美德聲推出的ELM-XS-I 是一款堅固耐用的多功能 LIBS 激光成像分析系統(tǒng) 采用激光技術(shù)，可控制和探索當(dāng)今和未來材料的化學(xué)特性；在微觀尺度上探索元素的空間分布。提供一種可視化材質(zhì)的新方法。

ELM-XS-I 高性能激光成像分析系統(tǒng)，專為高精度圖像捕捉和處理設(shè)計，適用于工業(yè)檢測、醫(yī)學(xué)成像、科學(xué)研究等領(lǐng)域。其核心優(yōu)勢在于高分辨率、快速成像和出色的圖像質(zhì)量。

主要特點

• 高分辨率：支持高達(dá)4K或更高的分辨率，確保圖像細(xì)節(jié)清晰。

• 快速成像：高速圖像捕捉，適合動態(tài)場景。

• 低噪聲：優(yōu)良的降噪技術(shù)，提升圖像質(zhì)量。

• 寬動態(tài)范圍：適應(yīng)不同光照條件，確保明暗細(xì)節(jié)。

• 多光譜成像：支持可見光、紅外、紫外等多光譜成像。

• 模塊化設(shè)計：便于集成到不同系統(tǒng)中。

技術(shù)規(guī)格

• 分辨率：3840 x 2160（4K）

• 幀率：60fps（可定制更高幀率）

• 傳感器類型：CMOS/CCD

• 動態(tài)范圍：>120dB

• 光譜范圍：400nm - 1000nm（可擴展）

• 接口：USB 3.0, HDMI, GigE

• 功耗：<10W

• 工作溫度：-10°C 至 50°C

應(yīng)用領(lǐng)域

• 工業(yè)檢測：用于生產(chǎn)線上的缺陷檢測和尺寸測量。

• 醫(yī)學(xué)成像：應(yīng)用于內(nèi)窺鏡、顯微鏡等醫(yī)療設(shè)備。

• 科學(xué)研究：用于天文觀測、生物研究等。

• 安防監(jiān)控：用于高精度監(jiān)控和識別。

軟件支持

• 圖像處理軟件：提供實時處理、分析和存儲功能。

• SDK：支持多種編程語言，便于二次開發(fā)。

• 兼容性：支持Windows、Linux、macOS等操作系統(tǒng)。

產(chǎn)品優(yōu)勢

• 高性能：滿足高精度和高速度需求。

• 靈活性：模塊化設(shè)計適應(yīng)多種應(yīng)用場景。

• 易用性：提供全面的軟件支持和開發(fā)工具。

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• 美德聲推出的ELM-XS-I 高性能激光成像分析系統(tǒng)憑借其高分辨率、快速成像和低噪聲等特性，成為工業(yè)、醫(yī)學(xué)和科研領(lǐng)域的理想選擇。其模塊化設(shè)計和廣泛兼容性，進一步提升了其應(yīng)用價值。

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