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Pentagon QIII ST QIII表面微粒子計(jì)數(shù)器 表面潔凈分析儀
- 公司名稱 南通盈沖電子有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) Pentagon QIII ST
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/3/19 18:23:08
- 訪問(wèn)次數(shù) 290
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,電氣 |
|---|
規(guī)格說(shuō)明
粒子量測(cè)范圍：0.1um - 5um
通道：0.1、0.2、0.3、1.0、3.0、5.0um
傳感器：雷射二極管
顯示屏幕：7 英寸 WVGA，觸控屏幕，帶有縮放功能
數(shù)據(jù)輸出：USB 端口、以太網(wǎng)絡(luò)、WiFi (選配)
語(yǔ)言：英文、中文、日文、韓文
尺寸和重量：寬12英寸X 深12英寸X 高9英寸，26.5 磅
輸入電源：100-240 VAC，50/60 赫茲
電池：2顆 鋰電池，可熱插入
美國(guó)Pentagon Technologies ST表面塵埃粒子理化分析儀是當(dāng)今行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量工具及過(guò)程控制表面顆粒污染解決方案專家.
更加有效管控表面粒子在0.1 um范圍成為了至關(guān)重要的產(chǎn)量良率及過(guò)程控制測(cè)量的重要指標(biāo)。
Pentagon Technologies針對(duì)從submicron至deep submicron (0.18, 0.13..) 的Production機(jī)臺(tái), 建立了特別的PM procedure可降低50% Test Wafer的消耗量及增加OEF(Overall Equipment Effectiveness), 其應(yīng)用于各種Thin Film( PVD, CVD..), Etching and Diffusion Equipments. 以及工作臺(tái)面積臺(tái)表面潔凈度等的驗(yàn)證.
Pentagon Technologies 亦針對(duì)Fab整體的contamination可提供詳細(xì)的偵測(cè)及評(píng)估進(jìn)而提高OFE (Overall Fab Effectiveness), 這可提供QA人員非常advanced的幫助。
適合使用單位:
•適合客戶群: 半導(dǎo)體黃光, 蝕刻制程, 零件清洗商,設(shè)備清潔維護(hù), 光電廠, 玻璃基板廠等
•適合單位 : PVD, CVD, Photo, Ion Plant, YE, QA, QC , Microntation , Etch, Diffusion.
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