簡(jiǎn)介

所謂介電常數(shù)（ε）是指絕緣材料在電場(chǎng)作用下產(chǎn)生極化，電容器極板間有電介質(zhì)存在時(shí)的電容Cx與同樣形狀和尺寸的真空電容量C0之比。損耗角（δ） 是指在交變電場(chǎng)下，電介質(zhì)內(nèi)流過(guò)的電流向量和電壓向量之間的夾角（功率因數(shù)角φ）的余角。損耗角的正切（tanδ）也叫介質(zhì)損耗因數(shù)，是指介質(zhì)損耗角正切值。

硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定試驗(yàn)方法可按照GB/T1693—2007《硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法》進(jìn)行。

測(cè)試電極

1. 電極材料
   

   

2. 電極尺寸

   （1）板狀試樣電極

   1）方法A：板狀試樣電極如圖所示。

   

   板狀試樣電極配置

   1—測(cè)量電極　2—保護(hù)電極　3—試樣　4—高壓電極

板狀試樣電極尺寸（單位：mm）

    2）方法B：采用二電極系統(tǒng)。電極尺寸大小與試樣尺寸相等，或電極小于試樣尺寸。板狀試樣電極直徑為φ38.0mm±0.1mm、φ50.0mm±0.1mm、φ70.0mm±0.1mm。

（2）管狀試樣電極

1）方法A：管狀試樣電極如圖所示。

管狀試樣電極配置（工頻）

1—保護(hù)電極　2—測(cè)量電極　3—高壓電極　4—試樣

2）方法B：管狀試樣電極配置如圖所示。管狀試樣的電極長(zhǎng)度為50.0mm±0.1mm或70.0mm±0.1mm。

管狀試樣電極配置（高頻）1—試樣　2—上電極　3—下電極

電極裝置

在進(jìn)行高頻測(cè)試時(shí)，根據(jù)測(cè)試頻率與測(cè)試要求可用支架電極。當(dāng)頻率大于或等于1MHz且小于10MHz時(shí)，宜用測(cè)微電極；當(dāng)頻率大于或等于10MHz時(shí)，應(yīng)用支架電極。

支架電極

測(cè)微電極

測(cè)試儀器

1.方法A：

1）測(cè)試儀器為工頻高壓電橋，其原理圖如圖所示。

工頻離壓電橋原理圖

T—試驗(yàn)變壓器　Cs—標(biāo)準(zhǔn)電容器　Cx—試樣

R3—可變電阻　C2、C4—可變電容

R4—固定電阻　G—電橋平衡指示器　P—放電器

2） 測(cè)量范圍：損耗角正切（tanδ）為0.001～1；電容（C）為40～2000pF。

3）電橋測(cè)量誤差：測(cè)量時(shí)誤差不超過(guò)10%。當(dāng)試樣tanδ小于0.001時(shí)測(cè)量誤差不超過(guò)0.001，電容的測(cè)量誤差不超過(guò)5%。標(biāo)準(zhǔn)電容器的tanδ應(yīng)小于0.0001。

4）電橋必須有良好的屏蔽接地裝置。

2.方法B：

方法B的測(cè)試儀器有兩種：一種是諧振升高法（Q表），另一種是變電鈉法。

1）諧振升高法（Q表）的原理圖如圖所示。儀器采用硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值測(cè)試儀 LDJD-B。

①測(cè)量范圍：頻率為10kHz～160MHz，電容為30～540pF，Q值為1～1000。

諧振升高法（Q表）原理圖

A—電流表　Rt—耦合電阻　L—輔助線圈　C—標(biāo)準(zhǔn)電容

Cx—試樣　V、V1—電壓表（用Q位表示）

②測(cè)量誤差：硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值測(cè)試儀 LDJD-B 電容誤差為±1%C，Q值±5%；有關(guān)儀器的測(cè)量誤差均為±10%。

2）變電鈉法原理圖如圖所示。

變電鈉法原理圖

C—可調(diào)電容　L—諧振線圈　Cr—管形微調(diào)電容

Cu—主電容　Cx—試樣