的備用電源。
③ RS-232C
操作員控制并監(jiān)測(cè)來(lái)自系統(tǒng)控制器的環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)。
④ 掃描裝置
該裝置測(cè)量靜電容量 (C)、損耗因子(D) 和帶有測(cè)量電纜前沿的標(biāo)準(zhǔn)8通道的阻抗 (Z)。
您可以將每臺(tái)器械的通道數(shù)增加到64個(gè)，增量為8個(gè)通道。
⑤ 測(cè)量電纜
由聚四氟乙烯制成的同軸電纜連接到樣品或試驗(yàn)系統(tǒng)內(nèi)部夾具。
⑥ 繼電器單元
該裝置將測(cè)量電纜連接到樣本上或測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部夾具至掃描儀裝置。繼電器單元使連接變得容易。
⑦ 樣品連接夾具（可選）
用于連接 SMD 組件或離散設(shè)備的卡扣式夾具。
⑧ LCR儀表
該儀表測(cè)量靜電容量 (C)、損耗因子 (D)、和阻抗(Z)。
⑨ 絕緣電阻測(cè)試儀（選配）
該測(cè)試人員測(cè)量絕緣電阻。您可以將每臺(tái)器械的通道數(shù)增加到64個(gè)，增量為8個(gè)通道。
⑩RS-485（可選）
從環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)選項(xiàng)菜單，RS-485可將通信選作系統(tǒng)控制器和環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)的通信協(xié)議。
MLCC電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)
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